以下、本発明の実施の形態について図面� ��用いて説明する。

 (第1の実施の形態)
 まず、本発明に係る光位相変調評価装置の� ��1の実施の形態における構成について説明す る。最初に、光位相変調評価装置が備える光 位相変調評価モジュールの構成について説明 する。

 図1に示すように、光位相変調評価モジュ ール10は、光位相変調信号aを入力する光入力 部11と、入力された光位相変調信号aを第1の� �101と第2の光102とに分岐する光分岐部12と、� �1の光101を第3の光103と第4の光104とに分波す� �とともに第2の光102を第5の光105と第6の光106� �に分波するビームスプリッタ(以下「BS」と� �う。)13aと、第3の光103を反射して第7の光107� �して出力するとともに第5の光105を反射して� ��8の光108として出力する第1ミラー14aと、第4� ��光104を反射して第9の光109として出力すると ともに第6の光106を反射して第10の光110として 出力する第2ミラー14bとを備えている。

 また、光位相変調評価モジュール10は、� �8の光108と第10の光110とを合波することによ� �て光位相変調信号aの位相の変化を光強度の� ��化に変換して互いにπの光位相差を有する� �1の光強度変換信号111及び第2の光強度変換信 号112を出力するとともに第7の光107と第9の光1 09とを合波することによって光位相変調信号a の位相の変化を光強度の変化に変換して互い にπの光位相差を有する第3の光強度変換信号 113及び第4の光強度変換信号114を出力するBS13b と、シンボルレートの1ビットの遅延に相当� �る光路長を与えるビット遅延器15と、光位相 差を設定する光位相差設定器16と、光位相差� ��設定値を光位相差設定器16に指示する位相� �御手段17とを備えている。

 さらに、光位相変調評価モジュール10は� �第1の光強度変換信号111を入力して光ファイ� ��19aに出力する第1の光出力部18aと、第2の光� �度変換信号112を入力して光ファイバ19bに出� �する第2の光出力部18bと、第3の光強度変換信 号113を入力して光ファイバ19cに出力する第3� �光出力部18cと、第4の光強度変換信号114を入� ��して光ファイバ19dに出力する第4の光出力部 18dとを備えている。

 ここで、光位相変調評価モジュール10は� �2つのマッハツェンダ干渉計を備える構成と� ��っている。

 まず、第1のマッハツェンダ干渉計は、光 入力部11から光分岐部12、BS13a、第2ミラー14b� �びBS13bを経由して第1の光出力部18aに至る光� �(以下「第11光路」という。)と、光入力部11� �ら光分岐部12、BS13a、第1ミラー14a及びBS13bを� ��由して第2の光出力部18bに至る光路(以下「� �12光路」という。)とを含む。

 次に、第2のマッハツェンダ干渉計は、光 入力部11から光分岐部12、BS13a、第2ミラー14b� �びBS13bを経由して第3の光出力部18cに至る光� �(以下「第21光路」という。)と、光入力部11� �ら光分岐部12、BS13a、第1ミラー14a及びBS13bを� ��由して第4の光出力部18dに至る光路(以下「� �22光路」という。)とを含む。

 光入力部11は、入力光をコリメートする� �ンズを備え、光搬送波がデータ信号によっ� �所定のシンボルレートで位相変調された光� �相変調信号aを入力するようになっている。� ��体的には、光入力部11は、シンボルレート20 Gbpsや40GbpsのDPSK(Differential Phase Shift Keying)やD QPSK(Differential Quadrature Phase Shift Keying)等で� �相変調された光位相変調信号aを入力するよ� ��になっている。なお、前述の位相変調方式� ��シンボルレートは一例であり、光入力部11� �入力される光位相変調信号aはこれらに限定� ��れるものではない。

 光分岐部12は、例えば図示のように複数� �ミラー12aを備え、光入力部11が入力した光を 第1の光101と第2の光102とに分岐するようにな� ��ている。

 BS13aは、例えば無偏光ビームスプリッタ� �構成され、入力された光を透過光と反射光� �に分波して出力するようになっている。な� �、BS13aは、本発明の分波器に対応している。

 具体的には、BS13aは、光分岐部12からの第 1の光101を透過して第3の光103として出力する� ��ともに、光分岐部12からの第1の光101を反射� ��て第4の光104として出力するようになってい る。また、BS13aは、光分岐部12からの第2の光1 02を透過して第5の光105として出力するととも に、光分岐部12からの第2の光102を反射して第 6の光106として出力するようになっている。

 ビット遅延器15は、第3の光103及び第5の光 105を透過し、屈折率が同一で平行な透光性板 、例えば石英ガラス板を備え、第3の光103及� �第5の光105の光路上においてシンボルレート� ��1ビットの遅延に相当する光路長を与えるよ うになっている。

 ここで、シンボルレートの1ビットに相当 する遅延時間t[s]、透光性板の屈折率をn、真� ��中の光速をcで表すと、第3の光103及び第5の� ��105の進行方向における透光性板の厚さをdは (13)式で示される。

 d=c×t/(n-1)   (13)
 (13)式において、1ビットに相当する遅延時� �t[s]は、光入力部11に入力される光位相変調� �号aのシンボルレートをSR[bps]で表すと、t=1/SR [s]であるので、シンボルレートSR=40[Gbps]の場� ��はt=25[ps]、シンボルレートSR=20[Gbps]の場合は t=50[ps]となる。よって、透過性板の屈折率が1 .5のときシンボルレートSR=40[Gbps]の場合は、� �光性板の厚さd=15[mm]となる。また、シンボル レートSR=20[Gbps]の場合は、透光性板の厚さd=30 [mm]となる。

 以上のように、ビット遅延器15は、光位� �変調信号aのシンボルレートに応じて、第1及 び第2のマッハツェンダ干渉計がそれぞれ有� �る2つの光路間に1ビットに相当する光路差を 与えることができるようになっている。

 ところで、ビット遅延器15は、前述の構� �に限定されるものではなく、例えば図2に示� ��ような構成としてもよい。図2に示されたビ ット遅延器15は、第3の光103及び第5の光105の� �射面と出射面とが平行で屈折率が同一の2つ� ��透光性板15a及び15bを備えている。透光性板1 5a及び15bは、第3の光103及び第5の光105のそれ� �れに対し、透光性板15aにおける入射角と、� �光性板15bにおける出射角とが等しくなるよ� �ハの字型に対称に傾けて設けられている。

