以下、図面を参照してこの発明の実施例� ��説明する。図1は、X線CT装置の概略図および ブロック図であり、図2は、測定減弱量も併� �て図示した算出減弱量と透過長との相関関� �を概略的に示したグラフであり、図3は、フ� ��ルタ長を想定して算出減弱量を算出調整し� ��上でフィルタ長を算出して決定するときの� ��明に供するグラフであり、図4は、減弱値と 算出減弱量/測定減弱量の比との相関関係を� �略的に示したグラフである。

 本実施例に係るX線CT装置は、X線を照射す るX線管1と、X線管1から照射されて被検体Mな� ��を透過したX線を検出するX線検出器2と、X線 検出器2で検出されたX線の検出信号に基づい� ��各種の演算処理を行う演算処理部3とを備え ている。X線管1とX線検出器2とは図示を省略� �るガントリによって被検体Mの周りを回転す� ��ように構成されている。通常のCTデータ収� �での被検体Mは、人体であるが、校正データ� ��集時には、アクリル板などのファントムが� ��いられる。

 X線検出器2は、X線管1から照射されてコリ メータ4や被検体Mや検出器緩衝材5などを透過 して検出面に入射されたX線を電荷信号に変� �し、さらに電荷信号を電気信号(検出信号)に 変換してその値を測定することでX線を検出� �る。X線管1に照射されたX線管1の直下の検出� ��号値(透過前の検出信号値)と、X線検出器2に よって測定された検出信号値(透過後の検出� �号値)とに基づいて、透過前および透過後のX 線の検出信号比である減弱量を測定すること が可能である。X線検出器2は、この発明にお� ��る減弱物理量測定手段に相当する。

 演算処理部3は、中央演算処理装置(CPU)な� ��で構成されている。演算処理部3は、校正デ ータ収集時において断層撮影(CTデータ収集)� �必要とする透過物質の透過長を減弱物理量(� ��実施例では減弱量)に変換する透過長・減弱 物理量変換関数31を備えているとともに、こ� ��透過長・減弱物理量変換関数31は、フィル� �長算出部32と減弱量算出調整部33と減弱補正� ��数算出部34とを備えている。この他に、演� �処理部3は、CTデータ収集時において透過長� �出部35と再構成処理部36とを備えている。

 減弱量算出調整部33は、所定の値のフィル� �長さ(本実施例では後述するフィルタ長K _imaginary )を想定することで、算出された減弱物理量(� ��実施例では減弱量)である算出減弱物理量(� �実施例では算出減弱量)を算出調整する。フ� ��ルタ長算出部32は、上述したX線検出器2で測 定された減弱物理量(本実施例では減弱量)で� ��る透過長での測定物理減弱量(本実施例では 測定減弱量)と、上述した減弱量算出調整部33 で算出調整されたその透過長での算出減弱量 とが一致するフィルタ長K _imaginary を算出して決定することで、算出減弱物理量 (本実施例では算出減弱量)を最終的に算出調� ��する。減弱補正関数算出部34は、X線検出器2 で測定された少なくとも2つの透過長での測� �減弱量と、これら透過長での最終的に算出� �整された算出減弱量との比(本実施例では算� ��減弱量/測定減弱量の比rate)に基づいて、減� ��量を補正するための補正関数(本実施例では 後述する減弱補正関数f(Ln))を算出する。

 透過長算出部35は、上述した減弱補正関数� �出部34で算出された減弱補正関数f(Ln)によっ� ��補正された減弱量に基づいて、X線CT装置に� ��る断層撮影(CTデータ収集)で必要とする透過 物質の透過長を、透過長・減弱物理量変換関 数31(本実施例では後述する減弱算出関数Att(K _phantom ))の逆関数によって算出する。再構成処理部3 6は、その透過長算出部35によって算出された 透過長に基づいて再構成処理を行って断層画 像(図1では再構成画像)を取得する。

