以下、図面を参照しながら本発明の実施の� ��態について説明する。
 〔1〕本発明の一実施形態について
 まず、図1および図2を参照しつつ、本発明� �一実施形態としてのクロックスキュー調整� �置(以下、本クロックスキュー調整装置とい� ��)10の構成について説明する。
 図1に示すように、本クロックスキュー調整 装置10は、本発明の一実施形態としての集積� ��路(例えばLSI)20に接続された設定部11,周波数 観測部12,クロック測定部(測定手段)13,および� ��整部14をそなえるとともに、集積回路20内に そなえられた設定レジスタ21と、集積回路20� �周波数観測端子22とをそなえて構成されてい る。

 さらに、本クロックスキュー調整装置10は� �図2に示すように、集積回路20内のクロック� �配ツリー23内に設けられたマルチプレクサ(� �1選択部)26a~dと、選択回路(第2選択部)27と、� �ロック分配ツリー23以外の接続線(配線パタ� �ン)22a,27a,28a~h,29a~dとをそなえて構成されてい る。
 なお、設定部11,周波数観測部12,クロック測� ��部13,設定レジスタ21,周波数観測端子22,マル� ��プレクサ26a~d,選択回路27,および接続線22a,27a ,28a~h,29a~dが、本発明の一実施形態としてのク ロックスキュー測定装置(以下、本クロック� �キュー測定装置という)10´として機能する。

 また、集積回路20は、設定レジスタ21に接続 された入力端子(Scan-in)21aと、同じく設定レジ スタ21に接続された出力端子(Scan-out)21bとをそ なえており、入力端子21aには設定部11が接続� ��れている。
 まず、集積回路20のクロック分配ツリー23の 構成について詳細に説明すると、図2に示す� �うに、クロック分配ツリー23は、集積回路20� ��の複数のフリップフロップ(図示略;被供給� �子)にクロック信号を分配して供給するもの� ��あり、ここではHツリー型のクロック分配回 路である。

 そして、クロック分配ツリー23は、PLL(Phase  Locked Loop)24a,供給源素子(基点)24b,ドライバ(ク ロックバッファ)25,25-1~25-4,25a~h,マルチプレク� ��26a~d,選択回路27,接続線22a,27a,28a~h,29a~dをそな えて構成されている。
 なお、図2においてドライバの符号25は図の� ��略化のため右上端のドライバにのみ付して� ��るが、図2において符号25を付していない白� ��き三角はすべてドライバ25を示している。� �た、ドライバ25-1~25-4,25a~hは、後述する説明� �特定するために特別に符号を付しているが� �これらドライバ25-1~25-4,25a~hの構成は他のド� �イバ25と同一である。

 PLL24aは、クロック信号を発振するものであ� ��、供給源素子24bは、PLL24aから発振されたク� ��ック信号をフリップフロップに供給する供� ��源である。
 複数のドライバ25,25-1~25-4,25a~h(以下、これら を特に区別しない場合は単にドライバ25とい� ��)は、供給源素子24bから供給されたクロック 信号を後段のフリップフロップ(図示略)に供� ��するものである。

 なお、クロック分配ツリー23においては、� �なくとも末端のドライバ25にはフリップフロ ップが直接接続されている。
 さらに、観測点としてのドライバ25a~hは、� �ロックスキューを測定する組合せ(ここでは� ��ドライバ25aとドライバ25b,ドライバ25cとドラ イバ25d,ドライバ25eとドライバ25f,ドライバ25g� ��ドライバ25h)同士で、クロック分配ツリー23� ��同階層に設けられており、ここではすべて� ��ドライバ25a~hがクロック分配ツリー23の末端 に設けられている。

 また、クロック分配ツリー23は、複数のド� �イン31a~eに分けられるが、ドライバ25a~hの各� ��合せは、異なるドメイン31a~eのドライバ25a~h 同士が対になるように構成されているととも に、これら2つのドライバ25a~hは互いに隣り合 うように設けられている。
 ここで、ドメイン31a~eとは、クロック分配� �リー23においてクロックスキューが設計通り に実現されていると仮定できる一つの集合単 位をいう。

