TITRE : dispositif de chargement mécanique in situ en laminographie

Domaine technique

La présente invention se rapporte au domaine des essais mécaniques et cible plus précisément des essais mécaniques réalisés sur des pièces de tailles macroscopiques préalablement usinées et prêtes à l'utilisation. La présente invention concerne un dispositif pour réaliser des essais de traction et/ou de fissuration et/ou de compression et/ou de flexion sur de tels échantillons.

La présente invention vise à analyser les modifications structurales d'un échantillon en imageant, à l'échelle nanométrique et sous chargement mécanique, i.e. in situ. L'imagerie vise à renseigner quant à la microstructure de l'échantillon étudié en termes de mécanismes de déformation, d'endommagement et de rupture. L'invention concerne en particulier un dispositif de chargement mécanique in situ en nanolaminographie pour l'amorçage et la propagation d'une fissure sous chargement monotone.

Etat de la technique antérieure

On connaît dans l'état de la technique antérieure des supports pour l'imagerie ne permettant pas de réaliser des essais mécaniques concomitamment à l'étape d'imagerie consistant à analyser la microstructure de l'échantillon. En pratique, les supports de l'état de l'art nécessitent de procéder aux essais mécaniques préalablement à l'imagerie de l'échantillon. Les supports de l'état de la technique ne permettent pas non plus de réaliser des caractérisations structurales de volumes d'échantillon à l'échelle nanométrique. Les supports de l'état de l'art visent à imager de larges volumes d'échantillons. Enfin, les supports de l'état de la technique ne permettent pas d'analyser des échantillons dont la taille est de l'ordre ou supérieure à la dizaine de centimètre in situ et avec une résolution nanométrique.

Un but de l'invention est notamment de :

- imager un échantillon afin de caractériser la microstructure initiale et son évolution sous chargement mécanique de ce dernier lorsqu'il est soumis simultanément à des essais mécaniques, et/ou - réaliser des caractérisations structurales, par imagerie, d'un volume d'échantillon nanométrique, et/ou

- mesurer des cinétiques et/ou cinématiques d'endommagement d'un échantillon en imageant l'échantillon qui est simultanément soumis à des chargements mécaniques, et/ou

- mesurer la cinématique et/ou déterminer des cinétiques d'endommagement d'un échantillon en imageant l'échantillon qui est simultanément soumis à des chargements mécaniques, et/ou

- réaliser des caractérisations, par imagerie, d'un échantillon dont la taille est de l'ordre ou supérieure à quelques centimètres,

- de proposer un support pour une telle imagerie et/ou mesure et/ou caractérisation.

Présentation de l'invention

A cet effet, il est proposé un support pour essais mécaniques compre nant une cavité. La cavité comprend :

• une première zone, agencée pour accueillir une première portion d'un échantillon complémentaire de la première zone de la cavité, ladite première zone comprenant des moyens de maintien de l'échantillon,

• une deuxième zone agencée pour accueillir une deuxième portion de l'échantillon. Les première et deuxième zones de la cavité sont contiguës et agencées pour accueillir les première et deuxième portions d'un échantillon d'un seul tenant.

- un moyen, dit de chargement mécanique, comprenant un élément de trans fert agencé pour être mis en mouvement dans la deuxième zone de la cavité de sorte à :

• exercer une force mécanique dans ladite deuxième zone de la cavité, et/ou

• lorsqu'un échantillon est placé dans la cavité, exercer une force mé canique sur la deuxième portion de l'échantillon générant des contraintes et déformations dans une région donnée de l'échantillon.

De préférence, le support selon l'invention vise à être disposé sur le trajet d'un faisceau de rayons X. Ce faisceau de rayons X provient d'une source de rayons X qui, selon le cas, peut être celle d'un dispositif d'imagerie, par exemple un laminographe, ou peut être issue d'une ligne de lumière d'un synchrotron. En particulier, le support selon l'invention peut être utilisé au sein de dispositifs d'imagerie par rayons X pour analyser des modifications de la microstructure d'un échantillon en imageant, à l'échelle nanométrique et sous chargement mécanique, i.e. in situ. Il est entendu par in situ, le fait que l'imagerie soit faite lorsque l'échantillon soit chargé mécaniquement. Ainsi, l'échantillon peut ne pas être manipulé durant le processus d'analyse, c'est- à-dire que l'échantillon peut ne pas être retiré du support et que le support peut ne pas être déplacé. Les première et deuxième zones de la cavité peu vent présenter des formes différentes l'une de l'autre.

Le support selon l'invention est, de préférence, un support pour essais mécaniques in situ en laminographie.

La cavité peut être comprise entre deux faces planes du support sépa rées d'une distance constituant une épaisseur de la cavité, ladite cavité pré sentant une forme de fente s'étendant selon un plan.

De préférence, la cavité est au moins en partie comprise entre les deux faces planes du support, lesdites deux faces planes du support étant séparées d'une distance constituant une épaisseur de la cavité, ladite cavité présentant une forme de fente s'étendant selon un plan. L'épaisseur de la cavité peut varier le long du plan selon lequel s'étend la fente.

L'élément de transfert peut être agencé pour exercer une force selon une direction s'étendant depuis la première vers la deuxième zone de la ca vité.

De préférence, l'élément de transfert est mis en mouvement unique ment dans la deuxième zone de la cavité.

Le moyen de chargement mécanique peut être agencé pour convertir un mouvement de rotation en un mouvement de translation, de préférence selon une direction s'étendant depuis la première vers la deuxième zone de la cavité.

La deuxième zone de la cavité peut comprendre une partie formant levier, dite partie de levier, agencée pour que l'élément de transfert exerce une force dans ladite partie de levier de la deuxième zone de la cavité. La deuxième zone de la cavité peut comprendre un guide agencé pour contraindre l'élément de transfert à se déplacer le long dudit guide selon un mouvement de translation dans le plan dans lequel s'étend la cavité.

Selon l'invention, le guide peut être défini comme faisant partie de la cavité. Selon l'invention, l'épaisseur de la cavité peut être définie comme étant la distance séparant les deux faces planes du support.

Selon l'invention, l'épaisseur de la cavité peut être définie comme n'étant pas la distance séparant des parois du guide entre lesquelles s'étend la cavité.

Les moyens de maintien peuvent être agencés pour immobiliser la pre mière portion de l'échantillon dans le support, de préférence dans la cavité, de préférence encore dans la première zone de la cavité.

Les moyens de maintien peuvent être agencés pour enchâsser ou en serrer, lorsqu'un échantillon est placé dans la cavité, la première portion de l'échantillon de sorte à immobiliser la première portion de l'échantillon dans la première zone de la cavité.

Les moyens de maintien peuvent comprendre un logement, agencé pour recevoir une partie saillante de la première portion de l'échantillon, com plémentaire du logement.

La première zone de la cavité peut comprendre un épaulement qui est contigu au logement de la cavité et qui s'étend depuis la première zone vers la deuxième zone de la cavité.

La première zone de la cavité peut comprendre une paroi, dite de main tien, située en regard de l'épaulement.

Le support peut comprendre :

- une paroi de la première zone de la cavité s'étendant depuis le logement de la première zone de la cavité jusqu'à la paroi de maintien,

- une ouverture s'étendant depuis l'épaulement jusqu'à la paroi de maintien et reliant les première et deuxième zones de la cavité. Le logement de la première zone de la cavité peut comprendre :

- une première paroi latérale s'étendant selon une direction reliant le loge ment à la paroi de maintien,

- une deuxième paroi latérale située en regard de la première paroi latérale du support,

- une paroi de fond du logement de la première zone reliant les première et deuxième parois latérales du logement du support ;

la paroi de fond du logement de la première zone et les première et deuxième parois latérales du logement du support étant agencées de sorte à présenter une forme en U.

La partie de levier peut être en saillie par rapport à un plan comprenant la paroi de fond du logement de la première zone de la cavité selon une di rection reliant la paroi de maintien au logement.

Le support peut comprendre au moins un raidisseur agencé pour aug menter une résistance du support au flambement, ledit au moins un raidis seur s'étendant le long :

- d'une bordure du support située au niveau de la première paroi latérale, et

- d'une bordure du support située au niveau de la paroi de maintien.

Le moyen de chargement mécanique peut comprendre une vis agencée pour être vissée dans le support, et l'élément de transfert peut être agencé pour coopérer avec une tête de la vis de sorte à, lorsqu'un échantillon est placé dans la cavité, transférer la force exercée lors de la rotation de la vis depuis la tête de la vis vers la deuxième portion de l'échantillon.

La vis peut être agencée pour se déplacer, en étant mise en rotation, en longeant une bordure de la première zone de la cavité.