 フィルタ長算出部32は、この発明におけ� �フィルタ長算出手段に相当し、減弱量算出� �整部33は、この発明における減弱物理量算出 調整手段に相当し、減弱補正関数算出部34は� ��この発明における補正関数算出手段に相当� ��、透過長算出部35は、この発明における透� �長算出手段に相当する。演算処理部3内の各� ��成の具体的な機能については後述する。

 X線管1で発生したX線は、上述したように多� ��X線で、その検出信号エネルギー分布は、エ ネルギーeの関数として、X(e)で表される。X線 管1でX線が発生してから、被検体Mまでに届く までの間(例えばコリメータ4内部のフィルタ� ��ど)のX線の減弱は、X線が透過する複数の材� ��(線減弱係数μ _prei (e)、ただしi=1,2,3,…)およびその透過長K _prei (ただしi=1,2,3,…)を用いて、下記(1)式で表さ� �る。なお、線減弱係数μ _prei (e)は材質に応じた既知の値であり、透過長K _prei もコリメータ4内部のフィルタの長さによっ� �既知である。

 同様に、被検体Mを透過してからX線検出器2� ��届くまでの間(例えば検出器緩衝材5)のX線の 減弱は、X線が透過する複数の材質(線減弱係� ��μ _posti (e)、ただしi=1,2,3,…)およびその透過長K _posti (ただしi=1,2,3,…)を用いて、下記(2)式で表さ� �る。なお、線減弱係数μ _posti (e)は材質に応じた既知の値であり、透過長K _posti も検出器緩衝材5の長さによって既知である� �

 そして、X線検出器2におけるX線から検出信� ��への変換は、検出器の材質(線エネルギー吸 収係数μ _det (e))およびその厚みK _det を用いて、e・[1-exp{-μ _det (e)・K _det }]で表される。この線エネルギー吸収係数μ _det (e)も材質に応じた既知の値であり、厚みK _det もX線検出器2の厚みによって既知である。

 以上より、被検体Mがない場合には、上記 (1)式および(2)式を用いて、検出信号エネルギ ー分布Signal(e)は、下記(3)式で表される。

 上記(3)式において、X線検出器2におけるX線� ��ら検出信号への変換として、e・[1-exp{-μ _det (e)・K _det }]の代わりに、検出器の材質の線減弱係数μ� � _det (e)を用いて、e・[1-exp{-μ’ _det (e)・K _det }]・μ _det (e) / μ’ _det (e)で算出してもよい。この線減弱係数μ’ _det (e)も材質に応じた既知の値である。

 もし、検出信号エネルギー分布Signal(e)を正� ��に求めることができたならば、被検体Mの材 質(線減弱係数μ _phantom (e))およびその透過長K _phantom におけるX線の減弱は、exp[-{μ _phantom (e)・K _phantom }]で表される。なお、線減弱係数μ _phantom (e)は材質に応じた既知の値である。そのとき の検出信号の減弱量P/P ₀ は、下記(4)式中のAtt(K _phantom )関数(以下、「減弱算出関数」と呼ぶ)によっ て、正確に算出可能である。

 ところが、X線検出器2によって減弱量P/P ₀ を測定すると、X線が透過する材質で考慮さ� �ていない材質も存在するので、図2に示すよ� ��に、測定減弱量(図2中の黒丸を参照)と上記( 4)式で求められた算出減弱量P/P ₀ (=減弱算出関数Att(K _phantom ))(図2中の実線)とは一致しない。