 したがって、例えばドメイン31aのドライバ2 5cとドメイン31bのドライバ25dとのクロックス� ��ューを調整することにより、ドメイン31aの� ��べてのドライバ25と、ドメイン31bのすべて� �ドライバ25とのクロックスキューが調整され たことになる。
 なお、ドライバ25の詳細な構成は後述する� �4を参照しながら調整部14の説明箇所におい� �説明する。

 マルチプレクサ26a~dは、クロックスキュ� �を観測する観測点としてのドライバ25a~hのう ちの2つのドライバ25a~h(ここではドライバ25a~h の出力端)のそれぞれと接続線28a~hを介して接 続され、2つのドライバ25a~hのうちのいずれか 一方を選択して、選択したドライバ25a~hを接� ��線29a~dを介して選択回路27に接続するもので ある。

 具体的には、マルチプレクサ26aは、入力側� ��接続線28aを介してドライバ25aを接続される� ��ともに、接続線28bを介してドライバ25bを接� ��されており、出力側に接続線29aを介して選� ��回路27に接続されている。
 なお、図2において接続線28aと接続線28bとは 長さが異なるように図示されているが、実際 は接続線28aと接続線28bとは同一もしくは略同 一の長さであり、これら接続線28a,bのそれぞ� ��のディレイ(遅延時間;遅延量)が同一もしく� ��略同一になるように構成されている。なお� ��接続線28cと接続線28d,接続線28eと接続線28f,� �続線28gと接続線28hのそれぞれも、長さが同� �もしくは略同一で、ディレイが同一もしく� �略同一になるように構成されている。

 そして、マルチプレクサ26aは、設定レジス� ��21からの指示に基づいて接続線28a,28b(つまり 、ドライバ25a,25b)のいずれか一方を選択して� ��択回路27に接続する。
 マルチプレクサ26aによって接続先28aが選択� ��れ、このとき、選択回路27によってマルチ� �レクサ26aが選択されれば、供給源素子24b,ド� ��イバ25-1,25-2,25a,接続線28a,マルチプレクサ26a, 接続線29a,選択回路27,および接続線27aからな� �リングオシレータ30aが形成される。

 すなわち、マルチプレクサ26aは、2つの観測 点としてのドライバ25a,25bに係る接続線28a,28b� ��接続され、接続された2つの接続線28a,28bの� �ちの一の接続線28a,28bを選択して基点として� ��供給源素子24bに接続しうるものである。
 なお、マルチプレクサ26aによって接続先28b� ��選択され、選択回路27によってマルチプレ� �サ26aが選択されれば、供給源素子24b,ドライ� ��25-3,25-4,25b,接続線28b,マルチプレクサ26b,接続 線29a,選択回路27,および接続線27aからなるリ� �グオシレータ30bが形成される。

 これと同様に、マルチプレクサ26bは、入力� ��に接続線28cを介してドライバ25cを接続され� ��とともに、接続線28dを介してドライバ25dを� ��続されており、出力側に接続線29bを介して� ��択回路27に接続されている。
 つまり、マルチプレクサ26bが接続先28cを選� ��し選択回路27がマルチプレクサ26bを選択す� �ことによって、ドライバ25cを含むリングオ� �レータ30cが形成され、マルチプレクサ26bが� �続先28dを選択し選択回路27が接続先29bを選択 することによってドライバ25dを含むリングオ シレータ30dが形成される。

 また、マルチプレクサ26cは、入力側に接続� ��28eを介してドライバ25eを接続されるととも� ��、接続線28fを介してドライバ25fを接続され� ��おり、出力側に接続線29cを介して選択回路2 7に接続されている。
 つまり、マルチプレクサ26cが接続先28eを選� ��し選択回路27が接続先29cを選択することに� �ってドライバ25eを含むリングオシレータ30e� �形成され、マルチプレクサ26cが接続先28fを� �択し選択回路27が接続先29cを選択することに よってドライバ25fを含むリングオシレータ30f が形成される。

 さらに、マルチプレクサ26dは、入力側に接� ��線28gを介してドライバ25gを接続されるとと� ��に、接続線28hを介してドライバ25hを接続さ� ��ており、出力側に接続線29dを介して選択回� ��27に接続されている。
 つまり、マルチプレクサ26dが接続先28gを選� ��し選択回路27が接続先29dを選択することに� �ってドライバ25gを含むリングオシレータ30g� �形成され、マルチプレクサ26dが接続先28hを� �択し選択回路27が接続先29dを選択することに よってドライバ25hを含むリングオシレータ30h が形成される。