 なお、ビット遅延器15を例えば透光性板15 a又は15bのみで構成することもできる。例え� �、透光性板15aのみを用いるとき、透光性板15 aが第3の光103及び第5の光105を屈折させるので 、図示のように第3の光103及び第5の光105の入� ��光軸と出射光軸とが異なる現象(以下「ビー ムシフト」という。)が生じる。このビーム� �フトは、ビーム自体がある程度の幅を持っ� �いるので実用上問題にはならないが、図示� �ようにハの字型に対称に傾けて設けること� �より、ビームシフトの影響をさらに除くこ� �ができて好ましい。また、図2に示されたビ� ��ト遅延器15の構成では、第3の光103及び第5の 光105の入射角がほぼ0°で設けられたものとは 異なり、入射面からの戻り光を抑えることが できて好ましい。

 図1に戻り、光位相変調評価モジュール10� ��構成の説明を続ける。

 第1ミラー14aは、ビット遅延器15を透過し� ��第3の光103及び第5の光105をそれぞれ反射し� �第7の光107及び第8の光108とし、BS13bに出力す� ��ようになっている。

 第2ミラー14bは、BS13aからの第4の光104及び 第6の光106をそれぞれ反射して第9の光109及び� ��10の光110とし、光位相差設定器16に出力する ようになっている。

 光位相差設定器16は、第9の光109の光路上に� ��けられた透光性板16aと、第10の光110の光路� �に設けられた透光性板16bとを備え、位相制� �手段17の指示に従って、第11光路と第12光路� �の位相差(δφ ₁ )と、第21光路と第22光路との位相差(δφ ₂ )との差(δφ ₁ -δφ ₂ )をπ/2の光位相差に設定するようになってい� ��。透光性板16a及び16bは、それぞれ、第9の光 109及び第10の光110を透過し、屈折率が同一で� ��行な透光性板、例えば石英ガラス板を備え� ��いる。なお、透光性板16a及び16bのそれぞれ� ��厚さは、同一でもよいし、互いに異なって� ��てもよい。また、透光性板16a及び16bのいず� ��かのみで光位相差設定器16を構成し、光位� �差(δφ ₁ -δφ ₂ )をπ/2に設定するようにしてもよい。また、� ��位相差設定器16は、本発明の光位相差設定� �段に対応している。

 なお、光位相差設定器16で生じる遅延量� �加味したビット遅延器15の遅延量が設定でき るよう、すなわちマッハツェンダ干渉計の2� �の光路差がシンボルレートの1ビット分の遅� ��となるようにする。

 透光性板16aは、図示した矢印の方向に回� ��できるようになっており、第9の光109の光路 長を変更できるものである。一方、透光性板 16bは、第10の光110を一定の入射角で入射する� ��成となっている。

 また、光位相差設定器16は、前述の構成� �限定されるものではなく、例えば図3に示す� ��うな構成とすることもできる。図3に示され た光位相差設定器16は、第10の光110の光路上� �設けられた透光性板16c及び16dと、第9の光109� ��光路上に設けられた透光性板16e及び16fと、� ��光性板16e及び16fをそれぞれ保持する保持板1 6g及び16hとを備えている。

 透光性板16c及び16dは、第10の光110に対し� �透光性板16cにおける入射角と、透光性板16d� �おける出射角とが等しくなるようハの字型� �対称に傾けて設けられている。

 透光性板16e及び16fは、第9の光109に対し、 透光性板16eにおける入射角と、透光性板16fに おける出射角とが等しくなるようハの字型に 対称に傾けて設けられている。また、透光性 板16e及び16fは、それぞれを保持する保持板16g 及び16hの少なくとも一方を、図中のA方向又� �B方向に回転させることにより、第10の光110� �光位相に対する第9の光109の光位相を設定で� ��るようになっている。

 この構成により、図3に示された光位相差 設定器16は、透光性板16cと透光性板16dとを、� ��た、透光性板16eと透光性板16fとを所定の角� ��でハの字型に対称に傾けて設けることによ� ��、ビームシフトの影響を除くことができて� ��ましい。さらに、この構成では、第9の光109 及び第10の光110の入射角がほぼ0°で設けられ� ��ものとは異なり、入射面からの戻り光を抑� ��ることができて好ましい。

 再び図1に戻り、光位相変調評価モジュー ル10の構成の説明を続ける。

 BS13bは、例えば無偏光ビームスプリッタ� �備え、入力された2組の光をそれぞれ合波し� ��干渉させることによって光位相の変化を光� ��度の変化に変換し、互いにπの光位相差を� �する2つの光強度変換信号を出力するように� ��っている。なお、BS13bは、本発明の合波器� �対応している。

 具体的には、BS13bは、第8の光108と第10の� �110とを合波することによって光位相変調信� �aの位相の変化を光強度の変化に変換して互� ��にπの光位相差を有する第1の光強度変換信� ��111及び第2の光強度変換信号112を出力すると ともに、第7の光107と第9の光109とを合波する� ��とによって光位相変調信号aの位相の変化を 光強度の変化に変換して互いにπの光位相差� ��有する第3の光強度変換信号113及び第4の光� �度変換信号114を出力するようになっている� �

 第1~4の光出力部18a~18dは、それぞれレンズ を備え、光強度変換信号111~114はそれぞれ光� �ァイバ19a~19dに集光されている。

 第1の光出力部18aは、第1の光強度変換信� �111を入力して光ファイバ19aに出力するよう� �なっている。第2の光出力部18bは、第2の光強 度変換信号112を入力して光ファイバ19bに出力 するようになっている。第3の光出力部18cは� �第3の光強度変換信号113を入力して光ファイ� ��19cに出力するようになっている。第4の光出 力部18dは、第4の光強度変換信号114を入力し� �光ファイバ19dに出力するようになっている� �

 次に、前述の光位相変調評価モジュール1 0を備えた光位相変調評価装置の構成につい� �説明する。

 図4に示すように、本実施の形態における 光位相変調評価装置100は、光位相変調評価モ ジュール10と、バランスドレシーバ120及び130� ��、信号処理部140と、表示部150とを備えてい� ��。光位相変調評価モジュール10とバランス� �レシーバ120及び130との間には、4つの光ファ� ��バ19a~19dが接続されている。

 バランスドレシーバ120は、光位相変調評� ��モジュール10からの光強度変換信号を受光� �て光電変換する受光器(以下「PD」という。)1 21及び122と、PD121及び122が光電変換した電気� �号(以下「光電変換信号」という。)の減算を 行う減算器123とを備えている。

 PD121は、光ファイバ19aを介し、光位相変� �評価モジュール10の第1の光出力部18a(図1参照 )から第1の光強度変換信号111を入力して光電� ��換し、光電変換信号を減算器123に出力する� ��うになっている。PD122は、光ファイバ19bを� �し、光位相変調評価モジュール10の第2の光� �力部18b(図1参照)から第2の光強度変換信号112� ��入力して光電変換し、光電変換信号を減算� ��123に出力するようになっている。