Selon l'invention, les zones ou parties ou volumes du support, tels que par exemple la cavité, les zones de la cavité, le logement de la cavité, la fente, le guide, la partie formant le levier, sont des volumes d'espaces formés par des parois qui les délimitent. Ces volumes d'espaces, en particulier ceux du support, tels que définis selon l'invention, peuvent être définis comme comprenant les parois qui les délimitent.

Selon l'invention, un volume d'espace, qui est délimité par des parois, par exemple un volume d'espace du support, en particulier de la cavité, tel que par exemple le logement ou les moyens de maintien, peut constituer un moyen de maintien dès lors que sa forme est complémentaire de la forme d'une partie de l'échantillon qui est destinée à être introduite ou placée ou disposée ou positionnée dans le volume d'espace en question.

Selon l'invention, il peut être entendu par « complémentaire », au sens qu'une partie d'un premier objet est dite complémentaire d'une partie d'un second objet, le fait que l'agencement, par exemple la forme et/ou le volume, de la partie du premier objet est spécialement conçu pour recevoir la partie du second objet qui est complémentaire. Selon l'invention, « complémen taire » ne signifie pas seulement que la partie du premier objet est apte à recevoir la partie du second objet. Ceci est le cas, en particulier, pour :

- le logement des moyens de maintien qui est de préférence complémentaire de la partie saillante de la première portion de l'échantillon, et

- la première zone de la cavité qui est complémentaire de la première portion de l'échantillon.

L'invention concerne aussi :

- une utilisation du support selon l'invention comme support d'échantillon pour laminographe, en particulier pour nanolaminographe, et/ou

- une utilisation du support selon l'invention en laminographie, en particulier en nanolaminographe.

De préférence, le support selon l'invention est un support pour essais mécaniques et/ou pour chargements mécaniques in situ en laminographie, de préférence en nanolaminographie. Selon l'invention, il est également proposé un ensemble comprenant le support selon l'invention et un échantillon dans la cavité du support, l'en semble comprenant un concentrateur de contraintes et de déformations mé nagé dans l'échantillon de sorte à positionner la région donnée de l'échantillon dans laquelle sont générées les contraintes et déformations. Selon l'invention, il est également proposé un dispositif d'imagerie par rayons X comprenant :

- un support pour essai mécanique selon l'invention,

- une source de rayons X,

- au moins un détecteur agencé pour détecter des rayons X transmis et/ou diffractés et/ou diffusés à travers la région donnée de l'échantillon dans la quelle sont générées les contraintes et déformations.

Selon l'invention, il est également proposé un dispositif d'imagerie par rayon X comprenant :

- un ensemble selon l'invention,

- une source de rayons X,

- au moins un détecteur agencé pour détecter des rayons X transmis et/ou diffractés et/ou diffusés à travers la région donnée de l'échantillon dans la quelle sont générées les contraintes et déformations.

Selon l'invention, il est également proposé un procédé d'analyse par rayons X d'un échantillon comprenant une étape consistant à fournir un support pour essais mécaniques selon l'invention dans un dispositif d'imagerie par rayons X.

Le procédé d'analyse par rayons X d'un échantillon peut comprendre une étape consistant à réaliser, au moyen du dispositif d'imagerie par rayons X des mesures sur l'échantillon. De préférence, le dispositif d'imagerie par rayons X est un dispositif d'analyse par laminographie. De préférence, les mesures réalisées sur l'échantillon consistent à imager un volume de l'échantillon.

Le procédé d'analyse par rayons X d'un échantillon peut comprendre une étape consistant à appliquer une charge mécanique, au moyen du support pour essais mécaniques selon l'invention, à l'échantillon. L'étape d'application de la charge mécanique peut être réalisée concomitamment ou subséquemment à l'étape consistant à réaliser des mesures par rayons X sur l'échantillon. De préférence, l'étape d'application de la charge mécanique est réalisée sans retirer, ni déplacer, l'échantillon :

- du dispositif d'imagerie par rayons X, et/ou - du trajet d'un faisceau de rayons X émis par la source de rayons X, la source de rayons X pouvant être une source de rayons X du dispositif d'imagerie.

Selon l'invention, il est également proposé un procédé pour l'analyse par rayons X d'un échantillon sous chargements mécaniques comprenant l'étape consistant à :

- ménager une cavité dans un support de l'échantillon comprenant :

• une première zone, agencée pour accueillir une première portion de l'échantillon complémentaire de la première zone de la cavité, ladite première zone comprenant des moyens de maintien de l'échantillon,

• une deuxième zone agencée pour accueillir une deuxième portion de l'échantillon, lesdites première et deuxième zones de la cavité étant contiguës et agencées pour accueillir les première et deuxième portions de l'échantillon d'un seul tenant.

Le procédé selon l'invention comprend également l'étape consistant à exercer une force mécanique générant des contraintes et déformations dans une ré gion donnée de l'échantillon par l'intermédiaire d'un moyen, dit de charge ment mécanique, comprenant un élément de transfert agencé pour être mis en mouvement dans la deuxième zone de la cavité.

De préférence, le procédé pour l'analyse par rayons X d'un échantillon sous chargements mécaniques selon l'invention est un procédé pour l'analyse par rayons X en laminographie d'un échantillon sous chargements mécaniques in situ.

L'étape consistant à exercer une force mécanique générant des con traintes et déformations dans la région donnée de l'échantillon peut consister à, lorsqu'un échantillon est placé dans la cavité du support de l'échantillon, exercer une force mécanique sur la deuxième portion de l'échantillon.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir deux faces planes au support entre lesquelles est comprise la cavité, lesdites deux faces planes du support étant séparées d'une distance constituant une épaisseur de la cavité, ladite cavité présentant une forme de fente s'étendant selon un plan.

Le procédé peut comprendre de préférence une étape consistant à fournir deux faces planes au support entre lesquelles est comprise au moins en partie la cavité, lesdites deux faces planes du support étant séparées d'une distance constituant une épaisseur de la cavité, ladite cavité présentant une forme de fente s'étendant selon un plan.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à exercer une force, au moyen de l'élément de transfert, selon une direction s'étendant depuis la première vers la deuxième zone de la cavité.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à convertir, via le moyen de chargement mécanique, un mouvement de rotation en un mouve ment de translation selon la direction s'étendant depuis la première vers la deuxième zone de la cavité.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir une partie formant levier, dite partie de levier, à la deuxième zone de la cavité de sorte que l'élément de transfert exerce une force dans ladite partie de levier de la deuxième zone de la cavité.

La partie de levier peut être en saillie par rapport à un plan comprenant la paroi de fond du logement de la première zone de la cavité selon une di rection reliant la paroi de maintien au logement.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir un guide à la cavité de sorte à contraindre l'élément de transfert à se déplacer le long dudit guide selon un mouvement de translation dans le plan dans lequel s'étend la cavité.

Lorsqu'un échantillon est placé dans la cavité, le procédé peut com prendre une étape consistant à immobiliser la première portion de l'échantil lon dans la première zone de la cavité.

Lorsqu'un échantillon est placé dans la cavité, le procédé peut com prendre une étape consistant à enchâsser ou enserrer, dans les moyens de maintien, la première portion de l'échantillon de sorte à immobiliser la pre mière portion de l'échantillon dans la première zone de la cavité. Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir un loge ment aux moyens de maintien du support de sorte à enchâsser ou enserrer la première portion de l'échantillon dans les moyens de maintien du support de sorte à immobiliser la première portion de l'échantillon dans la première zone de la cavité.

Une partie saillante de la première portion de l'échantillon peut être complémentaire du logement.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir un épaule- ment à la première zone de la cavité, l'épaulement étant contigu au logement de la cavité et s'étendant depuis la première zone vers la deuxième zone de la cavité.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir une paroi, dite de maintien, à la première zone de la cavité, ladite paroi de maintien étant située en regard de l'épaulement.

La paroi de maintien peut s'étendre depuis le logement de la première zone de la cavité jusqu'à la paroi de maintien.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir une ouver ture au support, ladite ouverture s'étendant depuis l'épaulement jusqu'à la paroi de maintien et reliant les première et deuxième zones de la cavité.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir :

- une première paroi latérale au logement de la première zone de la cavité, ladite paroi latérale s'étendant selon une direction reliant le logement à la paroi de maintien,

- une deuxième paroi latérale au logement de la première zone de la cavité, ladite deuxième paroi latérale étant située en regard de la première paroi latérale du support,

- une paroi de fond du logement de la première zone de la cavité, ladite paroi de fond du logement reliant les première et deuxième parois latérales du logement du support ;

la paroi de fond du logement de la première zone et les première et deuxième parois latérales du logement du support présentant une forme en U. Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir au moins un raidisseur au support de sorte à augmenter une résistance du support au flambement, ledit au moins un raidisseur s'étendant le long :

- d'une bordure du support située au niveau de la première paroi latérale, et

- d'une bordure du support située au niveau de la paroi de maintien.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir une vis au moyen de chargement mécanique, ladite vis étant vissée dans le support de sorte que l'élément de transfert coopère avec une tête de la vis de sorte à, lorsqu'un échantillon est placé dans la cavité, transférer la force exercée lors de la rotation de la vis depuis la tête de la vis vers la deuxième portion de l'échantillon.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à exercer, via la vis, une force selon une direction s'étendant le long de la première zone de la cavité.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à ménager un concentrateur de contraintes et de déformations dans l'échantillon de sorte à positionner la région donnée de l'échantillon dans laquelle sont générées les contraintes et déformations.

