KAMEDA AKIRA
HAMADA RYUJI
KAMEDA AKIRA
JP2004309422A | 2004-11-04 | |||
JP2000276233A | 2000-10-06 | |||
JPH07273497A | 1995-10-20 | |||
JP2004031868A | 2004-01-29 | |||
JP2006040978A | 2006-02-09 | |||
JP2004146785A | 2004-05-20 |
導電性粒子を含む接着部材を介してパネル表面に実装された部品の所定の実装位置からのずれ量を検出する装置であって、 第1検査光をパネルに形成されたパネル認識マークに照射する第1検査光照明と、 第2検査光を部品に形成された部品認識マークに照射する第2検査光照明と、 パネルに部品が実装される側とは反対側のパネルの裏面側に配設され、前記第1検査光が照射されたパネル認識マークを撮像する第1カメラと、 部品がパネルと接合しない側の部品の裏面側に配設され、前記第2検査光が照射された部品認識マークを撮像する第2カメラと、 前記パネル認識マークの撮像結果と前記部品認識マークの撮像結果とから前記パネル認識マーク及び前記部品認識マークの所定の位置関係からのずれ量を算出するずれ量算出手段とを備える ことを特徴とする検査装置。 |
前記第1検査光は、パネルを透過し、かつ前記導電性粒子を透過しないあるいは透過し難い波長の光であり、パネルの部品が実装される側のパネルの表面に形成されたパネル認識マークに照射され、 前記第2検査光は、部品を透過し、かつ前記導電性粒子を透過しないあるいは透過し難い波長の光であり、部品のパネルに実装される側の部品の表面に形成された部品認識マークに照射される ことを特徴とする請求項1に記載の検査装置。 |
前記第1検査光照明は、可視光照明であり、 前記第2検査光照明は、赤外光照明であり、 前記第1カメラは、可視カメラであり、 前記第2カメラは、赤外線カメラである ことを特徴とする請求項1又は2に記載の検査装置。 |
前記第1カメラ及び第2カメラは、同軸上に配置される ことを特徴とする請求項1~3のいずれか1項に記載の検査装置。 |
導電性粒子を含む接着部材を介してパネルの表面に実装された部品の所定の実装位置からのずれ量を検出する方法であって、 第1検査光をパネルに形成されたパネル認識マークに照射する第1照射ステップと、 第2検査光を部品に形成された部品認識マークに照射する第2照射ステップと、 パネルに部品が実装される側とは反対側のパネルの裏面側より、前記第1検査光が照射されたパネル認識マークを撮像する第1撮像ステップと、 部品がパネルと接合しない側の部品の裏面側より、前記第2検査光が照射された部品認識マークを撮像する第2撮像ステップと、 前記パネル認識マークの撮像結果と、前記部品認識マークの撮像結果とから前記パネル認識マーク及び前記部品認識マークの所定の位置関係からのずれ量を算出するずれ量算出ステップとを含む ことを特徴とする検査方法。 |
前記第1照射ステップでは、パネルを透過し、かつ前記導電性粒子を透過しない波長の前記第1検査光を、パネルに部品が実装される側のパネルの表面に形成されたパネル認識マークに照射し、 前記第2照射ステップでは、部品を透過し、かつ前記導電性粒子を透過しないあるいは透過し難い波長の第2検査光を、部品がパネルに実装される側の部品の表面に形成された部品認識マークに照射する ことを特徴とする請求項5に記載の検査方法。 |
前記第1照射ステップでは、第1検査光として可視光を照射し、 前記第2照射ステップでは、第2検査光として赤外光を照射する ことを特徴とする請求項5又は6に記載の検査方法。 |
本発明は、検査装置及び検査方法に関し 特に電子部品の基板への実装状態を検査す 検査装置及び検査方法に関する。
従来から、ITO(Indium Tin Oxide)等で構成さ る電極を持った液晶ディスプレイ及びプラ マディスプレイ等のフラットパネルディス レイ(以下、パネルという)上に、電極を持っ たTAB(Tape Automated Bonding)基板、半導体素子及 フレキシブル基板等の電子部品(以下、部品 という)を実装することが行われている。
