Title:
質量分析装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2017085876
Kind Code:
A1
Abstract:
質量分析装置１０は、サンプルプレート８が挿入される挿入口１と、挿入口１から挿入されるサンプルプレート８に光が入射するように配置された光照射部６１と、サンプルプレートから８の反射光あるいは透過光を受光してサンプルプレート８に付された識別子８０を読み取る受光部６２と、を備える読み取り装置６と、サンプルプレート８に載せられているサンプル９の質量分析を行って、当該サンプル９の分析情報を取得する分析部１０１と、読み取り装置６が読み取った識別子８０によって示されるサンプルプレート８の識別情報８００と、分析部１０１が取得した当該サンプルプレート８に載せられているサンプル９の分析情報１００とを、対応付けて記憶する記憶部５１と、を備える。
Inventors:
Matsushita Tomoyoshi
Application Number:
JP2017551500A
Publication Date:
September 06, 2018
Filing Date:
November 20, 2015
Export Citation:
Assignee:
SHIMADZU CORPORATION
International Classes:
G01N27/62
Domestic Patent References:
| JP2009052994A | 2009-03-12 | |||
| JP2013190315A | 2013-09-26 |
Foreign References:
| US20030057368A1 | 2003-03-27 | |||
| WO2012070111A1 | 2012-05-31 |
Attorney, Agent or Firm:
Kyoto International Patent Office