Le procédé peut comprendre :

- une étape consistant à fournir une source de rayons X,

- une étape de détection de rayons X, par au moins un détecteur de rayons X, transmis et/ou diffractés et/ou diffusés à travers la région donnée de l'échantillon dans laquelle sont générées les contraintes et déformations.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir un support pour essai mécanique selon l'invention.

Le procédé peut comprendre une étape consistant à fournir un en semble selon l'invention. Description des figures

D'autres avantages et particularités de l'invention apparaîtront à la lecture de la description détaillée de mises en œuvre et de modes de réalisation nullement limitatifs, et des dessins annexés suivants :

[Fig. 1] la figure 1 est une vue en coupe d'une des deux parties dissociables du support selon l'invention,

[Fig. 2] la figure 2 est une vue éclatée en biais de l'ensemble selon l'invention, [Fig. 3] la figure 3 est une vue en biais de l'ensemble selon l'invention,

[Fig. 4] les figures 4a et 4b illustrent respectivement une vue en coupe de la vis selon l'invention et une vue de biais de la vis selon l'invention,

[Fig. 5] les figures 5a, 5b et 5c illustrent respectivement une coupe d'une vue de côté de l'élément de transfert selon l'invention, une coupe d'une vue de dessus de l'élément de transfert selon l'invention et une vue de biais de l'élément de transfert selon l'invention.

Description des modes de réalisation

Les modes de réalisation décrits ci-après étant nullement limitatifs, on pourra notamment considérer des variantes de l'invention ne comprenant qu'une sélection de caractéristiques décrites, isolées des autres caractéristiques décrites (même si cette sélection est isolée au sein d'une phrase comprenant ces autres caractéristiques), si cette sélection de caractéristiques est suffisante pour conférer un avantage technique ou pour différencier l'invention par rapport à l'état de la technique antérieure. Cette sélection comprend au moins une caractéristique, de préférence fonctionnelle sans détails structurels, ou avec seulement une partie des détails structurels si cette partie uniquement est suffisante pour conférer un avantage technique ou pour différencier l'invention par rapport à l'état de la technique antérieure.

En référence aux FIGURES 1 à 5, il est décrit, dans un premier mode de réalisation, un support pour essais mécaniques comprenant une cavité 10. La cavité 10 comprend une première zone 101 agencée pour accueillir une première portion 31 d'un échantillon 3 complémentaire de la première zone 101 de la cavité 10. La première zone 101 comprend des moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 de l'échantillon 3. Les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 présentent une géométrie complémentaire de la première portion 31 de l'échantillon 3. Le support comprend une deuxième zone 102 agencée pour accueillir une deuxième portion 32 de l'échantillon 3. Les première 101 et deuxième 102 zones de la cavité 10 sont contiguës et agencées pour ac cueillir les première 31 et deuxième 32 portions de l'échantillon 3 qui est d'un seul tenant. Le support comprend un moyen de chargement mécanique 1, 2 comprenant un élément de transfert 2 agencé pour être mis en mouvement dans la deuxième zone 102 de la cavité 10 de sorte à exercer une force mé canique dans ladite deuxième zone 102 de la cavité 10. L'élément de transfert 2 exerce une force selon une direction s'étendant depuis la première 101 zone de la cavité 10 vers la deuxième 102 zone de la cavité 10. Lorsque l'échan tillon 3 est placé dans la cavité 10, l'élément de transfert 2 exerce une force selon une direction s'étendant depuis la première portion 31 vers la deuxième portion 32 de l'échantillon 3. La force mécanique exercée par le moyen de chargement mécanique 1, 2 est supérieure à cent Newtons. En pratique la force exercée est de l'ordre de 500N. Lorsque l'échantillon 3 est placé dans la cavité 10, l'élément de transfert 2 exerce une force mécanique sur la deu xième portion 32 de l'échantillon 3 générant des contraintes et déformations dans une région donnée 24 de l'échantillon 3. Selon le mode de réalisation, comme cela est clairement illustré sur les Figures 1 à 3, l'élément de transfert 2 est agencé pour être mis en mouvement uniquement dans la deuxième zone 102 de la cavité 10.

En pratique le support est agencé pour réaliser des essais de traction et/ou de fissuration et/ou de compression et/ou de flexion sur l'échantillon 3. Ainsi le support selon l'invention permet, lorsqu'un échantillon 3 est inséré dans le support, d'imager, au cours d'essais mécaniques, les modifications de structurales de l'échantillon 3 engendrées par les contraintes mécaniques auxquels l'échantillon 3 est soumis.

Les modifications structurales sont donc suivies in situ. En outre, il est éga lement possible de réaliser des analyses cinématiques et/ou de déterminer des cinétiques d'endommagement de l'échantillon 3.

Le fait que les contraintes et déformations soient générées dans une région donnée 24 permet d'imager un volume restreint de l'échantillon 3 et par conséquent de caractériser les modifications microstructurales de l'échan tillon 3 dans ce volume restreint.

La localisation des contraintes et déformations dans une région donnée 24 permet également de reproduire en conditions réelles, c'est-à-dire sur des échantillons usinés et préparés pour être utilisés dans l'application pour la quelle ils sont destinés, les contraintes auxquelles l'échantillon 3 va être sou mis en condition d'utilisation. Dès lors, le support présente une taille permet tant d'accueillir des échantillons 3 dont les dimensions dans le plan dans le quel s'étend la cavité 10 sont de l'ordre ou supérieure à la dizaine de centi mètres.

Le support selon l'invention vise à être disposé sur le trajet d'un fais ceau de rayons X. Ce faisceau de rayons X provient d'une source de rayons X qui, selon le cas, peut être celle d'un dispositif d'imagerie, par exemple un laminographe, ou peut être issue d'une ligne de lumière d'un synchrotron.

Selon le premier mode de réalisation, le support comprend deux parties dissociables 28, 29. Chacune des parties dissociables 28, 29 comprend une des deux faces planes 26 du support. Une partie 29 parmi les des deux parties dissociables 28, 29 du support comprend un bloc 30 s'étendant au-delà du plan de la cavité 10 du côté de l'autre partie dissociable 28. Les deux parties dissociables 28, 29 sont agencées pour être dissociées de sorte à permettre le chargement de l'échantillon 3 dans le support.

Les deux surfaces planes 26 du support sont agencées pour empêcher le flambement de l'échantillon 3.

Une partie, dite partie enserrée, de la cavité 10 est constituée des pre mière et deuxième zones 101, 102 de la cavité 10 à l'exception du logement 14 de la première zone 101. La partie enserrée de la cavité 10 du support est comprise entre deux faces planes 26 du support séparées d'une distance constituant, ce qui est défini selon l'invention comme, l'épaisseur 27 de la cavité 10. La cavité 10 présente une forme de fente 10 s'étendant selon un plan. L'échantillon 3 présente une forme de plaque complémentaire de celle de la partie enserrée de la cavité 10. Dans la suite de la description des modes de réalisation, il est entendu par l'épaisseur de la fente 10 ou de la cavité 10, l'épaisseur de la partie de la fente 10 constituant la partie enserrée de la cavité 10. La fente 10 présente une épaisseur 27 légèrement supérieure à celle de l'échantillon 3 de telle sorte que l'échantillon 3 rentre facilement dans la fente et qu'il est empêché de flamber. Un jeu mécanique compris entre 0,1 et 3%, de préférence entre 0,5 et 2%, de préférence encore entre 1 et 2%, de l'épaisseur de la fente 10 est prévue entre la fente 10 et l'échantillon 3. Le ratio entre la dimension de l'échantillon 3 dans le plan selon lequel s'étend la cavité 10 et l'épaisseur de l'échantillon 3 est supérieur ou égale à un facteur 10. A titre d'exemple non limitatif, l'épaisseur 27 de la cavité 10 est inférieure à 1 mm, elle est égale à 700 pm selon le mode de réalisation. Il est requis que l'épaisseur de l'échantillon 3, et par conséquent l'épaisseur de la cavité 10, soit suffisamment petite, typiquement inférieure à 2 mm, de préférence inférieure à 1 mm, pour que les mesures en (nano)laminographie puissent être réalisées sur de nombreux matériaux. Une cavité dont l'épaisseur serait supérieure à 2 mm ne conviendrait pas et ne permettrait pas de réaliser des mesures en (nano)laminographie pour tout type de matériau. L'épaisseur 27 de la cavité 10 est agencée pour être supérieure de quelques micromètres, de préférence de l'ordre de 10 micromètres, à celle de l'échantillon 3. La dimension de l'échantillon 3 dans le plan selon lequel s'étend la cavité 10 est de l'ordre de quelques centimètres à quelques dizaines de centimètres. L'échantillon 3 présente une taille macroscopique et son épaisseur est infé rieure aux dimensions de l'échantillon 3 dans le plan selon lequel s'étend la cavité 10. De préférence, l'épaisseur de l'échantillon 3 est inférieure d'au moins un facteur dix aux dimensions de l'échantillon 3 dans le plan selon lequel s'étend la cavité 10.