 各リングオシレータ30a~hは、インバータ機� �(極性反転機能)を有する回路(反転回路)を奇� ��段、リング状に接続することにより発振機� ��をもたせた回路である。
 なお、マルチプレクサ26b~dも、マルチプレ� �サ26aと同様に設定レジスタ21からの指示に基 づいて入力側に接続された2つの接続線28c~hの うち一つの接続線28c~hと選択回路27とを接続� �る。

 また、マルチプレクサ26a~dのそれぞれは、� �択回路27よりも対応するドライバ25a~hの近傍� ��配置され、好ましくは対応する2つのドライ バ25a~hのそれぞれに対する距離が同一もしく� ��略同一になるように、対応する2つのドライ バ25a~hの中間もしくは略中間に設けられてい� ��。
 これにより、マルチプレクサ26a~dに対応す� �2つの接続線28a~hのクロックディレイを比較� �容易に且つ確実に同一もしくは略同一にす� �ことができる。

 選択回路27は、マルチプレクサ26a~dと供給源 素子24bとの間に設けられ、入力側に、接続線 24cを介してPLL24aが接続され、接続線29a~dを介� ��てマルチプレクサ26a~dがそれぞれ接続され� �おり、出力側に接続線27aを介して供給源素� �24bが接続されている。
 そして、選択回路27は、設定レジスタ21の指 示に基づいて、入力側に接続された接続線24c ,29a~dのうちの一の接続線24c,29a~dを選択して供 給源素子24bとの接続を有効にする。

 ここでは、集積回路20の通常動作時は、選� �回路27はPLL24aによって発振されたクロック信 号を被供給素子に供給すべく、接続線24cを選 択してPLL24aと供給源素子24bとを接続する。
 一方、クロックスキューの測定時もしくは� ��整時は、選択回路27はマルチプレクサ26a~dの いずれか一つと供給源素子24bとを接続すべく 、接続線29a~dのいずれか一の接続線29a~dを選� �する。

 このように、選択回路27は、互いに異なる� �ライバ25に係る接続線29a~dを接続された複数� ��マルチプレクサ26a~dと供給源素子24bとの間� �設けられ、複数のマルチプレクサ26a~dのうち の一のマルチプレクサ26a~dを選択して被供給� ��子24bと接続する。
 なお、図2に示すように、周波数観測端子22� ��、接続線22aを介して、選択回路27と供給源� �子24bとの接続線27a(すなわち、各マルチプレ� ��サ26a~dと基点としての供給源素子24bとの接� �線29a~d,27a)に接続されている。

 また、設定レジスタ21は、上述したように� �ルチプレクサ26a~dおよび選択回路27の選択制� ��を行なうものであり、マルチプレクサ26a~d� �よび選択回路27のそれぞれに一の接続線を選 択させるための設定値を保持する。
 ここで、本クロックスキュー測定装置10´の クロックスキュー測定概要を、2つのドライ� �25a,25bのクロックスキューを測定する場合を� ��にあげて説明すると、まず、設定部11およ� �設定レジスタ21はドライバ25aと供給源素子24b とを接続してリングオシレータ30aを形成すべ く、マルチプレクサ26aおよび選択回路27を制� ��する。そして、マルチプレクサ26aが接続線2 8aを選択し、選択回路27が接続線29aを選択す� �ことによりリングオシレータ30aが形成され� �このとき、周波数観測端子22から出力される 周波数を周波数観測部12が観測する。

 さらに、設定部11および設定レジスタ21は ドライバ25bと供給源端子24bとを接続してリン グオシレータ30bを形成すべく、マルチプレク サ26aおよび選択回路27を制御する。そして、� ��ルチプレクサ26aが接続線28bを選択し、選択� ��路27が接続線29aを選択することによりリン� �オシレータ30bが形成され、このとき、周波� �観測端子22から出力される周波数を周波数観 測部12が観測する。