 減算器123は、PD121が出力する光電変換信� �とPD122が出力する光電変換信号との差分を出 力するようになっている。

 以上の構成により、バランスドレシーバ1 20は、光ファイバ19a及び19bからの光強度変換� ��号、すなわち、第1のマッハツェンダ干渉計 からの光強度変換信号をバランスド受信して 信号処理部140に出力するようになっている。

 バランスドレシーバ130は、光位相変調評� ��モジュール10からの光強度変換信号を受光� �て光電変換するPD131及び132と、PD131及び132が� ��電変換した光電変換信号の減算を行う減算� ��133とを備えている。

 PD131は、光ファイバ19cを介し、光位相変� �評価モジュール10の第3の光出力部18c(図1参照 )から第3の光強度変換信号113を入力して光電� ��換し、光電変換信号を減算器133に出力する� ��うになっている。PD132は、光ファイバ19dを� �し、光位相変調評価モジュール10の第4の光� �力部18d(図1参照)から第4の光強度変換信号114� ��入力して光電変換し、光電変換信号を減算� ��133に出力するようになっている。

 減算器133は、PD131が出力する光電変換信� �とPD132が出力する光電変換信号との差分を出 力するようになっている。

 以上の構成により、バランスドレシーバ1 30は、光ファイバ19c及び19dからの光強度変換� ��号、すなわち、第2のマッハツェンダ干渉計 からの光強度変換信号をバランスド受信して 信号処理部140に出力するようになっている。

 信号処理部140は、バランスドレシーバ120及� ��130の出力信号に基づいて、光位相変調評価� ��ジュール10に入力される光位相変調信号aの� ��相変調による相対ビット間位相差δφ _mod を算出するとともに、相対ビット間位相差ヒ ストグラム、コンスタレーション及び相対ビ ット間位相差対時間グラフ等を求めるように なっている。

 すなわち、信号処理部140は、図示を省略し� ��が、バランスドレシーバ120及び130がそれぞ� ��出力する出力信号と光位相変調信号aの相対 ビット間位相差δφ _mod との関係を予め測定して記憶した位相差テー ブルと、この位相差テーブルに記憶されたデ ータに基づき、バランスドレシーバ120及び130 がそれぞれ出力する出力信号の相対ビット間 位相差δφ _mod を算出する位相差算出手段と、算出した相対 ビット間位相差δφ _mod に基づいて相対ビット間位相差ヒストグラム 、コンスタレーション及び相対ビット間位相 差対時間グラフ等を算出する手段等を備えて いる。

 表示部150は、例えば液晶ディスプレイを� ��え、信号処理部140が算出した相対ビット間� ��相差ヒストグラム、コンスタレーション及� ��相対ビット間位相差対時間グラフ等を表示� ��るようになっている。

 次に、本実施の形態における光位相変調� ��価装置100の動作について説明する。

 最初に、図1を用いて光位相変調評価モジ ュール10の動作について説明する。

 まず、光入力部11は、光位相変調信号aを� ��力し、光分岐部12に出力する。

 次いで、光分岐部12は、光入力部11が入力 した光を第1の光101と第2の光102とに分岐し、B S13aに出力する。

 さらに、BS13aは、入力された第1の光101を� ��3の光103と第4の光104とに分波し、第3の光103� ��ビット遅延器15に出力し、第4の光104を第2ミ ラー14bに出力する。また、BS13aは、入力され� ��第2の光102を第5の光105と第6の光106とに分波� ��、第5の光105をビット遅延器15に出力し、第6 の光106を第2ミラー14bに出力する。

 続いて、第2ミラー14bは、入力された第4� �光104を反射して第9の光109として光位相差設� ��器16の透光性板16aに出力し、この第9の光109� ��、透光性板16aを透過してBS13bに入力される� �また、第2ミラー14bは、入力された第6の光106 を反射して第10の光110として光位相差設定器1 6の透光性板16bに出力し、この第10の光110は、 透光性板16bを透過してBS13bに入力される。こ� ��で、透光性板16aに入力された第9の光109は、 透光性板16aによって、第21光路が第11光路に� �して所定の位相差を有するように遅延され� �BS13bに出力される。

 一方、ビット遅延器15に入力された第3の� ��103及び第5の光105は、ビット遅延器15によっ� ��、シンボルレートの1ビットに相当する遅延 時間だけそれぞれ遅延させられ、第1ミラー14 aに入力される。

 次いで、第1ミラー14aは、ビット遅延器15� ��よって遅延された第3の光103を反射して第7� �光107としてBS13bに出力する。また、第1ミラ� �14aは、ビット遅延器15によって遅延された第 5の光105を反射して第8の光108としてBS13bに出� �する。

 引き続き、BS13bは、第8の光108と第10の光11 0とを合波して干渉させることによって位相� �変化を光強度の変化に変換し、互いにπの光 位相差を有する第1の光強度変換信号111及び� �2の光強度変換信号112を出力する。また、BS13 bは、第7の光107と第9の光109とを合波して干渉 させることによって位相の変化を光強度の変 化に変換し、互いにπの光位相差を有する第3 の光強度変換信号113及び第4の光強度変換信� �114を出力する。

 そして、第1の光出力部18aは、第1の光強� �変換信号111を入力して光ファイバ19aに出力� �る。また、第2の光出力部18bは、第2の光強度 変換信号112を入力して光ファイバ19bに出力す る。また、第3の光出力部18cは、第3の光強度� ��換信号113を入力して光ファイバ19cに出力す� ��。また、第4の光出力部18dは、第4の光強度� �換信号114を入力して光ファイバ19dに出力す� �。

 次に、図4を用いて光位相変調評価モジュ ール10の後段の動作について説明する。

 まず、バランスドレシーバ120において、P D121は、光ファイバ19aを介し、第1の光出力部1 8a(図1参照)から第1の光強度変換信号111を入力 して光電変換し、光電変換信号を減算器123に 出力する。

 同様に、PD122は、光ファイバ19bを介し、� �2の光出力部18b(図1参照)から第2の光強度変換 信号112を入力して光電変換し、光電変換信号 を減算器123に出力する。

 次いで、減算器123は、PD121が出力する光� �変換信号とPD122が出力する光電変換信号との 差分を信号処理部140に出力する。

 ここで、[発明が解決しようとする課題]の� �で説明した内容と同じ条件に基づいて、第1� ��光強度変換信号111及び第2の光強度変換信号 112をそれぞれP ₁ 及びP ₂ として数式で表すと、P ₁ 及びP ₂ は(10)、(11)式(再掲)で表される。