La faible épaisseur 27 de la cavité 10 selon l'invention contribue à at teindre l'objectif consistant à imager un volume de l'ordre la centaine de na nomètres cube de l'échantillon 3 et par conséquent de caractériser les modi fications microstructurales de l'échantillon 3, dans ce de l'ordre la centaine de nanomètres cube, engendrées par les contraintes mécaniques auxquels l'échantillon 3 est soumis.

La cavité 10 selon l'invention, ainsi que les caractéristiques indivi duelles qui y sont rattachées, contribuent également à atteindre l'objectif consistant à reproduire en conditions réelles les contraintes auxquelles l'échantillon 3 va être soumis en condition d'utilisation et d'imager des échan tillons 3 dont les dimensions dans le plan dans lequel s'étend la cavité 10 sont de l'ordre ou supérieure à la dizaine de centimètres. Selon l'invention, la cavité 10 comprend la partie enserrée et la partie de levier 13 de la deuxième zone 102 de la cavité 10. La partie enserrée de la cavité 10 comprend la première zone 101 de la cavité 10 et une partie, dite partie enserrée, de la deuxième zone 102 de la cavité 10.

Selon l'invention, l'épaisseur de la cavité 10 est définie comme étant l'épaisseur de la partie enserrée.

La deuxième zone comprend également une partie, dite partie non en serrée, comprenant, de préférence est constituée, de la partie de levier 13 de la deuxième zone 102 de la cavité 10. La partie enserrée de la deuxième zone 102 de la cavité 10 comprend donc, de préférence est constituée de, la deuxième zone 102 de la cavité 10 à l'exception de la partie de levier 13 de la deuxième zone 102 de la cavité 10.

L'épaisseur de la partie non enserrée de la cavité 10, c'est-à-dire la partie de levier 13, est supérieure à l'épaisseur de la partie enserrée, c'est- à-dire à l'épaisseur de la cavité 10.

La deuxième zone 102 de la cavité 3 comprend une partie 13 formant levier, dite partie de levier 13, agencée pour que l'élément de transfert 2 exerce une force dans ladite partie de levier 13 de la deuxième zone 102 de la cavité 10. La deuxième portion 32 de l'échantillon 3 comprend un bras de levier 33 complémentaire de la partie de levier 13 de la deuxième zone 102. Lorsque l'échantillon 3 est placé dans la cavité 10, l'élément de transfert 2 exerce une force sur le bras de levier 33 de la deuxième portion 32 de l'échan tillon 3.

La partie de levier 13, ainsi que le bras de levier 33, selon l'invention, contribuent à atteindre l'objectif consistant à imager en continu et en temps réel, les modifications structurales de l'échantillon 3 engendrées par les con traintes mécaniques auxquelles l'échantillon 3 est soumis. Les modifications structurales sont donc suivies in situ. En outre, il est également possible de réaliser des analyses cinématiques et/ou de suivre des cinétiques d'endom magement de l'échantillon 3.

Les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 du support compren nent un logement 14, agencé pour recevoir une partie saillante 15 de la pre mière portion 31 de l'échantillon 3 qui est complémentaire du logement 14. Le logement 14 est agencé pour recevoir la partie saillante 15 de la première portion 31 de l'échantillon 3. Lorsque l'échantillon 3 est placé dans la cavité 10, les parois définissant le contour de la partie saillante 15 de la première portion 31 de l'échantillon 3 sont portées au contact des parois définissant le contour du logement 14 de la première zone 101 de la cavité 10.

Les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 sont agencés pour immobiliser la première portion 31 l'échantillon 3 dans le support. Les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 sont agencés pour enchâsser ou enserrer, lorsqu'un échantillon 3 est placé dans la cavité 10, la première portion 31 de l'échantillon 3 de sorte à immobiliser la première portion 31 de l'échantillon 3 dans la première zone 101 de la cavité 10. Plus précisément, les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 sont agencés pour immobiliser la première portion 31 de l'échantillon 3 dans la première zone 101 de la cavité 10 du support.

Les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 selon l'invention, ainsi que l'ensemble des caractéristiques techniques individuelles qui y sont ratta chées, contribuent à atteindre l'objectif consistant à imager in situ, les modi fications (nano)structurales de l'échantillon 3 engendrées par les contraintes mécaniques auxquels l'échantillon 3 est soumis. Les modifications (nano)structurales sont donc suivies in situ, i.e. sous charge mécanique. En outre, il est également possible de déterminer la cinématique et/ou des ciné tiques d'endommagement de l'échantillon 3.

En référence à la Figure 1, les parois définissant le contour de la deu- xième zone 102 de la cavité 10 sont agencées pour ne pas enchâsser ni en serrer l'échantillon 3. Lorsqu'un échantillon 3 est placé dans la cavité 10, une paroi de la deuxième zone 102 de la cavité 10 située en regard de la première zone 101 de la cavité 10 est agencée de sorte qu'un espace ou un débatte ment sépare ladite paroi de la deuxième zone 102 de la cavité 10 de la paroi de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3 qui est située en regard. De préférence, la paroi de la deuxième zone 102 de la cavité 10 située en regard de la première zone 101 de la cavité 10 est également située en regard de la paroi 18, dite première paroi latérale 18, de la première zone 101 de la cavité 3 et en regard d'une paroi 25 de fond du guide 4. De préférence, lorsqu'un échantillon 3 est placé dans la cavité 10, les parois définissant le contour de la deuxième zone 102 de la cavité 10 sont agencées pour ne pas être en contact avec les parois définissant le contour de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3.

La génération des contraintes et déformations requiert que la deuxième portion 32 de l'échantillon 3 puisse être déplacée par rapport à la première portion 31 de l'échantillon 3. La deuxième portion 32 de l'échantillon 3 peut être déplacée par rapport à la première portion 31 de l'échantillon 3 selon une direction s'étendant, au moins en partie, depuis la première 101 vers la deuxième 102 zone de la cavité 10. L'espace ou le débattement séparant la paroi de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3 de la deuxième zone 102 de la cavité 10 permet, lorsque l'élément de transfert 2 exerce une force sur le bras de levier 33 de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3, que la deu xième portion 32 de l'échantillon 3 puisse être déplacée par rapport à la pre mière portion 31 d'un échantillon 3 de sorte que les contraintes et déforma- tions soient générées.

La première zone 101 de la cavité 10 comprend un épaulement 16 qui est contigu au logement 14 de la cavité 10 et qui s'étend depuis la première zone 101 vers la deuxième zone 102 de la cavité 10. L'épaulement 16 s'étend depuis le logement 14 vers la deuxième zone 102 du support. L'épaulement 16 est agencé pour être portée en contact direct avec la première portion 31 de l'échantillon 3. L'épaulement 16 est agencé pour être porté en contact direct avec une paroi de fond 35 d'un logement 36 de l'échantillon 3. L'épau lement 16 est en contact avec seulement une partie de la paroi de fond 35 du logement 36 de l'échantillon 3 située du côté de la première portion 31 de l'échantillon 3. Une partie de l'échantillon 3, dite partie saillante 37, est en saillie par rapport au plan dans lequel est compris la paroi de fond 35 d'un logement 36 de l'échantillon 3 du côté du moyen de chargement mécanique 1, 2. La partie saillante 37 de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3 com- prend le bras de levier 33 de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3.

La première zone 101 de la cavité 10 comprend une paroi 17, dite de maintien, située en regard de l'épaulement 16. La paroi de maintien 17 est agencée pour être en contact direct avec l'échantillon 3 et pour maintenir la partie saillante 15 de la première portion 31 de l'échantillon 3 dans le loge ment 14 du support. La paroi de maintien 17 est également agencée pour maintenir l'épaulement 16 en contact direct avec la première portion 31 de l'échantillon 3. En particulier, la paroi de maintien 17 est également agencée pour maintenir l'épaulement 16 en contact direct avec la paroi de fond 35 du logement 36 de l'échantillon 3. La paroi de maintien 17 est également agen cée pour maintenir le logement 14 du support en contact direct avec la pre mière portion 31 de l'échantillon 3. En particulier, la paroi de maintien 17 est agencée pour maintenir la partie saillante 37 de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3 dans la partie de levier 13 de la deuxième zone 102 de la cavité 10.