 そこで、考慮されていない材質(線減弱係数 μ _imaginary (e))を一種類新たに想定し、その長さK _imaginary を透過したものとして、検出信号エネルギー 分布Signal(e)を変更する。具体的には、例えば アルミニウム(Al)や銅(Cu)などの材質から、い� ��れか一種類の材質を任意に適宜に想定する� ��とにより、その想定された材質の線減弱係� ��μ _imaginary (e)を想定する。あるいは、現実には存在しな い仮想の材質の線減弱係数μ _imaginary (e)を定義することで想定してもよい。線減弱 係数μ _imaginary (e)は想定された材質に応じた既知の値である 。下記(5)式で、右辺のSignal(e)は上記(3)式で算 出されたエネルギー分布、左辺のSignal(e)は新 しく変更されたエネルギー分布を示す。すな わち、上記(3)式で算出されたエネルギー分布 Signal(e)を下記(5)式の右辺に代入するとともに 、想定された線減弱係数μ _imaginary (e)およびフィルタ長K _imaginary を下記(5)式の右辺に代入して、左辺のSignal(e) を求めることで、検出信号エネルギー分布Sig nal(e)を変更する。

 演算処理部3の減弱量算出調整部33は、上記( 5)式にしたがって任意の値のフィルタ長K _imaginary を想定することで、検出信号エネルギー分布 Signal(e)を上記(5)式中の左辺に変更する。そし て、変更された検出信号エネルギー分布Signal (e)を用いて上記(4)式から被検体Mの透過長K _phantom に対する減弱算出関数Att(K _phantom )を算出することで、減弱量算出調整部33は算 出減弱量を算出調整する。具体的には、図3� �示すように、X線検出器2で測定されたある透 過長K ₁ での減弱量(測定減弱量)(図3中の白の三角を� �照)と、その透過長K ₁ での算出減弱量Att(K ₁ )(図3中の実線上の黒丸を参照)とが一致する� �うに、フィルタ長K _imaginary を設定変更する。フィルタ長K _imaginary を設定変更することで、上記(5)式により検出 信号エネルギー分布Signal(e)も変更され、それ に伴って上記(5)式および(4)式により算出減弱 量Att(K ₁ )も算出調整され、算出調整された算出減弱� �Att(K ₁ )が図3中の矢印に示す方向に測定減弱量に近� ��いて一致する(図3中の二点鎖線上の黒丸を� �照)。この一致したときのフィルタ長K _imaginary を演算処理部3のフィルタ長算出部32が算出し て決定する。

 このように、上述した透過長での測定減弱� ��とその透過長での算出減弱量とが一致する� ��ィルタ長K _imaginary を算出することで、減弱量算出調整部33は、� ��過長K _phantom に対する減弱算出関数Att(K _phantom )を図3中の実線のグラフから図3中の二点鎖線 のグラフに最終的に算出調整する。この最終 的な算出調整によって、上述した透過長K ₁ では測定減弱量と(算出調整された)算出減弱� ��Att(K ₁ )とが一致していることから測定値および算� �値での減弱量間ではズレが発生しない。

 このようにフィルタ長K _imaginary を算出することで、透過長K _phantom に対する減弱算出関数Att(K _phantom )を減弱量算出調整部33が最終的に算出調整す れば、上述した透過長K ₁ では測定値および算出値での減弱量間ではズ レが発生しない。しかし、減弱算出関数Att(K _phantom )を最終的に算出調整しても、実際に測定値� �比較してみると、透過長K ₁ 以外の他の透過長では測定値および算出値で の減弱量間ではズレが条件によっては発生す る。図4に示すように、減弱値を変えたとき� �違いを算出減弱量/測定減弱量の比で表すと� ��上述した透過長K ₁ での算出減弱量Att(K ₁ )は測定減弱量に一致するように最終的に算� �調整されているので、透過長K ₁ での算出減弱量Att(K ₁ )の自然対数値[-ln{ Att(K ₁ )}](すなわち透過長K ₁ での算出減弱値)では、算出減弱量/測定減弱� ��の比は“1”で違いはない。しかし、減弱値 が透過長K ₁ での算出減弱値から離れる量に比例してズレ が発生し、全体として一次関数で変化するの が図4のグラフからわかる。