 P ₁ =0.5+0.5cos(δφ _mod )   (10)
 P ₂ =0.5-0.5cos(δφ _mod )   (11)

 したがって、減算器123が出力する出力信号P は(14)式で表され、オフセットパワーがキャ� �セルされるとともに、光強度が2倍となる。� ��の結果、減算器123が出力する出力信号Pに対 応する光強度I _α は(15)式で表される。

 P=P ₁ -P ₂ =cos(δφ _mod )   (14)
 I _α ∝cos(δφ _mod )        (15)

 次に、バランスドレシーバ130において、P D131は、光ファイバ19cを介し、第3の光出力部1 8c(図1参照)から第3の光強度変換信号113を入力 して光電変換し、光電変換信号を減算器133に 出力する。

 同様に、PD132は、光ファイバ19dを介し、� �4の光出力部18d(図1参照)から第4の光強度変換 信号114を入力して光電変換し、光電変換信号 を減算器133に出力する。

 次いで、減算器133は、PD131が出力する光� �変換信号とPD132が出力する光電変換信号との 差分を信号処理部140に出力する。

 ここで、[発明が解決しようとする課題]の� �で説明した内容と同じ条件に基づいて、第3� ��光強度変換信号113及び第4の光強度変換信号 114をそれぞれP ₁ 及びP ₂ として数式で表すと、光位相差設定器16(図1� �照)を設けているので、P ₁ 及びP ₂ は(16)、(17)式で表される。

 P ₁ =0.5+0.5cos(δφ _mod +π/2)  (16)
 P ₂ =0.5-0.5cos(δφ _mod +π/2)  (17)

 したがって、減算器133が出力する出力信号P は(18)式で表され、オフセットパワーがキャ� �セルされるとともに、光強度が2倍となる。� ��の結果、減算器133が出力する出力信号Pに対 応する光強度I _β は(19)式で表される。

 P=P ₁ -P ₂ =cos(δφ _mod +π/2)   (18)
 I _β ∝cos(δφ _mod +π/2)        (19)

 (19)式で表される光強度I _β は、(15)式で表される光強度I _α に対し、図5に示すような関係となる。すな� �ち、光強度I _β は、光強度I _α よりも位相がπ/2(90°)だけ遅れたものとなる� �

 引き続き、信号処理部140は、バランスドレ� ��ーバ120及び130がそれぞれ出力する出力信号� ��光位相変調信号aの相対ビット間位相差δφ _mod との関係を予め測定して記憶した位相差テー ブル(図示省略)を参照し、バランスドレシー� ��120及び130がそれぞれ出力する出力信号に基� ��いて相対ビット間位相差δφ _mod を算出する。さらに、信号処理部140は、算出 した相対ビット間位相差δφ _mod に基づいて、相対ビット間位相差ヒストグラ ム、コンスタレーション及び相対ビット間位 相差対時間グラフ等を求め、これらのデータ を表示部150に出力する。

 ここで、前述したように、光強度I _α の位相と光強度I _β の位相との間にはπ/2の位相差があるので、� �号処理部140は、光強度I _α 及びI _β に基づいて、相対ビット間位相差δφ _mod を特定することができる(図5参照)。

 最後に、表示部150は、信号処理部140が算� ��した相対ビット間位相差ヒストグラム、コ� ��スタレーション及び相対ビット間位相差対� ��間グラフ等を表示する。

 以上のように、本実施の形態における光� ��相変調評価モジュール10によれば、ビット� �延器15は、BS13bに入力される第7の光107及び第 8の光108に対し、入力された光位相変調信号a� ��シンボルレートの1ビット分だけ遅延させ、 光位相差設定器16は、BS13bに入力される第9の� ��109及び第10の光110に対し、互いの光位相差� �ゼロを除く所定の光位相差に設定する構成� �したので、従来のものとは異なり、1つのモ� ��ュールで2つの光干渉計が構成され、光位相 差0及びπ/2の信号を同時に出力することがで� ��、任意の波長に対して光位相差の設定が可� ��となった。したがって、本実施の形態にお� ��る光位相変調評価モジュール10は、光位相� �調信号aの変調状態を従来よりも正確に評価� ��ることができる。

 また、本実施の形態における光位相変調� ��価装置100によれば、光位相変調信号aの相対 的なビット間位相差を測定することができる 光位相変調評価モジュール10を備える構成と� ��たので、光位相変調信号aの相対的なビット 間位相差に基づいて相対ビット間位相差ヒス トグラム、コンスタレーション及び相対ビッ ト間位相差対時間グラフ等を算出することが でき、算出したこれらの結果に基づいて従来 よりも正確に光位相変調信号aを評価するこ� �ができる。

 なお、前述の実施の形態において、光分� ��部12が複数のミラーを備えた構成を例に挙� �て説明したが、本発明はこれに限定される� �のではなく、例えば図6に示すように、光分� ��部12が光カプラ12bを備える構成としても同� �な効果が得られる。

 また、前述の実施の形態において、第3の 光103及び第5の光105の光路上にビット遅延器15 を設け、第9の光109及び第10の光110の光路上に 光位相差設定器16を設けた構成を例に挙げて� ��明したが、本発明はこれに限定されるもの� ��はない。

 具体的には、ビット遅延器15は、第3の光1 03及び第5の光105の光路上以外に、第4の光104� �び第6の光106の光路上、第7の光107及び第8の� �108の光路上、第9の光109及び第10の光110の光� �上のいずれかに設ける構成とすることがで� �る。

 一方、光位相差設定器16は、第9の光109及� ��第10の光110の光路上以外に、第3の光103及び� ��5の光105の光路上、第4の光104及び第6の光106� ��光路上、第7の光107及び第8の光108の光路上� �いずれかに設ける構成とすることができる� �

 (第2の実施の形態)
 次に、本発明に係る光位相変調評価装置の� ��2の実施の形態について説明する。

 図7に示すように、本実施の形態における 光位相変調評価装置が備える光位相変調評価 モジュール20は、第1の実施の形態における光 位相変調評価モジュール10(図1参照)のビット� ��延器15をビット遅延器21に変更し、遅延量設 定手段22を追加したものである。したがって� ��光位相変調評価モジュール10と同様な構成� �は同一の符号を付し、重複する説明は省略� �る。

 ビット遅延器21は、第3の光103及び第5の光105 の進行方向における厚さがd ₁ の透光性板21aと、厚さがd ₂ の透光性板21bとを備えている。図示を省略し たが、ビット遅延器21は、図示した矢印の方� ��に移動可能な移動保持部に保持され、シン� ��ルレートの1ビットの遅延に相当する光路長 をシンボルレートに応じて切り替えて与える ようになっている。