この実装では、部品とパネルとの間に異 性導電シート(以下、ACFという)を介在させ 状態で部品のパネルへの仮圧着及び本圧着 行われ、パネルの電極(以下、パネル電極と う)と部品の電極(以下、部品電極という)と 接合される。仮圧着においては、熱圧着加 ヘッドにより部品を弱く押圧して部品の仮 着が行われ、その後の本圧着では、仮圧着 れた部品を熱圧着加圧ヘッドにより仮圧着 り高い温度と圧力で押圧して部品の本圧着 行われる。さらに、部品の所定の実装位置 らの相対的なずれ量が検査装置により検出 れる。検出されたずれ量は次のパネルの部 実装にフィードバックされ、位置ずれを補 した実装が行われる。
このような部品のずれ量を検出する検査装
としては、例えば特許文献1に記載のものが
ある。この検査装置においてずれ量の検出は
、透明基板に設けられたアライメントマーク
と、部品に設けられたアライメントマークと
のずれ量を検出することにより行われる。
ところで、特許文献1に記載の検査装置に おいて部品のアライメントマークの位置は、 透明基板の裏面(部品が実装されていない側 透明基板の面)側から該アライメントマーク 近赤外光を照射し、透明基板の裏面側で撮 装置により該アライメントマークを撮像し その撮像結果に基づいて検出される。従っ 、この検査装置では、ACF等の導電性粒子を む接合部材を介してパネルに実装された部 のずれ量を検出することはできない。すな ち、金属等の導電性粒子は近赤外光を透過 ないあるいは透過し難いため、透明基板の 面側から近赤外光を照射しても、近赤外光 部品に設けられたアライメントマークに届 ことは無く、部品のアライメントマークを 像することができないのである。
そこで、本発明は、かかる問題点に鑑み 導電性粒子を含む接着部材を介してパネル 実装された部品のずれ量を検出することが 能な検査装置及び検査方法を提供すること 目的とする。
上記目的を達成するために、本発明の検 装置は、導電性粒子を含む接着部材を介し パネル表面に実装された部品の所定の実装 置からのずれ量を検出する装置であって、 1検査光をパネルに形成されたパネル認識マ ークに照射する第1検査光照明と、第2検査光 部品に形成された部品認識マークに照射す 第2検査光照明と、パネルに部品が実装され る側とは反対側のパネルの裏面側に配設され 、前記第1検査光が照射されたパネル認識マ クを撮像する第1カメラと、部品がパネルと 合しない側の部品の裏面側に配設され、前 第2検査光が照射された部品認識マークを撮 像する第2カメラと、前記パネル認識マーク 撮像結果と前記部品認識マークの撮像結果 から前記パネル認識マーク及び前記部品認 マークの所定の位置関係からのずれ量を算 するずれ量算出手段とを備えることを特徴 する。
ここで、前記第1検査光は、パネルを透過 し、かつ前記導電性粒子を透過しないあるい は透過し難い波長の光であり、パネルに部品 が実装される側のパネルの表面に形成された パネル認識マークに照射され、前記第2検査 は、部品を透過し、かつ前記導電性粒子を 過しないあるいは透過し難い波長の光であ 、部品がパネルに実装される側の部品の表 に形成された部品認識マークに照射されて よい。
これにより、導電性粒子を介さずに部品 識マークに第2検査光を照射して部品認識マ ークを位置認識し、さらにパネル認識マーク に第1検査光を照射してパネル認識マークを 置認識できる。従って、導電性粒子の影響 受けることなくパネル認識マーク及び部品 識マークを位置認識することができるので ACF等の導電性粒子を含む接着部材を介して ネルに実装された部品のずれ量を検出する とができる。
また、前記第1検査光照明は、可視光照明 であり、前記第2検査光照明は、赤外光照明 あり、前記第1カメラは、可視カメラであり 前記第2カメラは、赤外線カメラである。
これにより、特殊な照明及びカメラが必 とされないため、装置の大型化及び複雑化 防止することができる。
また、前記第1カメラ及び第2カメラは、 軸上に配置されるのが好ましい。
これにより、得られた部品認識マーク及 パネル認識マークの画像を大幅に補正する となく、ずれ量を検出することができる。