Selon le premier mode de réalisation, la paroi de maintien 17 est une paroi d'une entretoise 5 agencée pour être fixée au support. L'entretoise 5 est agencée pour être fixée au reste du support, en particulier à une des, et/ou aux, parties dissociables 28, 29 du support. L'entretoise 5 comprend un évidement. L'entretoise 5 est amovible et agencée pour être retirée du support. Lorsque l'entretoise 5 est retirée du support, l'échantillon 3 peut être inséré dans la cavité 10 par l'ouverture ainsi formée. Lorsque l'entretoise 5 est fixée au support, elle est agencée pour empêcher le retrait ou l'insertion de l'échantillon 3 dans la fente 10. Dans ce cas, l'échantillon 3 peut être chargé dans le support en dissociant les des deux parties dissociables 28, 29 du support et/ou en retirant l'entretoise 5 du support.

L'entretoise 5 comprend des ouvertures oblongues 39 agencées pour moduler la position de fixation de l'entretoise 5 sur le reste du support en translatant cette dernière selon une direction s'étendant le long d'une sépa ration entre la première zone 101 de la cavité 10 et la deuxième zone 102 de la cavité 10. Les ouvertures oblongues 39 de l'entretoise 5 sont agencées pour permettre une translation de l'entretoise 5 selon une direction selon laquelle s'étend la partie saillante 15 de la première portion 31 de l'échantillon 3.

Le support comprend une paroi 18 de la première zone 101 de la cavité 10 s'étendant depuis le logement 14 de la première zone 101 de la cavité 10 jusqu'à la paroi de maintien 17. Le support comprend une ouverture 19 s'étendant depuis l'épaulement 16 jusqu'à la paroi de maintien 17 et reliant les première 101 et deuxième 102 zones de la cavité 10.

Le logement 14 de la première zone 101 de la cavité 3 comprend la paroi 18, dite première paroi latérale 18, s'étendant selon une direction re liant le logement 14 à la paroi de maintien 17. Le logement 14 comprend également une deuxième paroi latérale 20 située en regard de la première paroi latérale 18 du support. Le logement 14 comprend également une paroi de fond 21 du logement 14 de la première zone 101 reliant les première 18 et deuxième 20 parois latérales du logement 14 du support. La paroi de fond 21 du logement 14 de la première zone 101 et les première 18 et deuxième 20 parois latérales du logement 14 du support sont agencées de sorte à pré senter une forme en U. Par conséquent, le logement 14 présente une forme en U.

La première paroi latérale 18 du logement 14 est en contact direct avec une paroi extérieure 151 de la partie saillante 15 de la première portion 31 l'échantillon 3. La deuxième paroi latérale 20 du logement 14 est en contact direct avec une première paroi 361 de la partie saillante 15 de l'échantillon 3 située du côté de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3. La première paroi latérale 18 du logement 14 du support s'étend le long d'une paroi extérieure 311 de la première portion 31 de l'échantillon 3 comprenant la paroi exté rieure 151 de la partie saillante 15 de l'échantillon 3. La deuxième paroi laté rale 20 du logement 14 du support s'étend selon une direction reliant le lo gement 14 du support à la paroi de maintien 17. Les première 18 et deuxième 20 parois latérales du logement 14 du support s'étendent selon une direction perpendiculaire à une direction reliant la première zone 101 du support à la deuxième zone 102 du support. Les première 18 et la deuxième 20 parois latérales du logement 14 du support s'étendent selon une direction perpen diculaire à une direction reliant la première portion 31 de l'échantillon 3 à la deuxième portion 32 de l'échantillon 3.

La première paroi latérale 18 du logement 14 du support s'étend au-delà d'un plan selon lequel s'étend l'épaulement 16 de la première zone 101 de la cavité 10. La première paroi latérale 18 du logement 14 du support s'étend au-delà d'un plan selon lequel s'étend la paroi de fond 35 du logement 36 de l'échan- tillon 3 selon la direction reliant le logement 14 du support à la paroi de maintien 17. La première paroi latérale 18 du logement 14 du support com prend des évidements 181.

La paroi de fond 21 du logement 14 du support et les première 18 et deuxième 20 parois latérales du logement 14 du support sont en contact di- rect avec la partie saillante 15 de la première portion 31 de l'échantillon 3. La paroi de fond 21 du logement 14 du support est agencée pour être en contact direct avec une face d'extrémité 331 de la partie saillante 15 de la première portion 31 de l'échantillon 3.

La forme de la première zone 101 de la cavité 10 correspond à la forme de la première portion 31 de l'échantillon 3. La forme de la première zone 101 de la cavité 10 correspond à la forme de la première portion 31 de l'échantillon 3 de telle sorte que les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 de l'échantillon 3 immobilisent la première portion 31 de l'échantillon 3 dans la première zone 101 de la cavité 10. Les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 de l'échantillon 3 sont en contact direct avec la première por tion 31 de l'échantillon 3 en regard des parois des moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 de l'échantillon 3. De préférence, les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 de l'échantillon 3 sont en contact direct avec au moins une partie des parois, de préférence avec chacune des parois, de la première portion 31 de l'échantillon 3 en regard des parois des moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 de l'échantillon 3. La forme de la première zone 101 de la cavité 10 correspond à la forme de la première portion 31 de l'échantil lon 3 et les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 de l'échantillon 3 sont en contact direct avec la première portion 31 de l'échantillon 3 en regard des parois des moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 de l'échantillon 3 de sorte que les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 de l'échantillon 3 immobilisent la première portion 31 de l'échantillon 3 dans la première zone 101 de la cavité 10.

L'épaulement 16 s'étend depuis la deuxième paroi latérale 20 du loge- ment 14 du support en direction de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3. L'épaulement 16 s'étend depuis la deuxième paroi latérale 20 du logement 14 du support selon une direction reliant la première paroi latérale 18 du logement 14 du support à la deuxième paroi latérale 20 du logement 14 du support. Les ouvertures oblongues 39 sont agencées pour permettre une tran slation de l'entretoise 5 selon une direction selon laquelle s'étendent les pre mière 18 et deuxième parois 20 latérales du logement 14 du support.

Le moyen de chargement mécanique 1, 2 est agencé pour convertir un mouvement de rotation en un mouvement de translation selon la direction s'étendant depuis la première 101 vers la deuxième 102 zone de la cavité 3. Le moyen de chargement mécanique 1, 2 comprend une vis 1 agencée pour être mise en rotation dans le support. L'élément de transfert 2 est agencé pour coopérer avec une tête 22 de la vis 1 de sorte à, lorsqu'un échantillon 3 est placé dans la cavité 10, transférer la force exercée lors de la rotation de la vis 1 depuis la tête 22 de la vis 1 vers la deuxième portion 32 de l'échan tillon 3. Plus précisément, la force exercée lors de la rotation de la vis 1 est transférée depuis la tête 22 de la vis 1 vers le bras de levier 33 de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3. Tel qu'illustré sur la Figure 1, la tête 22 de la vis

1 est en contact direct avec l'élément de transfert 2. L'élément de transfert

2 est en contact direct avec l'échantillon 3, en particulier avec la deuxième portion 32 de l'échantillon 3. La force exercée par la vis 1 sur l'élément de transfert 2 est appliquée dans une direction s'étendant depuis la première paroi latérale 18 du logement 14 du support vers la deuxième paroi latérale 20 du logement 14 du support. La force exercée par la vis 1 sur l'élément de transfert 2 est appliquée dans une direction s'étendant depuis la première portion 31 de l'échantillon 3 vers la deuxième portion 32 de l'échantillon 3. L'élément de transfert 2 est agencé pour transférer la force exercée par la vis 1 sur une partie d'une deuxième paroi latérale 362 du logement 36 de l'échantillon 3. La deuxième paroi latérale 362 du logement 36 de l'échantillon

3 constitue également la paroi inférieure de partie saillante 37 de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3.