 遅延量設定手段22は、シンボルレート指� �信号を受けてビット遅延器21に対して、透光 性板21a及び21bの切替え指示を示す信号を出力 するようになっている。

 透光性板21a及び21bは、例えば石英ガラス板� ��構成される。透光性板21aは、例えば屈折率� ��1.5で厚さd ₁ =30[mm]であり、シンボルレートSR=20[Gbps]の光位 相変調信号aを1ビット分遅延するようになっ� ��いる。透光性板21bは、例えば屈折率が1.5で� ��さd ₂ =15[mm]であり、シンボルレートSR=40[Gbps]の光位 相変調信号aを1ビット分遅延するようになっ� ��いる。

 なお、ビット遅延器21の構成は、図7に示� ��ものに限定されるものではなく、例えば図8 に示すようなものでもよい。

 まず、図8(a)に示されたビット遅延器23は、� ��さが互いに異なり、同じ材質の平行板で構� ��された2つの透光性板23a ₁ 及び23b ₁ と23a ₂ 及び23b ₂ とを備え、第3の光103及び第5の光105に対し、� ��光性板23a ₁ 、23b ₁ の入射角と透光性板23a ₂ 、23b ₂ の出射角とが等しくなるよう透光性板23a ₁ 及び23b ₁ と23a ₂ 及び23b ₂ とをハの字型に対称に傾けて配置したもので ある。ここで、透光性板の厚さが厚い23a側は シンボルレートSR=20[Gbps]用であり、透光性板� ��厚さが薄い23b側はシンボルレートSR=40[Gbps]� �である。この構成により、図8(a)に示された� ��ット遅延器23は、図示した矢印の方向にビ� �ト遅延器23を移動することにより、シンボル レートに応じて光路長を切り替えることがで きる。

 次に、図8(b)に示されたビット遅延器24は� ��第3の光103及び第5の光105の進行方向に平行� �断面が三角形(くさび形)である2つの透過体24 a及び24bを備えている。透過体24aは保持部(図� ��省略)に固定されており、透過体24bは図示し た矢印の方向に移動できるようになっている 。この構成により、図8(b)に示されたビット� �延器24は、透過体24bを図示した矢印の方向に 移動することにより、シンボルレートに応じ て光路長を切り替えることができる。

 なお、2つの透過体24a及び24bを移動可能な 構成としてもよい。また、図8(b)においては� �第3の光103及び第5の光105の入射角及び出射角 がほぼ0°となる構成としているが、透過体24a 及び24bを傾けて、第3の光103及び第5の光105の� ��射角及び出射角を所定角度に設定する構成� ��してもよい。この構成により、入射面での� ��射を抑えることができて好ましい。

 以上のように、本実施の形態における光� ��相変調評価モジュール20によれば、ビット� �延器21は、第3の光103及び第5の光105の進行方� ��における厚さが互いに異なる透光性板21a及� ��21bを備える構成としたので、シンボルレー� ��の1ビットの遅延に相当する光路長をシンボ ルレートに応じて切り替えて与えることがで きる。

 なお、シンボルレートが20[Gbps]及び40[Gbps] の場合の例を挙げて説明したが、本発明はこ れに限定されるものではない。例えば、厚さ が互いに異なる3つの平行板でビット遅延器21 を構成することにより、3とおりのシンボル� �ートに対しても対応することができる。

 (第3の実施の形態)
 次に、本発明に係る光位相変調評価装置の� ��3の実施の形態について説明する。

 図9に示すように、本実施の形態における 光位相変調評価装置が備える光位相変調評価 モジュール30は、第1の実施の形態における光 位相変調評価モジュール10(図1参照)に位相調� ��用遅延器31を追加したものである。したが� �て、光位相変調評価モジュール10と同様な構 成には同一の符号を付し、重複する説明は省 略する。

 位相調整用遅延器31は、第3の光103及び第5 の光105を透過し、屈折率が同一で平行な透光 性板、例えば石英ガラス板を備えている。位 相調整用遅延器31は、図示した矢印の方向に� ��転できるようになっており、第3の光103及び 第5の光105の光路上において所定の光路長を� �えるようになっている。なお、位相調整用� �延器31は、本発明の光位相差調整手段に対応 している。

 したがって、位相調整用遅延器31を図示し� �矢印の方向に回転させることにより、第3の� ��103及び第5の光105の光路長が変化し、その結 果、第1~4の光出力部18a~18dからそれぞれ出力� �れる光強度変換信号の相対ビット間位相差δ φ _mod に対する光強度が変動する。この位相調整用 遅延器31の遅延量を調整することで、光強度� ��換信号の光強度に基づいて算出される相対� ��ット間位相差の初期位相(φ)を調整すること ができる。

 なお、位相調整用遅延器31の構成は、図9� ��示されたものに限定されるものではなく、� ��えば図3において説明した光位相差設定器16� ��透光性板16e及び16fと同様に、回転可能な2つ の透光性板を設け、第3の光103及び第5の光105� ��対し、一方の透光性板における入射角と、� ��方の透光性板における出射角とが等しくな� ��ようハの字型に対称に傾けて設ける構成と� ��ることもできる。

 光位相変調評価モジュール30は、前述の� �うに構成されているので、図4に示された光� ��相変調評価モジュール10に代えて光位相変� �評価モジュール30を用いることにより、PD121� ��122、131及び132がそれぞれ出力する光電変換� ��号をモニタすることで、バランスドレシー� ��120及び130に入力される光強度変換信号の光� ��相を容易に調整することができる。

 以上のように、本実施の形態における光位� ��変調評価モジュール30によれば、位相調整� �遅延器31は、第3の光103及び第5の光105を透過� ��、回転可能な透光性板を備えた構成とした� ��で、第3の光103及び第5の光105の光路長を変� �させることにより、第1~4の光出力部18a~18dが� ��れぞれ出力する光強度変換信号の相対ビッ� ��間位相差δφ _mod に対する光強度を調整し、光強度変換信号の 光強度に基づいて算出される相対ビット間位 相差δφ _mod を校正することができる。

 なお、前述の実施の形態において、第3の 光103及び第5の光105の光路上に位相調整用遅� �器31を設ける構成について説明したが、本発 明はこれに限定されるものではなく、BS13aか� ��第1ミラー14aを経由してBS13bに至る2つの光路 とBS13aから第2ミラー14bを経由してBS13bに至る2 つの光路とのいずれかに位相調整用遅延器31� ��設ける構成とすることができる。