また、本発明は、導電性粒子を含む接着 材を介してパネルの表面に実装された部品 所定の実装位置からのずれ量を検出する方 であって、第1検査光をパネルに形成された パネル認識マークに照射する第1照射ステッ と、第2検査光を部品に形成された部品認識 ークに照射する第2照射ステップと、パネル に部品が実装される側とは反対側のパネルの 裏面側より、前記第1検査光が照射されたパ ル認識マークを撮像する第1撮像ステップと 部品がパネルと接合しない側の部品の裏面 より、前記第2検査光が照射された部品認識 マークを撮像する第2撮像ステップと、前記 ネル認識マークの撮像結果と、前記部品認 マークの撮像結果とから前記パネル認識マ ク及び前記部品認識マークの所定の位置関 からのずれ量を算出するずれ量算出ステッ とを含むことを特徴とする検査方法とする ともできる。
これにより、ACF等の導電性粒子を含む接 部材を介してパネルに実装された部品のず 量を検出することが可能な検査方法を実現 きる。
本発明によれば、導電性粒子を含む接着 材を介してパネルに実装された部品のずれ を検出することが可能な検査装置及び検査 法を実現できるという効果が奏される。
100 部品実装システム
101、106 ローダ
102 洗浄機
103a、103b パネル実装機
104 部品供給ユニット
105 検査機
108 ラインコントローラ
109 通信ケーブル
113 ACF貼付装置
114 仮圧着装置
115、116 本圧着装置
200 パネル
201 部品
202、204、206 熱圧着加圧ヘッド
203、205、207、301 バックアップステージ
210 ACF
300 実装済パネル
302 パネル移載ステージ部
303 パネル下搬送移載軸部
304 可視光照明
305 赤外光照明
306 可視カメラ
307 赤外線(IR)カメラ
410、430、440 制御部
411、431、441 記憶部
411a マスタテーブル
412、432、442 入力部
413、433、443 表示部
414、434、444 通信I/F部
415 演算部
431a フィードバックデータ
435、445 機構部
436 データ更新部
441a 検査位置データ
446 ずれ量算出部
500、600 パネル認識マーク
501、601 部品認識マーク
502 導電性粒子
以下、本発明の実施の形態における部品 装システムについて、図面を参照しながら 明する。
図1は、本実施の形態の部品実装システム 100の全体構成を示す概念図である。
この部品実装システム100は、ローダ101、 浄機102、2つのパネル実装機103a及び103b、部 供給ユニット104、検査機105及びローダ106か 構成されるラインと、ラインコントローラ1 08と、通信ケーブル109とから構成されている
ローダ101は、パネルをラインに供給する 洗浄機102は、ローダ101により供給されたパ ルのACFが貼り付けられる部分を洗浄する。2 つのパネル実装機103a及び103bは、それぞれパ ルの異なる辺に部品を実装・本圧着する。 品供給ユニット104は、パネル実装機103aに部 品を供給する。検査機105は、ACFを介してパネ ル表面に実装された部品の実装位置と部品の 所定の実装位置との相対的なずれ量を検出す る。ローダ106は、部品が実装されたパネル( 下、実装済パネルという)を排出する。ライ コントローラ108は、ライン全体の稼動状況 各種データの通信等を管理・制御する。通 ケーブル109は、ラインコントローラ108と各 置とを接続する。
パネル実装機103aは、ACF貼付装置113、仮圧 着装置114及び本圧着装置115から構成される。 ACF貼付装置113は、パネルに部品が実装される 側のパネル表面の長辺部及び短辺部にACFを貼 り付ける。仮圧着装置114は、熱圧着加圧ヘッ ドにより部品を載置し、弱く押圧してパネル 表面に仮圧着する。本圧着装置115は、パネル 表面の長辺部に仮圧着された部品を熱圧着加 圧ヘッドにより仮圧着より高い温度と圧力で 押圧してパネル表面に本圧着する。
パネル実装機103bは、本圧着装置116から構 成される。本圧着装置116は、熱圧着加圧ヘッ ドによりパネル表面の短辺部に仮圧着された 部品を仮圧着より高い温度と圧力で押圧して パネル表面に本圧着する。
図2は、パネル実装機103a及び103bにおいて 品がパネルに実装される様子を示す図であ 。
まず、ACF貼付装置113でパネル200表面の側 部での部品が実装される領域にACF210を貼り けた後、仮圧着装置114にパネル200を移動さ る。