Le moyen de chargement mécanique 1, 2 selon l'invention, contribue à atteindre l'objectif consistant à imager les modifications (nano)structurales de l'échantillon 3 engendrées par les contraintes mécaniques auxquels l'échantillon 3 est soumis. Les modifications (nano)structurales sont donc sui vies in situ et dans le volume. En outre, il est également possible de déter miner la cinématique et/ou des cinétiques d'endommagement de l'échantillon 3. La deuxième zone 102 de la cavité comprend un guide 4 agencé pour contraindre l'élément de transfert 2 à se déplacer le long dudit guide 4 selon un mouvement de translation dans le plan selon lequel s'étend la cavité 10. L'élément de transfert 2 est en saillie par rapport à une paroi 25 de fond du guide 4. La limite de séparation entre la première 31 et la deuxième portion 32 de l'échantillon 3 est située du côté de la deuxième zone 102 de la cavité 10 par rapport au plan dans lequel la paroi 25 de fond de guide 4 est com prise.

Un trou taraudé 40 est ménagé dans le bloc 30. Le trou 40 est agencé pour coopérer avec un filetage de la vis 1. L'axe de révolution du trou taraudé 40 est agencé de sorte à être compris dans le plan selon lequel s'étend la fente 10. L'axe de révolution du trou taraudé 40 est agencé de sorte à être compris dans le plan situé à équidistance des deux faces planes 26 du support et parallèle aux deux faces planes 26 du support. L'axe de révolution du trou taraudé 40 est agencé de sorte à être compris dans le plan médian de l'échan tillon 10, ledit plan médian s'étendant selon la direction reliant les première 31 et deuxième 32 portions de l'échantillon 3.

La vis 1 est mise en mouvement dans une direction comprise dans le plan de la fente 10. La vis 1 est mise en mouvement dans une direction s'étendant depuis la première zone 101 du support vers la deuxième zone 102 du support. La vis 1 est mise en mouvement dans une seule direction s'étendant depuis la première zone 31 du support vers la deuxième zone 32 du support. La vis 1 est agencée pour exercer une force selon une direction s'étendant le long de la première zone 101 de la cavité 10.

Le moyen de chargement mécanique 1, 2 est agencé pour que la vis 1 se déplace, et s'étende, selon un axe longeant la paroi de fond 21 du loge ment 14 de la cavité 10. La deuxième zone 102 de la cavité 10 est agencée pour, de préférence présente une forme telle que, l'axe selon lequel se dé place la vis 1 coupe la partie de levier 13. La deuxième zone 102 de la cavité 10 est agencée pour, de préférence présente une forme telle que, l'axe selon lequel se déplace la vis 1 coupe la paroi 25 de fond du guide 4. La première zone 101 et la deuxième zone 102 de la cavité 10 sont agencées relativement l'une à l'autre pour que l'axe selon lequel se déplace la vis 1 longe la paroi de fond 21 du logement 14 de la cavité 10 et coupe la partie de levier 13. De préférence, la première zone 101 et la deuxième zone 102 de la cavité 10 présentent chacune une forme, de préférence encore une forme différente l'une de l'autre, telle que, l'axe selon lequel se déplace la vis 1 longe la paroi de fond 21 du logement 14 de la cavité 10 et coupe la partie de levier 13.

La jonction entre la vis 1 et l'élément de transfert 2 est de type rotule.

La tête 22 de la vis 1 est courbe et convexe et coopère avec une partie

41 courbe et concave de l'élément de transfert 2.

La tête 22 de la vis 1 est de forme sphérique et s'articule dans un évidement sphérique 41, complémentaire de la tête sphérique 22, de l'élé ment de transfert 2. La tête 22 de la vis 1 peut être mise en mouvement dans le trou taraudé 40 et dans le guide 4.

L'élément de transfert 2 comprend une rainure 42 agencée pour qu'une partie de la deuxième portion 32 de l'échantillon 3 y soit insérée.

Lorsque l'élément de transfert 2 est inséré dans le guide 4, la rainure

42 de l'élément de transfert 2 s'étend selon le plan de la fente 10.

La rainure 42 de l'élément de transfert 2 est agencée pour que l'échan tillon 3 y soit inséré sur sa tranche.

En particulier, la rainure 42 de l'élément de transfert 2 est agencée pour que la deuxième paroi latérale 362 du logement 36 de l'échantillon 3 y soit insérée.

La première paroi latérale 361 du logement 36 de l'échantillon 3 est en contact direct avec la deuxième paroi latérale 20 du logement 14 du support. La paroi de fond 35 du logement 36 de l'échantillon 3 relie les première 361 et deuxième 362 parois latérales du logement 36 de l'échantillon 3. La pre mière paroi latérale 361 du logement 36 de l'échantillon 3 s'étend selon une direction reliant l'épaulement 16 du support à la paroi de fond 21 du logement 14 du support. Selon le premier mode de réalisation, la deuxième paroi laté- raie 362 du logement 36 de l'échantillon 3 est parallèle à la première paroi latérale 361 du logement 36 de l'échantillon 3. La deuxième paroi latérale 362 du logement 36 de l'échantillon 3 s'étend au-delà d'un plan comprenant la paroi de fond 21 du logement 14 du support selon la direction reliant l'épau- lement 16 du support à la paroi de fond 21 du logement 14 du support. La partie de levier 13 de la deuxième zone 102 de la cavité 10 est en saillie par rapport au plan comprenant la paroi de fond 21 du logement 14 de la première zone 101 de la cavité 10 selon une direction reliant la paroi de maintien 17 au logement 14. La partie de levier 13 est comprise dans le guide 4 de la cavité 10. La partie de levier 13 s'étend le long d'un plan médian du guide 4 s'étendant selon la direction reliant les première 101 et deuxième 102 zones de la cavité 10.

Selon le premier mode de réalisation, la partie dissociable 28 et la par- tie dissociable 29 forment chacune une partie du guide. Le bloc 30 de la partie dissociable 29 comprend une encoche 43 située au-delà du plan dans lequel s'étend la fente 10 selon la direction s'étendant depuis la partie dissociable 29 du support vers l'autre partie dissociable 28 du support. L'encoche 43 est agencée pour coopérer avec un prolongement 45 d'une paroi 44, dite verti- cale, du guide 4 de la partie dissociable 28. La paroi verticale 44 du guide 4 s'étend selon un plan parallèle au plan selon lequel s'étendent les première 101 et deuxième zone 102 de la cavité 10.

Lorsque les deux parties dissociables 28, 29 sont assemblées pour for mer le support, le prolongement 45 de la paroi 44 est inséré dans l'encoche 43. Un ensemble de trous traversants 8 sont ménagés le long de la bordure du support située au niveau de la première paroi latérale 18 et au niveau de la bordure du support située au niveau de la paroi de maintien 17. Les trous traversants 8 ménagés le long de la bordure du support située au niveau de la paroi de maintien 17 s'étendent au-delà de la paroi de maintien 17 du côté de la deuxième zone 102 de la cavité 10 jusqu'à une extrémité du support. Des trous traversants 8 sont également ménagés le long de la bordure de la deuxième zone 102 du support, la bordure de la deuxième zone 102 du sup port étant située du côté opposé du support par rapport à la bordure du sup port située au niveau de la première paroi latérale 18.

Selon le premier mode de réalisation, le support comprend une ouver ture traversante 6. L'ouverture 6 est agencée de sorte que la région donnée 24 de l'échantillon 3 dans laquelle sont générées les contraintes et déforma tions se trouve dans l'ouverture 6. En pratique, chacune des deux faces planes 26 du support comporte un évidement 61, 62. Les évidements 61, 62 des faces planes 26 du support forment l'ouverture 6 du support.

Selon le premier mode de réalisation, pour contrer le moment de flexion engendré lors du chargement de l'échantillon 3, la section du support est augmentée dans certaines parties du support. Aussi, selon le premier mode de réalisation, le support comprend un raidisseur 38 agencé pour aug menter la résistance du support au flambement. Le raidisseur 18 s'étendant le long d'une bordure du support située au niveau de la première paroi laté rale 18 et au niveau d'une bordure du support située au niveau de la paroi de maintien 17. Le raidisseur 18 s'étendant au niveau de la bordure la paroi de maintien 17 s'étend au-delà de la paroi de maintien 17 du côté de la deuxième zone 102 de la cavité 10 jusqu'à une extrémité du support. Le raidisseur 18 vise à empêcher le flambement du support lorsque le moyen de chargement mécanique 1, 2 exerce une force sur l'échantillon 3. Afin de limiter l'augmen tation de la masse du support engendrée par l'augmentation de la section support, le raidisseur 38 est agencé sous forme de profilé en forme de U 38. Le raidisseur 38 est ménagé au niveau des parties du support situées au niveau de la première paroi latérale 18 et au niveau de la bordure du support située au niveau de la paroi de maintien 17. En pratique, un semi-profilé en forme de U 381, 382 est ménagé sur chacune des faces extérieures des deux parties dissociables 28, 29 du support. Lorsque les deux parties dissociables 28, 29 du support sont associées, les deux semi-profilés en forme de U 381, 382 constituent le profilé en forme de U 38.

