Title:
幾何学形状および収差補正のための位相アレイ較正
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2021505291
Kind Code:
A
Abstract:
複数のトランスデューサ要素を有する超音波トランスデューサの幾何学形状を較正するための種々のアプローチは、全て(または少なくともいくつか)のトランスデューサ要素から集束帯に伝送される超音波の複数のビーム経路によって横断される面積に及ぶ音響反射物を提供することと、トランスデューサ要素に、超音波を集束帯に伝送させることと、音響反射物からの超音波の反射を測定することと、少なくとも部分的に、測定された反射に基づいて、トランスデューサ要素と関連付けられる最適な幾何学的パラメータを判定することとを含む。
Inventors:
Puruth, Oleg
Levi, Joafu
Levi, Joafu
Application Number:
JP2020531577A
Publication Date:
February 18, 2021
Filing Date:
October 31, 2018
Export Citation:
Assignee:
Insitec Limited
International Classes:
A61B17/00; A61N7/02
Domestic Patent References:
JP2015526206A | 2015-09-10 | |||
JP2003517328A | 2003-05-27 |
Foreign References:
US20140269209A1 | 2014-09-18 |
Attorney, Agent or Firm:
Hidesaku Yamamoto
Natsuki Morishita
Takatoshi Iida
Daisuke Ishikawa
Kensaku Yamamoto
Natsuki Morishita
Takatoshi Iida
Daisuke Ishikawa
Kensaku Yamamoto