 (第4の実施の形態)
 次に、本発明に係る光位相変調評価装置の� ��4の実施の形態について説明する。

 図10に示すように、本実施の形態におけ� �光位相変調評価装置が備える光位相変調評� �モジュール40は、第1の実施の形態における� �位相変調評価モジュール10(図1参照)に位相調 整器41を追加したものである。したがって、� ��位相変調評価モジュール10と同様な構成に� �同一の符号を付し、重複する説明は省略す� �。

 位相調整器41は、バランスドレシーバ120� �び130(図4参照)における光電変換信号の位相� �調整するものであり、図10に示すように、第 2の光強度変換信号112の光路上に設けられた� �ラー41a、コーナーミラー41b及びミラー41cと� �第4の光強度変換信号114の光路上に設けられ� ��ミラー41d、コーナーミラー41e及びミラー41f� ��を備えている。コーナーミラー41b及び41eは� ��それぞれ別個に保持手段(図示省略)に保持� �れ、互いに独立して図中の矢印方向に移動� �きるようになっている。ここで、位相調整� �41は、本発明の光路長調整手段に対応してい る。

 この構成により、位相調整器41は、第2の� ��強度変換信号112の光路長と、第4の光強度変 換信号114の光路長とをそれぞれ独立して変化 させることができる。

 なお、図10において、コーナーミラー41b� �初期位置は、BS13bからPD121(図4参照)までの光� ��長(111、18a、19a)と、BS13bからPD122(図4参照)ま� ��の光路長(112、18b、19b)とがほぼ等しくなる� �置とするのが好ましい。また、コーナーミ� �ー41eの初期位置は、BS13bからPD131(図4参照)ま� ��の光路長(113、18c、19c)と、BS13bからPD132(図4� �照)までの光路長(114、18d、19d)とがほぼ等し� �なる位置とするのが好ましい。

 光位相変調評価モジュール40は、前述の� �うに構成されているので、図4に示された光� ��相変調評価モジュール10に代えて光位相変� �評価モジュール40を用いることにより、バラ ンスドレシーバ120及び130における光電変換信 号の位相を位相差180°(π)に調整することがで きる。

 したがって、例えば、図4に示された光フ ァイバ19a及び19bのそれぞれの長さが互いに多 少異なることにより、PD121及び122の光電変換� ��号の位相が所望値に対してずれている場合� ��も、位相調整器41を調整することによって� �望値と一致させることができる。

 以上のように、本実施の形態における光� ��相変調評価モジュール40によれば、位相調� �器41は、第2の光強度変換信号112の光路長及� �第4の光強度変換信号114の光路長を互いに独� ��して変化させる構成としたので、バランス� ��レシーバ120及び130における光電変換信号の� ��相を調整することができる。

 なお、前述の実施の形態において、第2の 光強度変換信号112及び第4の光強度変換信号11 4の光路上に位相調整器41を設ける構成につい て説明したが、本発明はこれに限定されるも のではなく、BS13bとバランスドレシーバ120及� ��130のうち少なくとも一方のバランスドレシ� ��バとの間の光路上に位相調整器41を設ける� �成としても同様の効果が得られる。

 また、位相調整器41の構成は、図10に示さ れたものに限定されるものではなく、例えば 第2の光強度変換信号112及び第4の光強度変換� ��号114の光路上にそれぞれ透光性板を設け、� ��の2つの透光性板をそれぞれ別個に回転させ て光路長を変更する構成とすることもできる 。

 (第5の実施の形態)
 次に、本発明に係る光位相変調評価装置の� ��5の実施の形態について説明する。なお、本 実施の形態の説明において、第1の実施の形� �における光位相変調評価モジュール10(図1参� ��)と同様な構成には同一の符号を付し、重複 する説明は省略する。

 図11に示すように、光位相変調評価モジ� �ール50は、光位相変調信号aを入力する光入� �部11と、入力された光位相変調信号aを第1の� ��101と第2の光102とに分岐する光分岐部12と、� ��1の光101を第3の光103と第4の光104とに分波す� ��とともに第2の光102を第5の光105と第6の光106� ��に分波するBS13aと、第4の光104を反射して第7 の光107として出力するとともに第6の光106を� �射して第8の光108として出力する第1ミラー51a と、第7の光107を反射して第9の光109として出� ��するとともに第8の光108を反射して第10の光1 10として出力する第2ミラー51bとを備えている 。

 また、光位相変調評価モジュール50は、� �5の光105と第10の光110とを合波することによ� �て光位相変調信号aの位相の変化を光強度の� ��化に変換して互いにπの光位相差を有する� �1の光強度変換信号111及び第2の光強度変換信 号112を出力するとともに第3の光103と第9の光1 09とを合波することによって光位相変調信号a の位相の変化を光強度の変化に変換して互い にπの光位相差を有する第3の光強度変換信号 113及び第4の光強度変換信号114を出力するBS13b と、シンボルレートの1ビットの遅延に相当� �る光路長を与えるビット遅延器52と、光位相 差を設定する光位相差設定器16と、光位相差� ��設定値を光位相差設定器16に指示する位相� �御手段17とを備えている。

 さらに、光位相変調評価モジュール50は� �第1の光強度変換信号111を入力して光ファイ� ��19aに出力する第1の光出力部18aと、第2の光� �度変換信号112を入力して光ファイバ19bに出� �する第2の光出力部18bと、第3の光強度変換信 号113を入力して光ファイバ19cに出力する第3� �光出力部18cと、第4の光強度変換信号114を入� ��して光ファイバ19dに出力する第4の光出力部 18dとを備えている。

 ここで、光位相変調評価モジュール50は� �2つのマッハツェンダ干渉計を備える構成と� ��っている。

 まず、第1のマッハツェンダ干渉計は、光 入力部11から光分岐部12、BS13a、第1ミラー51a� �第2ミラー51b及びBS13bを経由して第1の光出力� ��18aに至る光路(以下「第31光路」という。)と 、光入力部11から光分岐部12、BS13a及びBS13bを� ��由して第2の光出力部18bに至る光路(以下「� �32光路」という。)とを含む。

 次に、第2のマッハツェンダ干渉計は、光 入力部11から光分岐部12、BS13a、第1ミラー51a� �第2ミラー51b及びBS13bを経由して第3の光出力� ��18cに至る光路(以下「第41光路」という。)と 、光入力部11から光分岐部12、BS13a及びBS13bを� ��由して第4の光出力部18dに至る光路(以下「� �42光路」という。)とを含む。