Dans un second mode de réalisation, il est proposé un ensemble com prenant le support selon le premier mode de réalisation et un échantillon 3. L'échantillon 3 est placé dans le support. L'ensemble comprend un concen trateur de contraintes et de déformations 23 ménagé dans l'échantillon 3 de sorte à positionner la région donnée 24 de l'échantillon 3 dans laquelle sont générées les contraintes et déformations. En pratique, la position de la région donnée 24 de l'échantillon 3 dans laquelle sont générées les contraintes et déformations sera déterminée par le type, la forme, la taille et la position du concentrateur de contraintes et de déformations 23 sur l'échantillon 3. Selon l'invention, le concentrateur de contraintes et de déformations 23 est de pré férence située sur ou à proximité de la séparation entre la première 31 et la deuxième portion 32 de l'échantillon 3. A titre d'exemple non limitatif, selon le second mode de réalisation, le concentrateur de contraintes et de défor mations 23 est une fente 23. Lorsque le concentrateur de contraintes et de déformations 23 est une fente 23, la fente 23 s'étend selon la direction s'éten dant depuis la paroi de fond 21 du logement 14 de la première zone 101 de la cavité 10 du support vers l'épaulement 16 de la première zone 101 de la cavité 10 du support.

Le concentrateur de contraintes et de déformations 23 selon l'invention contribue à atteindre l'objectif consistant à imager un volume avec une réso lution de l'ordre la centaine de nanomètres de l'échantillon 3 et par consé quent de caractériser les modifications (nano)structurales de l'échantillon 3, dans ce de l'ordre la centaine de nanomètres cubes, engendrées par les con traintes et déformations mécaniques auxquels l'échantillon 3 est soumis.

Le concentrateur de contraintes et de déformations 23 selon l'invention contribue également à atteindre l'objectif consistant à reproduire en condi tions réelles les contraintes auxquelles l'échantillon 3 va être soumis en con dition d'utilisation et d'imager des échantillons 3 dont les dimensions dans le plan dans lequel s'étend la cavité 10 sont de l'ordre ou supérieure à la dizaine de centimètres.

Dans un troisième mode de réalisation, il est proposé un dispositif d'imagerie par rayons X comprenant un support pour essais mécaniques selon le premier mode de réalisation, une source de rayons X et au moins un dé tecteur agencé pour détecter des rayons X transmis et/ou diffractés et/ou diffusés à travers la région donnée 24 de l'échantillon 3 dans laquelle sont générées les contraintes et déformations. A titre d'exemple non limitatif, la source de rayons X est issue d'une ligne de lumière d'un synchrotron et le détecteur est composé d'un scintillateur couplé à une caméra. A titre d'exemple non limitatif, la source peut être un tube à rayons X et le détecteur peut être un diffractomètre. A titre d'exemple non limitatif, le dispositif d'ima gerie est agencé pour réaliser des mesures de laminographie et en particulier de (nano)laminographie. Les mesures en (nano)laminographie requièrent de positionner et déplacer l'échantillon 3 avec une précision de l'ordre de la cen taine de micromètres, de préférence de l'ordre de la dizaine de micromètres, de préférence encore de l'ordre du micromètre et de manière davantage pré férée de l'ordre de la centaine de nanomètres. Dès lors, une masse de l'en semble support/échantillon 3 supérieure à la centaine de grammes interdit l'utilisation de l'ensemble support/échantillon 3 en (nano)laminographie car les moteurs permettant d'atteindre de telles précisions et de tels pas de dé placement ne sont aptes à déplacer que de faibles masses, typiquement in férieures à 100 grammes.

Le dispositif d'imagerie par rayon X comprend des moyens de mise en mouvement du support agencés pour déplacer le support selon un mouve ment de translation dans un plan parallèle à un plan comprenant la fente 10 du support, dit plan normal, et/ou pour incliner le support par rapport au plan normal. Les moyens de mise en mouvement du support sont agencés pour translater le support d'une distance inférieure à 2mm, de préférence à 0,5mm, et/ou pour incliner le support d'un angle inférieur à 90°, de préfé rence à 25°.

De préférence, pour pouvoir sonder à des résolutions nanométriques en une zone localisée de l'échantillon 3, les moyens de mise en mouvement du sup port sont des moteurs piézo-électriques. Le pas des moteurs piézoélec triques est inférieur à 1 pm.

Les moteurs piézo-électriques susceptibles d'être utilisés en combinai son avec le dispositif selon l'invention, c'est-à-dire un dispositif comprenant le support selon l'invention, permettent d'ajuster la position de la région dans laquelle se produisent les modifications (nano)structurales de l'échantillon 3 engendrées par les contraintes mécaniques auxquels l'échantillon 3 par rap port au faisceau de rayons X. Les modifications (nano)structurales sont donc suivies in situ dans le volume et à plusieurs échelles. En outre, il est égale ment possible de déterminer la cinématique et/ou des cinétiques d'endom magement de l'échantillon 3.

Les moteurs piézo-électriques du dispositif selon l'invention, c'est-à-dire un dispositif comprenant le support selon l'invention, contribuent à atteindre l'objectif consistant à atteindre l'objectif consistant à reproduire en conditions réelles les contraintes auxquelles l'échantillon 3 va être soumis en condition d'utilisation et d'imager des échantillons 3 dont les dimensions dans le plan dans lequel s'étend la cavité 10 sont de l'ordre ou supérieure à la dizaine de centimètres.

Les moteurs piézo-électriques susceptibles d'être utilisés en combinaison avec le dispositif selon l'invention, c'est-à-dire un dispositif comprenant le support selon l'invention, contribuent à atteindre l'objectif consistant à ima- ger un volume à une résolution de l'ordre la centaine de nanomètres cube de l'échantillon 3 et par conséquent de caractériser les modifications (nano)structurales de l'échantillon 3, à des résolutions de l'ordre la centaine de nanomètres cube, engendrées par les contraintes mécaniques auxquelles l'échantillon 3 est soumis.

Toutefois, pour assurer une reproductibilité du déplacement de l'échan tillon 3 par les moteurs piézo-électriques inférieure à 1 pm, il est préférable que l'ensemble support/échantillon 3 présente une masse inférieure à 50 grammes. Le support selon l'invention, qui régit l'agencement ainsi que les caractéristiques géométriques de l'échantillon 3, permet d'atteindre une masse inférieure à 50 grammes. En particulier, mais non uniquement, l'épais seur 27 du support, la cavité 10 du support, le logement 14 du support et la partie de levier 13 contribuent à atteindre une masse de l'ensemble sup port/échantillon 3 qui est inférieure à 50 grammes.

Cependant, la faible masse du support implique une réduction des épaisseurs des différents éléments du support et en particulier de celle des deux faces planes 26 du support. Cette réduction induit l'apparition du flam- bement du support lors des essais mécaniques. Le flambement de la partie de l'échantillon qui est en compression est empêché par les raidisseurs 38 décrits précédemment.

Dans un quatrième mode de réalisation, il est proposé un dispositif d'imagerie par rayon X comprenant un ensemble selon le second mode de réalisation, une source de rayons X et au moins un détecteur agencé pour détecter des rayons X transmis et/ou diffractés et/ou diffusés à travers la région donnée 24 de l'échantillon 3 dans laquelle sont générées les con traintes et déformations. A titre d'exemple non limitatif, la source de rayons X est issue d'une ligne de lumière d'un synchrotron et le détecteur est com posé d'un scintillateur couplé à une caméra. A titre d'exemple non limitatif, la source peut être un tube à rayons X et le détecteur peut être un scintillateur couplé à une caméra. A titre d'exemple non limitatif, le dispositif d'imagerie est agencé pour réaliser des mesures de laminographie.

L'ensemble des caractéristiques et avantages du dispositif selon le troi sième mode de réalisation son transposables au dispositif selon le quatrième mode de réalisation.

Dans un cinquième mode de réalisation, il est proposé un procédé d'analyse par rayons X de l'échantillon 3 comprenant l'étape consistant à fournir un support pour essais mécaniques selon le premier mode de réalisation dans un dispositif d'imagerie par rayons X.

Le procédé d'analyse par rayons X de l'échantillon 3 comprend l'étape consistant à imager, au moyen du dispositif d'imagerie par rayons X, l'échantillon 3. De préférence, le dispositif d'imagerie par rayons X est un dispositif d'analyse par laminographie. Un volume d'échantillon compris entre (100 x 100 x 100) et (480 x 480 x 480) pm ³ est imagé.

Le procédé d'analyse par rayons X de l'échantillon 3 comprend l'étape consistant à appliquer une charge mécanique, au moyen du support pour essais mécaniques selon le premier mode de réalisation, à l'échantillon 3. De préférence, l'étape d'application de la charge mécanique est réalisée in situ. Selon l'invention, l'étape d'application de la charge mécanique est réalisée sans retirer, ni déplacer l'échantillon du support.