 そこで、この算出減弱量/測定減弱量の比 rateを示す減弱補正関数を算出減弱値Lnの関数 f(Ln)で表すこととする。X線検出器2で測定さ� �た少なくとも2つの透過長での測定減弱量と� ��これら透過長での最終的に算出調整された� ��出減弱量との比、すなわち算出減弱量/測定 減弱量の比を、算出減弱値Lnごとにそれぞれ� ��応させて、(Ln1,rate1),(Ln2,rate2),…とする。

 本実施例では、X線検出器2で2つの透過長K ₁ ,K ₂ で減弱量を測定しており、そのうちの透過長 K ₁ での測定減弱量は、上述したフィルタ長算出 部32によってフィルタ長K _imaginary を算出して決定する際に用いられているもの として説明する。すなわち、本実施例では、 2つの透過長K ₁ ,K ₂ での測定減弱量は、後述する演算処理部3の� �弱補正関数算出部34によって減弱補正関数f(L n)を算出する際に用いられるとともに、その� ��ちの透過長K ₁ での測定減弱量は、フィルタ長算出部32がフ� ��ルタ長K _imaginary を算出して決定する際に用いられている。

 演算処理部3の減弱補正関数算出部34は、X線 検出器2で測定された2つの透過長K ₁ ,K ₂ での測定減弱量と、これら透過長K ₁ ,K ₂ での最終的に算出調整された算出減弱量Att(K ₁ ),Att(K ₂ )との比(すなわち算出減弱量/測定減弱量の比 )を、算出減弱値Lnごとにそれぞれ対応させて 、(Ln1,rate1),(Ln2,rate2)とする。つまり、本実施� ��では、透過長K ₁ での算出減弱量Att(K ₁ )/測定減弱量の比はrate1であり、上述したよ� �に透過長K ₁ での算出減弱量Att(K ₁ )は測定減弱量に一致するように算出調整さ� �ているので、透過長K ₁ での算出減弱量Att(K ₁ )/測定減弱量の比rate1は“1”となる。なお、� ��過長K ₁ での算出減弱値はLn1であり、透過長K ₁ での算出減弱値Ln1は上述したように“-ln{ Att (K ₁ )}”で表される。また、透過長K ₂ での算出減弱量Att(K ₂ )/測定減弱量の比はrate2であり、透過長K ₂ での算出減弱値Ln2は“-ln{ Att(K ₂ )}”で表される。

 上述したように、透過長K ₁ での算出減弱値Ln1(=-ln{ Att(K ₁ )})から離れると減弱補正関数f(Ln)は一次関数� ��表される。すなわち、透過長K ₁ ,K ₂ での(Ln1,rate1),(Ln2,rate2)を互いに結ぶ一次式で� ��弱補正関数f(Ln)を表す。そして、算出減弱� �が“0”では、算出減弱量/測定減弱量の比を “1”に戻すために、減弱補正関数f(Ln)を下記 (6)式で表すことができる。なお、τは算出減� ��値が“0”では、算出減弱量/測定減弱量の� �を“1”に戻すための適切な時定数である。� ��0”付近の減弱値に対応する減弱量を測定し て、その測定された減弱量を用いて、この時 定数τを決定してもよい。

 上記(6)式中の指数関数の項は、算出減弱値� ��“0”では、算出減弱量/測定減弱量の比を� �1”に戻すために、算出減弱値が“0”から透 過長K ₁ での算出減弱値Ln1までは、図4に示すように� �ーブを描けるように設けられている。すな� �ち、算出減弱値が“0”から透過長K ₁ での算出減弱値Ln1までは、減弱値が小さいの で指数関数の項が効いて図4に示すようにカ� �ブを描く。その結果、算出減弱値が“0”で� ��、Ln=0を上記(6)式に代入することで減弱補正 関数f(Ln)=1となって、算出減弱量/測定減弱量� ��比を“1”に戻すことができる。一方、透過 長K ₁ での算出減弱値Ln1を超えると減弱値が大きく なる結果、指数関数の項をほぼ無視すること ができて、減弱補正関数f(Ln)は一次関数で表� ��れる。