 なお、本実施の形態において、光入力部1 1、光分岐部12、BS13a、第1~4の光出力部18a~18dの 構成は、第1の実施の形態における光位相変� �評価モジュール10(図1参照)と同様であるので 説明を省略する。

 第1ミラー51aは、BS13aからの第4の光104及び 第6の光106をそれぞれ反射して第7の光107及び� ��8の光108とし、光位相差設定器16に出力する� ��うになっている。

 第2ミラー51bは、光位相差設定器16を透過� ��た第7の光107及び第8の光108をそれぞれ反射� �て第9の光109及び第10の光110とし、BS13bに出力 するようになっている。

 他方、BS13aを透過した第3の光103及び第5の 光105は、ビット遅延器52を通過後、BS13bでそ� �ぞれ第9の光109及び第10の光110と合波される� �うになっている。

 ビット遅延器52は、例えば図示のように� �数のミラーで構成され、第3の光103及び第5の 光105の光路上において、マッハツェンダ干渉 計の両アーム間の光路長差間にシンボルレー トの1ビットの遅延に相当する光路長を与え� �ようになっている。本実施の形態において� �、ビット遅延器52は、入力側ミラー52a、コー ナーミラー52b及び出力側ミラー52cを備え、コ ーナーミラー52bは、例えばモータで平行移動 される保持手段(図示省略)に保持され、図中� ��矢印方向に移動できるようになっている。

 具体的には、本実施の形態において、BS13 a~第1ミラー51a間の光路長と、BS13b~第2ミラー51 b間の光路長とが等しい構成となっており、� �れらの光路長と、入力側ミラー52a~コーナー� ��ラー52b間の光路長及びコーナーミラー52b~出 力側ミラー52c間の光路長とが等しい位置にコ ーナーミラー52bの初期位置(ゼロ点)が設定さ� ��るようビット遅延器52が構成されている。

 ビット遅延器52は、前述のように構成さ� �ているので、光位相変調評価モジュール50は 、コーナーミラー52bの位置調整によって、第 1及び第2のマッハツェンダ干渉計における両� ��ーム間の光路長差を任意に設定することが� ��き、被測定信号のシンボルレートに応じて� ��意の光路長差を設定することができる。

 ここで、ビット遅延器52において、シン� �ルレートの1ビットに相当する光路長差dは、 遅延時間t[s]、空間の屈折率をn、真空中の光� ��をcで表すと、(20)式で示される。

 d=c×t/n   (20)

 (20)式において、1ビットに相当する遅延� �間t[s]は、光入力部11に入力される光位相変� �信号aのシンボルレートをSR[bps]で表すと、t=1 /SR[s]であるので、シンボルレートSR=40[Gbps]の� ��合はt=25[ps]、シンボルレートSR=20[Gbps]の場合 はt=50[ps]となる。よって、シンボルレートSR=4 0[Gbps]の場合に与えるべき光路長差d=7.5[mm]と� �る。また、シンボルレートSR=20[Gbps]の場合に 与えるべき光路長差d=15[mm]となる。

 以上のように、ビット遅延器52は、光位� �変調信号aのシンボルレートに応じて、第1及 び第2のマッハツェンダ干渉計がそれぞれ有� �る2つの光路間に1ビットに相当する光路差を 与えることができるようになっている。

 光位相差設定器16は、第7の光107の光路上� ��設けられた透光性板16aと、第8の光108の光路 上に設けられた透光性板16bとを備え、位相制 御手段17の指示に従って、第31光路と第32光路 との位相差(δφ1)と、第41光路と第42光路との� ��相差(δφ2)との差(δφ1-δφ2)をπ/2の光位相差� ��設定するようになっている。透光性板16a及� ��16bは、それぞれ、第7の光107及び第8の光108� �透過し、屈折率が同一で平行な透光性板、� �えば石英ガラス板を備えている。なお、透� �性板16a及び16bのそれぞれの厚さは、同一で� �よいし、互いに異なっていてもよい。また� �透光性板16a及び16bのいずれかのみで光位相� �設定器16を構成し、光位相差(δφ1-δφ2)をπ/2� ��設定するようにしてもよい。

 透光性板16aは、図示した矢印の方向に回� ��できるようになっており、第7の光107の光路 長を変更できるものである。一方、透光性板 16bは、第8の光108を一定の入射角で入射する� �成となっている。

 BS13bは、例えば無偏光ビームスプリッタ� �備え、第5の光105と第10の光110とを合波する� �とによって光位相変調信号aの位相の変化を� ��強度の変化に変換して互いにπの光位相差� �有する第1の光強度変換信号111及び第2の光強 度変換信号112を出力するとともに第3の光103� �第9の光109とを合波することによって光位相� ��調信号aの位相の変化を光強度の変化に変換 して互いにπの光位相差を有する第3の光強度 変換信号113及び第4の光強度変換信号114を出� �するようになっている。

 前述のように構成された光位相変調評価モ� ��ュール50を、第1の実施の形態において説明� ��た光位相変調評価装置100(図4参照)に適用す� ��ことにより、第1の実施の形態と同様に、信 号処理部140は、光強度I _α 及びI _β に基づいて、相対ビット間位相差δφ _mod を特定することができる(図5参照)。

 なお、第1の実施の形態の光位相変調評価 装置100において、受光部(PD)の応答特性が十� �でない場合には、図12に示すような光位相変 調評価装置200を構成することもできる。図12� ��おいて、第1の実施の形態における光位相変 調評価装置100と同様な構成には同一の符号を 付している。

 光位相変調評価装置200は、光位相変調評� ��モジュール50と、光サンプリング部201と、� �号処理部140と、表示部150とを備えている。� �位相変調評価モジュール50と光サンプリング 部201との間には、2つの光ファイバ19a及び19c� �接続されている。

 光サンプリング部201は、光ファイバ19a及� ��19cからそれぞれ入射される光に対し非線形� ��学効果を用いて光サンプリングを行うよう� ��なっており、例えば、非線形光学材料、光� ��ィルタ、受光素子等を備えている。

 この構成により、光位相変調評価装置200は� ��非線形光学効果を用いて光サンプリングさ� ��た光学信号を受光素子で電気信号に変換し� ��この電気信号に基づいて相対ビット間位相� ��δφ _mod を特定することができる。

 以上のように、本実施の形態における光� ��相変調評価モジュール50によれば、1つのモ� ��ュールで2つの光干渉計が構成され、しかも ビット遅延器52によって光干渉計の両アーム� ��にシンボルレートの1ビット分の遅延を与え ることができ、さらに光位相差設定器16によ� ��て2つの光干渉計の出力信号間に光位相差π/ 2を与えることができる構成としたので、光� �相変調信号aの直交成分の信号強度が検出で� ��、位相測定を容易に行うことができる。ま� ��、任意の波長に対して光位相差の設定が可� ��である。したがって、本実施の形態におけ� ��光位相変調評価モジュール50は、光位相変� �信号aの変調状態を従来よりも正確に評価す� ��ことができる。