 最後に、クロックスキュー測定部13が、周� �数観測端子22によって観測されたリングオシ レータ30aにおける周波数と、リングオシレー タ30bにおける周波数との差を求めることによ り、観測点としてのドライバ25a,25bのクロッ� �スキューとして測定する。
 ここで、リングオシレータは、極性が反転� ��るように構成されており、本クロックスキ� ��ー測定装置10´においては、マルチプレクサ 26a~dのそれぞれが反転回路を有し、これによ� ��、リングオシレータ30a~hの極性が反転する� �うになっている。

 したがって、図3に示すごとく、リングオシ レータ30aが構成されるとき、周波数観測部12� ��周波数観測端子22から所定周期で高レベル� �低レベルとが切り替わる信号を観測するこ� �ができる。
 つまり、ドライバ25aと供給源素子24bとが接� ��されてリングオシレータ30aが形成されると� ��リングオシレータ30a内で高レベルと低レベ� ��とが、自動的に、供給源素子24bからドライ� ��25aへのクロック信号のクロック伝播遅延時� ��(クロックディレイ)に応じた周期で切り替� �る。

 なお、リングオシレータ30bが形成されたと� ��も、リングオシレータ30b内で高レベルと低� ��ベルとの自動的な切り替わりが、供給源素� ��24bからドライバ25bへのクロック信号のクロ� ��ク伝播遅延時間に応じた周期で行なわれる� ��
 したがって、リングオシレータ30aが構成さ� ��るときもリングオシレータ30bが構成される� ��きも、それぞれ、周波数観測部12は、周波� �観測端子22から所定周期で高レベルと低レベ ルとが切り替わる周波数を観測できる。

 なお、リングオシレータ30a,bにおいて、� �続線27a,29aは共用であり、リングオシレータ3 0a,bではドライバ25の段数が同じであるので、 接続線28aのクロックディレイと接続線28bのク ロックディレイとが同一もしくは略同一にな るように構成することにより、周波数観測部 12は、リングオシレータ30aから、供給源素子2 4bからドライバ25aまでのクロックディレイに� ��じた周波数を確実に観測できるとともに、� ��ングオシレータ30bから供給源素子24bからド� ��イバ25bまでのクロックディレイに応じた周� ��数を確実に観測できる。その結果、クロッ� ��スキュー測定部13がリングオシレータ30aに� �ける周波数とリングオシレータ30bにおける� �波数との差を算出することで、供給源素子24 bからドライバ25aまでのクロックディレイと� �給源素子24bからドライバ25bまでのクロック� �ィレイとの差、すなわち、ドライバ25aとド� �イバ25bとのクロックスキューを測定するこ� �ができる。

 換言すると、接続線28aのクロックディレ� ��と接続線28bのクロックディレイとが同一も� ��くは略同一になるように構成されているの� ��、リングオシレータ30a,bにおける周波数の� �に基づいて、共有部分以外の供給源素子24b� �らドライバ25aまでのクロックディレイと供� �源素子24bからドライバ25bまでのクロックデ� �レイとの差であるドライバ25aとドライバ25b� �のクロックスキューをクロックスキュー測� �部13が測定できる。

 なお、これら接続先28a,bと同様に、接続先28 c,d、接続線28e,f、および接続先28g,hのクロッ� �ディレイもそれぞれ同一もしくは略同一に� �るように構成されている。
 また、クロックスキュー測定部13はかかる� �波数の差の逆数を計算することによりクロ� �クスキューを算出する。
 このように、本クロックスキュー測定装置1 0´のクロックスキュー測定部13はクロックス� ��ューを高精度に測定できる。

 次に、図1を参照しながら本クロックスキュ ー調整装置10の各構成要素についてより詳細� ��説明する。
 設定部11は、入力端子21aを介して設定レジ� �タ21にマルチプレクサ26a~dおよび選択回路27� �それぞれに一の接続線を選択させるための� �定値を設定するものである。

 つまり、設定部11および設定レジスタ21は、 リングオシレータを形成させるべく、マルチ プレクサ26a~dおよび選択回路27に所望の接続� �を選択させる選択制御部として機能する。
 なお、設定部11,設定レジスタ21,マルチプレ� ��サ26a~d,および選択回路27が、クロックスキ� �ーの測定時に、少なくとも2つの観測点とし� ��のドライバ25のそれぞれと基点としての被� �給源素子24bとの間を、クロック分配ツリー23 以外の接続線27a,28a~h,29a~dで接続することによ り、少なくとも2つのリングオシレータ30a~h(� �下、これらリングオシレータ30a~hを特に区別 しない場合には、単にリングオシレータ30と� ��う)を形成しうるリングオシレータ形成手段 として機能する。