 減弱補正関数算出部34が上記(6)式によって� �弱補正関数f(Ln)を算出すると、この減弱補正 関数f(Ln)を用いて減弱量を補正する。すなわ� ��、減弱量算出調整部33で最終的に算出調整� �れた減弱算出関数Att(K _phantom )を、上記(6)式で求められた減弱補正関数f(Ln) (=f[-ln{Att(K _phantom )}])で除算することで、透過長K _phantom に対する減弱算出関数Att(K _phantom )、すなわち各々の透過長K _phantom ごとの減弱量を補正して、他の透過長でもズ レが発生することなく、減弱量を正確に算出 することができる。図4中の実線は減弱補正� �数f(Ln)であり、図4中の実線上の白の菱形は� �レであり、図4中の黒の方形は補正後のズレ� ��ある。図4からも明らかなように、補正後の ズレは、減弱値が変化しても算出減弱量/測� �減弱量の比として“1”上にほぼ乗っており� ��ズレが解消されたとわかる。

 この補正された減弱量は、校正データ収集� ��に被検体Mとして用いられているファントム (例えばアクリル板)の材質(線減弱係数μ _phantom (e))およびその透過長K _phantom による値である。そこで、X線CT装置による断 層撮影(すなわちCTデータ収集時)で必要とす� �透過物質である水の透過長を求めるために� �フィルタ長K _imaginary として同じ値を用いた上記(4)式で、ファント ム材質のμ _phantom の代わりに、水の線減弱係数を用い、かつ、 上記(6)式で除算した結果により、水の透過長 K _phantom に対する補正された減弱物理量を算出するこ とができる(図1では透過長・減弱物理量変換� ��数31に相当)。なお、線減弱係数は上述した� ��うに透過物質に応じた既知の値である。

 断層撮影(CTデータ収集)で必要とする水の 他の透過長においても、透過長・減弱物理量 変換関数31により減弱物理量に変換すること� ��できる。そこで、逆に、透過長・減弱物理� ��変換関数31の逆関数によって、減弱物理量� �ら水の透過長を算出する。

 各々の透過長に対応づけられた減弱物理量� ��ら、減弱物理量を入力として、透過長を出� ��とする、透過長・減弱物理量変換関数31の� �関数を求めるための、ルックアップテーブ� �を作成する。正確に算出された減弱量を用� �て透過長K _phantom を求めているので、透過長K _phantom を正確に算出することができる。

 演算処理部9の透過長算出部35が物理減弱量� ��らルックアップテーブルを用いて、水の透� ��長K _phantom を求める。

 以上の説明から明らかなように、減弱量や� ��弱値は、この発明における減弱物理量に相� ��し、フィルタ長K _imaginary は、この発明におけるフィルタ長さに相当し 、減弱補正関数f(Ln)は、この発明における補� ��関数に相当し、減弱算出関数Att(K _phantom )を減弱補正関数f(Ln)により除算した結果は、 この発明における透過長・減弱物理量変換関 数に相当する。

 次に、本実施例に係る断層撮影を含む一� ��の処理について、図5、図6を参照して説明� �る。図5は、実施例に係る断層撮影(CTデータ� ��集)の処理を示すフローチャートであり、図 6は、実施例に係る断層撮影を含む一連の処� �のうち、校正データ収集の処理を示すフロ� �チャートである。

 (ステップT1)透過長の算出
 断層撮影(CTデータ収集)で必要とする透過物 質の透過長を透過長算出部35は算出する。そ� ��ために、下記のステップS1~S6の校正データ� �収集する。

 (ステップS1)検出信号エネルギー分布の算出
 X線検出器2の感度特性、X線スペクトルなど� ��ら、上記(3)式を用いて検出信号エネルギー� ��布Signal(e)を算出する。この検出信号エネル� ��ー分布Signal(e)は、予め求められるパラメー� ��であるので、検出信号エネルギー分布Signal( e)を予め求めておけば、ステップS1をその都� �行わなくてもよい。

