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Title:
イオン化方法及びイオン化装置、並びにイメージング分析方法及びイメージング分析装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2018092284
Kind Code:
A1
Abstract:
導電性を有するプローブ１１の先端に試料を付着させ、前記プローブ１１にイオン化電圧を印加して試料２１に電荷を付与してイオン化するイオン化方法を提供する。イオン化方法においては、プローブ１１の表面を均質化する化学的処理を施し、プローブ１１の先端に試料２１を付着させ、プローブ１１にイオン化電圧を印加して試料２１に電荷を付与してイオン化する。プローブ１１の表面を均質化する化学的処理は、プローブ１１にコロナ放電を生じさせること等により行うことができる。

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Inventors:
Kenichi Taniguchi
Takeshi Uchida
Itoi Hiroto
Application Number:
JP2018550977A
Publication Date:
June 24, 2019
Filing Date:
November 18, 2016
Export Citation:
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Assignee:
SHIMADZU CORPORATION
International Classes:
G01N27/62; H01J49/10
Domestic Patent References:
JP2002298776A2002-10-11
JP2008209312A2008-09-11
JP2012199027A2012-10-18
JP2016143482A2016-08-08
Foreign References:
WO2007126141A12007-11-08
WO2011071182A12011-06-16
WO2009157312A12009-12-30
Attorney, Agent or Firm:
Kyoto International Patent Office



 
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