 周波数観測部12は、周波数観測端子22に接続 され、設定部11および設定レジスタ21によっ� �リングオシレータ30が形成された際に、周波 数観測端子22から出力される周波数を観測す� ��ものである。
 つまり、周波数観測端子22および周波数観� �部12は、リングオシレータ形成手段によって 形成された少なくとも2つのリングオシレー� �30のそれぞれにおける周波数を観測する観測 手段として機能する。

 クロックスキュー測定部13は、周波数観� �部12によって観測された少なくとも2つのリ� �グオシレータ30のそれぞれにおける周波数に 基づいてクロックスキューを測定する測定手 段として機能するものであり、ここでは、周 波数観測部12によって観測された複数のリン� ��オシレータ30における周波数のうち、クロ� �クスキューを測定すべき対応する2つのリン� ��オシレータ30における周波数の差から当該� �ロックスキューを算出する。

 具体的には、クロックスキュー測定部13は� �例えば、リングオシレータ30a,bのそれぞれの 周波数の差の逆数を算出することにより、ド ライバ25aとドライバ25bとのクロックスキュー を算出する。
 また、クロックスキュー測定部13は、リン� �オシレータ30c,dのそれぞれの周波数の差の逆 数を算出することによりドライバ25cとドライ バ25dとのクロックスキューを算出し、リング オシレータ30e,fのそれぞれの周波数の差の逆� ��を算出することによりドライバ25eとドライ� ��25fとのクロックスキューを算出し、リング� ��シレータ30g,hのそれぞれの周波数の差の逆� �を算出することによりドライバ25gとドライ� �25hとのクロックスキューを算出する。

 調整部14は、クロックスキュー測定部13によ って測定されたクロックスキューに基づいて 、被供給素子24bと、少なくとも2つのドライ� �25a~hのうちの一のドライバ25a~hとの間の遅延� ��(ディレイ)を調整する調整手段として機能� �るものであり、かかるクロックスキューが� �め設定された値になるように遅延量を調整� �る。
 具体的には、ドライバ25a~hは図4に示すごと� ��ディレイを調整可能に構成されている。つ� ��り、ドライバ25a~h(なお、ドライバ25,25-1~25-4� ��同様)は、クロック分配ツリー23に接続され� ��入力端(図中“IN”と表記)と、被供給素子に 接続される出力端(図中“OUT”と表記)との間� ��、ゲート数がそれぞれ異なる複数(ここでは 3つ)のライン25X~Zを並列的にそなえ、出力端� �設けられたセレクタ25Hによって、いずれか� �つのライン25X~Zが選択されることにより、選 択されたライン25X~Zに対応する所定量のゲー� ��遅延が施されたクロック信号が被供給端子� ��出力されるように構成されている。

 より具体的には、設定部11によって設定� �ジスタ21に設定された値に応じてセレクタに ライン25X~Zのいずれかを選択するための選択� ��号が入力されると(図中“ディレイ設定”と 表記)、選択されたライン25X~Zに応じたゲート 遅延が施されたクロック信号が出力され、ラ イン25Xが選択された場合はゲート25A,25Bを通� �して所定量遅延されたクロック信号が当該� �ライバ25から出力され、ライン25Yが選択され た場合は、ゲート25A,25C,25Dを通過して所定量� ��延されたクロック信号が当該ドライバ25か� �出力され、ライン25Zが選択された場合は、� �ート25E,25F,25Gを通過して所定量遅延されたク ロック信号が当該ドライバ25から出力される� ��

 したがって、調整部14は、クロックスキュ� �測定部13によって測定されたクロックスキュ ーに応じて、設定部11が設定レジスタ21に設� �する値(つまり、どのライン25X~Zを選択する� �を決定する値)を変更制御することにより、� ��ロックスキューを調整する。
 また、調整部14はクロックスキュー測定部13 にクロックスキューを測定されたドライバ25a ~h毎に、所望のクロックスキューの値を予め� ��モリ(図示略)等に保持しており、クロック� �キュー測定部13によって測定されたクロック スキューが予め設定された値となるように、 上述のごとく遅延量を調整する。

