Title:
防汚性評価方法、防汚性評価装置、及び化粧料のスクリーニング方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024014742
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】化粧料の防汚性を、より高精度で評価できる方法を提供する。【解決手段】防汚性評価方法が、プローブを化粧料に接触させた後、前記化粧料から離すように持ち上げ、前記プローブの持ち上げの際に前記プローブと前記化粧料との間で作用する力を測定し、前記力に基づき、前記化粧料の防汚性を評価することを含む。【選択図】図１
Inventors:
▲高▼橋 洋平
Tokunobu Yoshikawa
Keiko Muta
Yukiko Kitagawa
Katsuyuki Hasegawa
Ryoya Ito
Tokunobu Yoshikawa
Keiko Muta
Yukiko Kitagawa
Katsuyuki Hasegawa
Ryoya Ito
Application Number:
JP2023100068A
Publication Date:
February 01, 2024
Filing Date:
June 19, 2023
Export Citation:
Assignee:
Shiseido Co., Ltd.
International Classes:
G01Q60/28; G01N13/00; G01N33/15; G01N33/32
Attorney, Agent or Firm:
Tadashige Ito
Tadahiko Ito
Tadahiko Ito
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