 (ステップS2)減弱量の測定
 被検体Mとしてファントム(アクリル板など)� ��用いて、校正データ収集のためのファント� ��撮影を行う。具体的には、透過長をそれぞ� ��変えてX線検出器2によって減弱量を測定す� �。その測定された減弱量を測定減弱量とし� �、X線検出器2で測定された少なくとも2つの� �過長での測定減弱量を取得する。本実施例� �は、上述したように2つの透過長K ₁ ,K ₂ での測定減弱量を取得する。

 (ステップS3)フィルタ長の算出
 考慮されていない材質を想定し、その材質� ��フィルタを適切なフィルタ長K _imaginary で透過させたと考えることで、減弱量算出調 整部33は上記(5)式を用いてステップS1での検� �信号エネルギー分布Signal(e)を変更する。変� �された検出信号エネルギー分布Signal(e)を用� �て上記(4)式から減弱算出関数Att(K _phantom )を算出することで、減弱量算出調整部33は算 出減弱量を算出調整する。そして、ステップ S2でX線検出器2で測定された透過長K ₁ での測定減弱量と、その透過長K ₁ での算出減弱量Att(K ₁ )とが一致するフィルタ長K _imaginary をフィルタ長算出部32が算出する。

 (ステップS4)減弱算出関数の算出調整
 このように、ステップS3でフィルタ長K _imaginary を算出することで、減弱算出関数Att(K _phantom )を減弱量算出調整部33が最終的に算出調整す る。

 (ステップS5)減弱補正関数の算出
 減弱補正関数算出部34は、ステップS2でX線� �出器2で測定された2つの透過長K ₁ ,K ₂ での測定減弱量と、これら透過長K ₁ ,K ₂ での最終的に算出調整(ステップS4)後の算出� �弱量Att(K ₁ ),Att(K ₂ )との比に基づいて、上記(6)式を用いて減弱� �正関数f(Ln)を算出する。

 (ステップS6)逆関数情報の算出
断層撮影で必要とする透過物質である水の線 減弱係数を上記(4)式に代入して、水の透過長 に対する減弱量を算出調整し、ステップS6で� ��出された減弱補正関数f(Ln)を用いてその減� �量を補正して、補正された減弱量を算出す� �。その透過物質の他の透過長でも同様の手� �で、補正された減弱量を算出する。補正さ� �た減弱量と各々の透過長K _phantom とを対応づけて、逆関数を求めるためのルッ クアップテーブル(すなわち逆関数情報)をCT� �像(すなわちX線CT装置による断層撮影)に先駆 けて作成しておく。一度作成しておけば、毎 回、CT撮像の前に行う必要はない。

 (ステップT1)透過長の算出
 ステップS6で作成されたルックアップテー� �ルを用いて、減弱量あるいは減弱値から透� �長を求める。

 (ステップT2)再構成処理
 そして、この透過長に基づいて再構成処理� ��36は逆問題を解いて再構成処理を行い透過� �質の分布を求めることで、断層画像(再構成� ��像)を取得する。

 ステップT1で正確に算出された透過長に� �づいて断層画像を取得することで、ビーム� �ードニング補正がなされ、カッピングの影� �を受けることなく断層画像の均一性を保つ� �とができる。また、上述した特許文献1のよ� ��に繰り返し法を用いずにビームハードニン� ��補正を行うことができる。また、近似関数� ��用いて透過長を求める従来の手法と比べ、X 線検出器2による測定回数で済み、データの� �集の手間が減り、負担が軽くなるという効� �をも奏する。