 次に、図5に示すフローチャート(ステッ� �S1~S5)を参照しながら、本クロックスキュー� �整装置10の動作手順の一例について説明する と、まず、設定部11および設定レジスタ21に� �ってマルチプレクサ26a~dの選択および選択回 路27の選択が設定されて(ステップS1)、リング オシレータ30a~hが形成され、このとき周波数� ��測端子22から出力される周波数を周波数観� �部12が観測する(ステップS2)。

 そして、設定部11がすべてのリングオシレ� �タ30a~hの形成、および、それぞれにおける周 波数の観測が終了したか否かを判断する(ス� �ップS3)。
 ここで、設定部11がすべてのリングオシレ� �タ30a~hにおける周波数が観測されたと判断し なければ(ステップS3のNoルート)、上記ステッ プS1の処理に戻る。
 一方、設定部11がすべてのリングオシレー� �30a~hにおける周波数が観測されたと判断する と(ステップS3のYesルート)、クロックスキュ� �測定部13が予め設定されたリングオシレータ 30a~hの対応関係に応じて、対応する2つのリン グオシレータ30a~h(ここでは、リングオシレー タ30aとリングオシレータ30b,リングオシレー� �30cとリングオシレータ30d,リングオシレータ3 0eとリングオシレータ30f,リングオシレータ30g とリングオシレータ30h)における周波数の差� �応じてクロックスキュー(図中“実スキュー� ��と表記)を算出する(ステップS4)。

 そして、調整部14がクロックスキュー測定� �13によって測定されたクロックスキューと、 予め保持している各クロックスキューに対応 する設計スキュー(予め設定された所定値)と� ��基づいて、上述のごとくドライバ25a~hのデ� �レイ設定を行なうことによりディレイ調整� �行ない(ステップS5)、処理を終了する。
 このように、本発明の一実施形態としての� ��ロックスキュー調整装置10(クロックスキュ� ��測定装置10´)によれば、リングオシレータ� �成手段としての設定部11,設定レジスタ21,マ� �チプレクサ26a~d,選択回路27および接続線27a,28 a~h,29a~dによって、少なくとも2つのリングオ� �レータ30が形成され、観測手段としての周波 数観測端子22および周波数観測部12によって� �ングオシレータ30のそれぞれにおける周波数 が観測され、測定手段としてのクロックスキ ュー測定部13によって少なくとも2つのリング オシレータ30のそれぞれに係るドライバ25a~h� �のクロックスキューが測定されるので、ク� �ック分配ツリー23におけるドライバ25a~h間の� ��ロックスキューを高精度に測定することが� ��きる。

 そして、調整部14がクロックスキュー測定� �13によって測定されたクロックスキューに基 づいて、供給源素子24bと2つのドライバ25a~hの うちの少なくとも一のドライバ25a~hとの間の� ��ロックディレイ(遅延量)を調整するので、� �ロックスキューの調整を高精度に行なうこ� �ができる。
 また、調整部14は、かかるクロックスキュ� �が、例えば自身にそなえられたメモリ等に� �め設定された値になるようにクロックディ� �イを調整するので、クロックスキューを所� �の値に確実に調整できる。

 しかも、複数のドライバ25a~hを観測点とし� �設けているので、クロック分配ツリー23の全 体に亘るクロックスキューを測定することが できる。
 また、クロックスキュー測定部13は、周波� �観測部12によって観測されたクロックスキュ ー測定対象の2つのドライバ25a~hの周波数の差 からクロックスキューを測定するので、クロ ックスキューを確実に測定できる。

 なお、リングオシレータ30の極性が反転す� �ように、マルチプレクサ26a~dが反転回路を有 しているので、リングオシレータ30において� ��定周波数の信号が発振され、周波数観測端� ��22から所定の周波数信号が確実に出力され� �。
 さらに、クロックスキューを観測する2つの ドライバ25a~hのそれぞれと対応するマルチプ� ��クサ26a~dとの2つの接続線28a~hにかかるクロ� �クディレイが同一もしくは略同一に構成さ� �ているので、クロックスキュー測定部13がク ロックスキューをより高精度に測定すること ができる。