En référence aux Figures 1 à 5, dans un sixième mode de réalisation, il est proposé un procédé pour l'analyse par rayons X d'un échantillon 3 sous chargements mécaniques. Le procédé comprend l'étape consistant à ménager une cavité 10 dans un support de l'échantillon 3. Le support comprend une première zone 101, agencée pour accueillir une première portion 31 de l'échantillon 3 complémentaire de la première zone 101 de la cavité 10. La première zone 101 de la cavité 10 comprend des moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 de l'échantillon 3. Le support comprend également une deu xième zone 102 agencée pour accueillir une deuxième portion 32 de l'échan tillon 3. Les première 101 et deuxième 102 zones de la cavité 10 sont conti guës et agencées pour accueillir les première 31 et deuxième 32 portions de l'échantillon 3 d'un seul tenant. Le procédé comprend également l'étape con sistant à exercer une force mécanique générant des contraintes et déforma tions dans une région donnée 24 de l'échantillon 3 par l'intermédiaire d'un moyen 1, 2, dit de chargement mécanique, comprenant un élément de trans fert 2 agencé pour être mis en mouvement dans la deuxième zone 102 de la cavité 10.

Le procédé comprend l'étape consistant à exercer une force, au moyen de l'élément de transfert 2, selon une direction s'étendant depuis la première zone 101 de la cavité 10 vers la deuxième zone 102 de la cavité 10. Le pro cédé comprend l'étape consistant à convertir, via le moyen de chargement mécanique 1, 2, un mouvement de rotation en un mouvement de translation selon la direction s'étendant depuis la première zone 101 de la cavité 10 vers la deuxième zone 102 de la cavité 10.

Le procédé comprend l'étape consistant à fournir la partie 13 formant levier, dite partie de levier 13, à la deuxième zone 102 de la cavité 10 de sorte que l'élément de transfert 2 exerce une force dans ladite partie de levier 13 de la deuxième zone 102 de la cavité 10. La partie de levier 13 est en saillie par rapport au plan comprenant la paroi de fond 21 du logement 14 de la première zone 101 de la cavité 10 selon la direction reliant la paroi de maintien 17 au logement 14.

Le procédé comprend l'étape consistant à fournir le guide 4 à la cavité 3 de sorte à contraindre l'élément de transfert 2 à se déplacer le long du guide 4 selon un mouvement de translation dans le plan dans lequel s'étend la cavité 10.

Lorsqu'un échantillon 3 est placé dans la cavité 10, le procédé com prend l'étape consistant à enchâsser ou enserrer, dans les moyens de main tien 14, 16, 17, 18, 20, 21 du support, la première portion 31 de l'échantillon 3 de sorte à immobiliser la première portion 31 de l'échantillon 3 dans la première zone 101 de la cavité 10. Le procédé comprend l'étape consistant à fournir un logement 14 aux moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 du support de sorte à enchâsser ou enserrer la première portion 31 de l'échan tillon 3 dans les moyens de maintien 14, 16, 17, 18, 20, 21 du support de sorte à immobiliser la première portion 31 de l'échantillon 3 dans la première zone 101 de la cavité 10. Selon le sixième mode de réalisation, la partie saillante 15 de la pre mière portion 31 de l'échantillon 3 est complémentaire du logement 14.

Le procédé comprend l'étape consistant à fournir l'épaulement 16 à la première zone 101 de la cavité 10, l'épaulement 16 étant contigu au logement 14 de la cavité 10 et s'étendant depuis la première zone 101 vers la deuxième zone 102 de la cavité 10. Le procédé comprend l'étape consistant à fournir une paroi 17, dite de maintien, à la première zone 101 de la cavité 10. La paroi de maintien 17 étant située en regard de l'épaulement 16.

Le procédé comprend l'étape consistant à fournir l'ouverture 19 au sup- port. L'ouverture 19 s'étendant depuis l'épaulement 16 jusqu'à la paroi de maintien 17 et relie les première 101 et deuxième 102 zones de la cavité 10.

Le procédé comprend l'étape consistant à fournir la première paroi la térale 18 au logement 14 de la première zone 101 de la cavité 10. La première paroi latérale 18 s'étend selon une direction reliant le logement 14 à la paroi de maintien 17. Le procédé comprend l'étape consistant à fournir la deuxième paroi latérale 20 au logement 14 de la première zone 101 de la cavité 10. La deuxième paroi latérale 20 est située en regard de la première paroi latérale 18 du support. Le procédé comprend l'étape consistant à fournir la paroi de fond 21 du logement 14 de la première zone 101 de la cavité 10. La paroi de fond 21 du logement 14 relie les première 101 et deuxième 102 parois laté rales du logement 14 du support. La paroi de fond 21 du logement 14 de la première zone 101 de la cavité 10 et les première 18 et deuxième 20 parois latérales du logement 14 du support présentant une forme en U.

Le procédé comprend l'étape consistant à fournir un raidisseur 38 au support de sorte à augmenter une résistance du support au flambement. Le raidisseur 38 s'étendant le long d'une bordure du support située au niveau de la première paroi latérale 18 de la cavité et s'étend le long d'une bordure du support située au niveau de la paroi de maintien 17. Le raidisseur 18 s'étendant au niveau de la bordure la paroi de maintien 17 s'étend au-delà de la paroi de maintien 17 du côté de la deuxième zone 102 de la cavité 10 jusqu'à une extrémité du support.

Le procédé comprend l'étape consistant à fournir la vis 1 au moyen de chargement mécanique 1, 2. La vis 1 est mise en rotation dans le support de sorte que l'élément de transfert 2 coopère avec la tête 22 de la vis 1 de sorte à, lorsqu'un échantillon 3 est placé dans la cavité 10, transférer la force exer cée lors de la rotation de la vis 1 depuis la tête 22 de la vis 1 vers la deuxième portion 32 de l'échantillon 3.

Le procédé comprend l'étape consistant à exercer, via la vis 1, une force selon une direction s'étendant le long de la première zone 101 de la cavité 10.

Le procédé comprend l'étape consistant à ménager un concentrateur de contraintes et de déformations 23 dans l'échantillon 3 de sorte à position ner la région donnée 24 de l'échantillon 3 dans laquelle sont générées les contraintes et déformations les plus grandes.

Selon un septième mode de réalisation, le procédé comprend les étapes consistant à fournir une source de rayons X et à détecter, par au moins un détecteur de rayons X, des rayons X transmis et/ou diffractés et/ou diffusés à travers la région donnée 24 de l'échantillon 3 dans laquelle sont générées les contraintes et déformations.

Selon une première variante, le procédé selon le septième mode de réalisation comprend l'étape consistant à fournir un support pour essai mé canique selon le premier aspect de l'invention.

Selon une deuxième variante, le procédé selon le septième mode de réalisation comprend l'étape consistant à fournir un ensemble selon le second mode de réalisation.

Bien sûr, l'invention n'est pas limitée aux exemples qui viennent d'être décrits et de nombreux aménagements peuvent être apportés à ces exemples sans sortir du cadre de l'invention.

Ainsi, dans des variantes combinables entre elles des modes de réalisation précédemment décrits :

- le support selon l'invention permet, lorsqu'un échantillon 3 est inséré dans le support, d'imager, concomitamment aux essais mécaniques, les modifica tions microstructurales de l'échantillon 3 engendrées par les contraintes mé caniques auxquels l'échantillon 3 est soumis, et/ou- la source de rayons X selon l'invention est remplacé par une source de neutrons, et/ou le détecteur agencé pour détecter des rayons X selon l'invention est remplacé par un dé tecteur de neutrons, et/ou - le support est agencé de sorte que l'échantillon ne soit pas manipulé durant le processus d'analyse, c'est-à-dire que l'échantillon n'est pas retiré du sup port et que le support n'est pas déplacé, et/ou

- les deux parties 28, 29 du support ne sont pas dissociables, et/ou

- lorsque l'échantillon 3 est placé dans la cavité 10, une seule des parois définissant le contour de la partie saillante 15 de la première portion 31 de l'échantillon 3 est portée au contact d'une des parois du logement 14 de la première zone 101 de la cavité 10, et/ou

- la tête 22 de la vis 1 est courbe concave et coopère avec une partie 41 courbe et convexe de l'élément de transfert 2, et/ou

- le support comprend plusieurs raidisseurs 38, et/ou

- le concentrateur de contraintes et de déformations 23 est un trou ménagé dans l'échantillon 3. De plus, les différentes caractéristiques, formes, variantes et modes de réalisation de l'invention peuvent être associés les uns avec les autres selon diverses combinaisons dans la mesure où ils ne sont pas incompatibles ou exclusifs les uns des autres.