 また、本実施の形態における光位相変調� ��価モジュール50を光位相変調評価装置100(図4 参照)に適用すれば、光位相変調信号aの相対� ��なビット間位相差に基づいて相対ビット間� ��相差ヒストグラム、コンスタレーション及� ��相対ビット間位相差対時間グラフ等を算出� ��ることができ、算出したこれらの結果に基� ��いて従来よりも正確に光位相変調信号aを評 価することができる。

 また、本実施の形態における光位相変調� ��価モジュール50を光位相変調評価装置200(図1 2参照)に適用すれば、非線形光学効果を用い� ��光サンプリングした光信号に基づき、より� ��速に光位相変調信号aを評価することができ る。

 (第6の実施の形態)
 次に、本発明に係る光位相変調評価装置の� ��6の実施の形態について説明する。

 図13に示すように、本実施の形態におけ� �光位相変調評価装置が備える光位相変調評� �モジュール60は、第5の実施の形態における� �位相変調評価モジュール50(図11参照)に、第4� ��実施の形態における位相調整器41(図10参照)� ��追加したものである。したがって、光位相� ��調評価モジュール50と同様な構成には同一� �符号を付し、重複する説明は省略する。

 位相調整器41は、バランスドレシーバ120� �び130(図4参照)における光電変換信号の位相� �調整するものであり、図13に示すように、第 2の光強度変換信号112の光路上に設けられた� �ラー41a、コーナーミラー41b及びミラー41cと� �第4の光強度変換信号114の光路上に設けられ� ��ミラー41d、コーナーミラー41e及びミラー41f� ��を備えている。コーナーミラー41b及び41eは� ��それぞれ別個に保持手段(図示省略)に保持� �れ、互いに独立して図中の矢印方向に移動� �きるようになっている。

 この構成により、位相調整器41は、第2の� ��強度変換信号112の光路長と、第4の光強度変 換信号114の光路長とをそれぞれ独立して変化 させることができる。

 なお、図13において、コーナーミラー41b� �初期位置は、BS13bからPD121(図4参照)までの光� ��長(111、18a、19a)と、BS13bからPD122(図4参照)ま� ��の光路長(112、18b、19b)とがほぼ等しくなる� �置とするのが好ましい。また、コーナーミ� �ー41eの初期位置は、BS13bからPD131(図4参照)ま� ��の光路長(113、18c、19c)と、BS13bからPD132(図4� �照)までの光路長(114、18d、19d)とがほぼ等し� �なる位置とするのが好ましい。

 光位相変調評価モジュール60は、前述の� �うに構成されているので、図4に示された光� ��相変調評価モジュール10に代えて光位相変� �評価モジュール60を用いることにより、バラ ンスドレシーバ120及び130における光電変換信 号の位相を位相差180°(π)に調整することがで きる。

 したがって、例えば、図4に示された光フ ァイバ19a及び19bのそれぞれの長さが互いに多 少異なることにより、PD121及び122の光電変換� ��号の位相が所望値に対してずれている場合� ��も、位相調整器41を調整することによって� �望値と一致させることができる。

 以上のように、本実施の形態における光� ��相変調評価モジュール60によれば、位相調� �器41は、第2の光強度変換信号112の光路長及� �第4の光強度変換信号114の光路長を互いに独� ��して変化させる構成としたので、バランス� ��レシーバ120及び130における光電変換信号の� ��相を調整することができる。

 なお、前述の実施の形態において、第2の 光強度変換信号112及び第4の光強度変換信号11 4の光路上に位相調整器41を設ける構成につい て説明したが、本発明はこれに限定されるも のではなく、BS13bとバランスドレシーバ120及� ��130のうち少なくとも一方のバランスドレシ� ��バとの間の光路上に位相調整器41を設ける� �成としても同様の効果が得られる。

 また、位相調整器41の構成は、図13に示さ れたものに限定されるものではなく、例えば 第2の光強度変換信号112及び第4の光強度変換� ��号114の光路上にそれぞれ透光性板を設け、� ��の2つの透光性板をそれぞれ別個に回転させ て光路長を変更する構成とすることもできる 。

 (第7の実施の形態)
 次に、本発明に係る光位相変調評価装置の� ��7の実施の形態について説明する。

 図14に示すように、本実施の形態におけ� �光位相変調評価装置70は、第1の実施の形態� �おける光位相変調評価モジュール10(図1参照) の後段部を変更し、図4に示したバランスド� �シーバ120及び130等を付加したものである。� �たがって、図1及び図4に示したものと同様な 構成には同一の符号を付し、重複する説明は 省略する。なお、図14において、図4に示した 信号処理装置140及び表示部150の図示を省略し ている。

 光位相変調評価装置70は、BS13bが出力する 第1の光強度変換信号111及び第3の光強度変換� ��号113を反射するミラー71と、BS13bが出力する 第2の光強度変換信号112及び第4の光強度変換� ��号114を反射するミラー72と、第1~第4の光強� �変換信号の光をそれぞれ集光するレンズ73a~7 3dと、第1の光強度変換信号111と第2の光強度� �換信号112とをバランスド受信するバランス� �レシーバ120と、第3の光強度変換信号113と第4 の光強度変換信号114とをバランスド受信する バランスドレシーバ130とを備えている。

 この構成により、光位相変調評価装置70� �、ミラー71及び72を用いることによって、光� ��相変調評価モジュールとバランスドレシー� ��120及び130とを空間的に結合することができ� ��図4に示した光ファイバ19a~19dを用いること� �く、BS13bからバランスドレシーバ120及び130ま でのそれぞれの光路長をほぼ等しくすること ができる。

 なお、前述の構成において、レンズ73a~73d を備えることは必須ではない。また、レンズ 73a及び73bとバランスドレシーバ120とを、また 、レンズ73c及び73dとバランスドレシーバ130と をそれぞれ一体化する構成としてもよい。

 さらに、図15に示すように、第1の光強度� ��換信号111及び第2の光強度変換信号112を出力 する干渉計の光軸がなす平面と、第3の光強� �変換信号113及び第4の光強度変換信号114を出� ��する干渉計の光軸がなす平面とが、図14に� �いて紙面と垂直な方向にずれた2重干渉計と� ��るように構成すれば、バランスドレシーバ1 20及び130の図14における水平方向の位置を同� �くすることができる。