 また、マルチプレクサ26a~dが対応するドラ� �バ25a~hの近傍に設けられているので、接続線 28a~hの長さを同一に調整することが容易にな� ��とともに、対応する接続線28a~hにかかるク� �ックディレイの調整(つまり、クロックディ� ��イを同一もしくは略同一にすること)が容易 になる。
 なお、クロックスキューを観測する2つのド ライバ25a~hが互いに異なるドメイン31a~eに設� �られているので、調整部14によるディレイ調 整によって、ドメイン31a~e間のクロックスキ� ��ーを所望の値にすることができ、その結果� ��クロック分配ツリー23全体のクロックスキ� �ーを確実に調整することができる。

 また、クロックスキューを観測する2つの ドライバ25a~hがクロック分配ツリー23の末端� �設定され、且つ、互いに隣り合うように設� �られているので、マルチプレクサ26a~hをこれ ら2つのドライバ25a~hの近傍に配置し易くなり 、その結果、対応する接続線28a~h同士のクロ� ��クディレイを容易に同一もしくは略同一に� ��定することができるようになる。

 なお、クロックスキューの観測点として� ��被供給素子に接続されたドライバ25a~hが設� �される、特にドライバ25a~hの出力端が観測点 として設定されるので、クロックスキュー測 定部13は、被供給素子のクロックスキューを� ��精度に測定することができる。

 〔2〕その他
 なお、本発明は上述した実施形態に限定さ� ��るものではなく、本発明の趣旨を逸脱しな� ��範囲で種々変形して実施することができる� ��

 例えば、上述した実施形態では、4つのク ロックスキューを観測すべくドライバ25a~hを� ��測点として設定したが、観測点として設定� ��るドライバ25の数、さらには対応する接続� �やマルチプレクサの数は限定されるもので� �なく、本発明は少なくとも一つのクロック� �キューを測定すべく、少なくとも2つの観測� ��をそなえて構成されていればよい。

 なお、観測点としてのドライバ25a,bを2つ� ��みそなえて構成する場合は、図6に示すごと く、選択回路27をそなえず、PLL24aが接続線24c� ��介して供給源端子24bに直接接続し、マルチ� ��レクサ26aを接続線29aを介して供給源端子24b� ��直接接続し、さらに、周波数観測端子22の� �続線22aを接続線29aに接続するように構成し� �もよい。

 そして、クロックスキュー測定時はPLL24a� ��クロック信号の発振を停止するように制御� ��る。このとき、マルチプレクサ26aは、接続� ��28a,bの一方を選択することで対応するドラ� �バ25a,bを基点としての供給源端子24bに直接接 続し、設定部11および設定レジスタ21は、リ� �グオシレータ30aを形成させるべく、マルチ� �レクサ26aに2つの接続線28a,bのうちの一の接� �線28a,bを選択させて供給源素子24bに接続させ る選択制御部として機能する。

 また、4つ以上のクロックスキューを観測す べく、ドライバ25a~h以外にも観測点,マルチプ レクサ,接続線を設けてもよく、これにより� �クロック分配ツリー23のクロックスキューの 調整をより高精度に実行することができる。
 なお、上述した実施形態では、調整部14が� �ライバ25a~hのディレイを調整する場合を例に あげて説明したが、本発明はこれに限定され るものではなく、例えばリングオシレータ30a のクロックディレイを調整するにあたり、ド ライバ25-1,25-2等のディレイを調整してもよい 。

 さらに、本発明においてドライバ25の構成� �図4に示すものに限定されるものではなく、� ��々変更することができる。
 また、上述した実施形態では、ドライバ25� �すべてがディレイ調整可能に構成されてい� �例をあげて説明したが、本発明はこれに限� �されるものではなく、リングオシレータ30を 構成するドライバ25のうちの少なくとも一つ� ��ドライバ25がディレイ調整可能に構成され� �いればよい。

 なお、上述した実施形態では、クロック� ��配ツリー23がHツリー型のクロック分配回路� ��ある例をあげて説明したが、本発明はこれ� ��限定されるものではなく、クロック分配ツ� ��ー23は被供給素子にクロックを分配して供� �する回路であればよい。