次に、部品201を保持する熱圧着加圧ヘッ 202を下降させ(図2(a))、バックアップステー 203上に載置されたパネル200表面のACF210が貼 付けられた部分に部品201を仮圧着する(図2(b ))。
次に、本圧着装置115にパネル200を移動さ た後、熱圧着加圧ヘッド204を下降させ(図2(c ))、バックアップステージ205上に載置された ネル200表面の長辺部に仮圧着された部品201 本圧着する(図2(d))。
最後に、本圧着装置116にパネル200を移動 せた後、熱圧着加圧ヘッド206を下降させ(図 2(e))、バックアップステージ207上に載置され パネル200表面の短辺部に仮圧着された部品2 01を本圧着する(図2(f))。
図3(a)は検査機105の概略構成を示す斜視図 であり、図3(b)は検査機105により実装済パネ 300が検査される様子を示す図である。
検査機105は、バックアップステージ301、 ネル移載ステージ部302、パネル下搬送移載 部303、可視光照明304、赤外光照明305、可視 メラ306及び赤外線(IR)カメラ307を備える。
なお、可視光照明304は本発明の第1検査光 照明の一例であり、赤外光照明305は本発明の 第2検査光照明の一例である。また、可視カ ラ306は本発明の第1カメラの一例であり、IR メラ307は本発明の第2カメラの一例である。
バックアップステージ301には、実装済パ ル300が載置される。パネル移載ステージ部3 02は、バックアップステージ301に実装済パネ 300を移載する。パネル下搬送移載軸部303は 実装済パネル300をパネル移載ステージ部302 移送する。
可視光照明304は、実装済パネル300の裏面( 実装済パネル300の部品が実装されていない面 )側に配設され、実装済パネル300裏面に可視 を照射する。実装済パネル300は可視光に対 て透明であるため、可視光照明304により照 された可視光は実装済パネル300を透過し、 装済パネル300表面(実装済パネル300の部品が 装されている面)に形成されたパネル認識マ ークに照射される。このとき、パネルは主に ガラスを材質として、パネル認識マークは主 にAlを材質として形成されている。
赤外光照明305は、部品の裏面(部品のパネ ルと接合しない面)側に配設され、部品裏面 赤外光を照射する。部品は赤外光に対して 明であるため、赤外光照明305により照射さ た赤外光は部品を透過し、部品表面(部品の ネルと接合する面)に形成された部品認識マ ークに照射される。このとき、部品は主にポ リイミドやSiを材質として、部品認識マーク 主にAlを材質として形成されている。
可視カメラ306は、実装済パネル300の裏面 に配設される。可視カメラ306は、可視光が 射されたパネル認識マークを撮像する。
IRカメラ307は、部品がパネルに実装され 側と反対側である部品の裏面側に配設され 。IRカメラ307は、赤外光が照射された部品認 識マークを撮像する。
可視光照明304、赤外光照明305、可視カメ 306及びIRカメラ307は、図4に示されるように 同軸上に配置され、可視光照明304及び可視 メラ306と赤外光照明305及びIRカメラ307とは 装済パネル300を跨いで対向して位置する。 お、同軸上とは、可視光照明304及び赤外光 明305の向き(照明方向)と、可視カメラ306及び IRカメラ307の向き(撮像方向)とが実質的に同 直線上にあることをいう。
図5は、部品実装システム100の概略構成を 示す機能ブロック図である。
ラインコントローラ108は、制御部410、記 部411、入力部412、表示部413、通信I/F部414及 演算部415を備える。
制御部410は、オペレータからの指示等に って、記憶部411のライン制御データを実行 、その実行結果に従って各部を制御する。
記憶部411は、ハードディスクやメモリ等 あり、ライン制御データ及びマスタテーブ 411a等を保持する。マスタテーブル411aは、 応付けられた一組の実装位置及び補正量(フ ードバック量)を示す情報からなる。
入力部412は、キーボードやマウス等であ 、表示部413は、CRT(Cathode-Ray Tube)やLCD(Liquid Crystal Display)等である。これらは、本ライン ントローラ108とオペレータとが対話する等 ために用いられる。