 本実施例では、上述したように、X線検出器 2で測定された2つの透過長K ₁ ,K ₂ での測定減弱量と、これら透過長でK ₁ ,K ₂ での算出調整された算出減弱量Att(K ₁ ),Att(K ₂ )との比を2つの透過長K ₁ ,K ₂ 間で(Ln1,rate1),(Ln2,rate2)として互いに結ぶ一次� ��で、減弱補正関数f(Ln)を一次関数で近似し� �表すことで、減弱補正関数算出部34は減弱補 正関数f(Ln)を算出している。この場合、一次� ��に代入するだけで減弱補正関数f(Ln)を簡易� �算出することができる。

 本実施例では、上述したように、X線検出器 2で測定された少なくとも2つの透過長K ₁ ,K ₂ ,…での測定減弱量のうち、1つの透過長K ₁ での測定減弱量を、フィルタ長算出部32およ� ��減弱補正関数算出部34で兼用している。こ� �場合、1つの透過長K ₁ での測定減弱量を兼用した分だけ、X線検出� �2での測定を一回減らすことができる。

 この発明は、上記実施形態に限られるこ� ��はなく、下記のように変形実施することが� ��きる。

 (1)上述した実施例では、減弱物理量測定� ��段(実施例ではX線検出器2)や減弱物理量算出 調整手段(実施例では減弱量算出調整部33)に� �る処理の対象である減弱物理量は、透過前� �よび透過後のX線の検出信号比で表された減� ��量であったが、減弱量の自然対数値である� ��弱値に例示されるように、減弱に関するパ� ��メータであれば、減弱物理量については特� ��限定されないし、減弱物理量測定手段や減� ��物理量算出調整手段による処理の対象であ� ��減弱物理量についても特に限定されない。

 (2)上述した実施例では、X線検出器2で測定� �れた2つの透過長K ₁ ,K ₂ での測定減弱物理量(実施例では測定減弱量)� ��用いて補正関数(実施例では減弱補正関数)� �算出したが、少なくとも2つの透過長での測� ��減弱物理量を用いれば、例えば3つ以上の透 過長での測定減弱物理量を用いて補正関数を 算出してもよく、用いられる測定減弱物理量 の数は複数であれば特に限定されない。

 (3)上述した実施例では、X線検出器2で測定� �れた2つの透過長K ₁ ,K ₂ での(Ln1,rate1),(Ln2,rate2)を互いに結ぶ一次式で� ��補正関数(実施例では減弱補正関数)を一次� �数で近似して表すことで、補正関数を算出� �たが、これに限定されない。例えば、X線検� ��器2で測定された少なくとも2つの透過長(例� ��ば3つの透過長K ₁ ,K ₂ ,K ₃ )での(Ln1,rate1),(Ln2,rate2),(Ln2,rate3)を用いて最小 自乗法によって補正関数を求めることで、補 正関数を算出してもよい。この場合、補正関 数をより正確に求めることができる。

 (4)上述した実施例では、X線検出器2で測定� �れた少なくとも2つの透過長K ₁ ,K ₂ ,…での測定減弱量のうち、1つの透過長K ₁ での測定減弱量を、フィルタ長算出部32およ� ��減弱補正関数算出部34で兼用したが、必ず� �も兼用しなくてもよい。ただ、例えば、透� �長K ₁ での測定減弱量をフィルタ長算出部32が用い� ��、2つの透過長K ₂ ,K ₃ での測定減弱量を減弱補正関数算出部34が用� ��て、透過長での測定減弱量を兼用しない場� ��、最終的に取得される断層画像では、減弱� ��正関数算出部34で用いられる透過長K ₂ ,K ₃ での測定減弱量の影響は大きいが、フィルタ 長算出部32で用いられる透過長K ₁ での測定減弱量の影響がほとんどなくなるの で、実施例のように兼用するのがより好まし い。

 (5)上述した実施例では、断層撮影装置はX 線CT装置であったが、この発明は、C型アーム によって断層撮影を行う装置に適用してもよ い。このように、この発明が適用される断層 撮影装置については特に限定されない。