通信I/F部414は、LAN(Local Area Network)アダプ タ等であり、本ラインコントローラ108とパネ ル実装機103a及び検査機105との通信等に用い れる。
演算部415は、検査機105で算出されたずれ に基づいて補正量を算出し、記憶部411のマ タテーブル411aを更新する。
パネル実装機103aは、制御部430、記憶部431 、入力部432、表示部433、通信I/F部434、機構部 435及びデータ更新部436を備える。
制御部430は、オペレータからの指示等に って、記憶部431のNCデータを実行し、その 行結果に従って各部を制御する。
記憶部431は、ハードディスクやメモリ等 あり、NCデータ、及びフィードバックデー 431a等を保持する。フィードバックデータ431a は、対応付けられた一組の実装位置及び補正 量を示す情報からなる。
入力部432は、キーボードやマウス等であ 、表示部433は、CRTやLCD等である。これらは 本パネル実装機103aとオペレータとが対話す る等のために用いられる。
通信I/F部434は、LANアダプタ等であり、本 ネル実装機103aとラインコントローラ108との 通信等に用いられる。
機構部435は、熱圧着加圧ヘッド、搬送部 アーム、XYテーブル、部品供給部、及びこ らを駆動するモータやモータコントローラ を含む機構部品の集合である。
データ更新部436は、ラインコントローラ1 08から送信されたマスタテーブル411aを基に記 憶部431のフィードバックデータ431aを更新す 。
検査機105は、制御部440、記憶部441、入力 442、表示部443、通信I/F部444、機構部445及び れ量算出部446を備える。
なお、ずれ量算出部446は本発明のずれ量 出手段の一例である。
制御部440は、オペレータからの指示等に って、記憶部441のNCデータを実行し、その 行結果に従って各部を制御する。
記憶部441は、ハードディスクやメモリ等 あり、NCデータ及び検査位置データ441a等を 持する。検査位置データ441aは、検査機105に て検査が行われる対象となる全ての位置を示 す情報の集まりである。
入力部442は、キーボードやマウス等であ 、表示部443は、CRTやLCD等である。これらは 本検査機105とオペレータとが対話する等の めに用いられる。
通信I/F部444は、LANアダプタ等であり、本 査機105とラインコントローラ108との通信等 用いられる。
機構部445は、パネル移載ステージ部、パ ル下搬送移載軸部、可視光照明、赤外光照 、可視カメラ及びIRカメラ、並びにこれら 駆動するモータやモータコントローラ等を む機構部品の集合である。
ずれ量算出部446は、可視カメラ及びIRカ ラの撮像により得られた画像データに基づ 、部品の実装位置を認識し、所定の実装位 からのずれ量を算出する。具体的には、可 カメラによるパネル認識マークの撮像結果 、IRカメラによる部品認識マークの撮像結果 とからパネル認識マーク及び部品認識マーク の所定の位置関係からのずれ量を算出する。 なお、所定の位置関係からのずれ量とは、例 えばパネル認識マークを基準としたときの部 品認識マークの所定の位置と実際の部品認識 マークの位置との距離、又は部品認識マーク を基準としたときのパネル認識マークの所定 の位置と実際のパネル認識マークの位置との 距離をいう。また、所定の位置関係は、例え ばパネル認識マーク及び部品認識マークの両 方が移った画像から導出され、その画像は記 憶部441に格納される。
次に、部品実装システム100のフィードバ ク動作(部品の実装ずれ量を部品実装にフィ ードバックする流れ)について詳細に説明す 。図6は、部品実装システム100のフィードバ ク動作を示すシーケンスである。
まず、検査機105の制御部440は、機構部445 より実装済パネル300の1組のパネル認識マー ク及び部品の部品認識マークを撮像させる( テップS11)。具体的には、可視光照明304によ 検査位置データ441aに示される位置の1つに 成されたパネル認識マークに、実装済パネ 300に部品が実装されている側と反対側の実 済パネル300の裏面側から可視光を照射させ 実装済パネル300の裏面側より該パネル認識 ークを可視カメラ306により撮像させる。同 に、赤外光照明305により検査位置データ441a 示される位置の1つに実装された部品の部品 認識マークに、部品がパネルに実装される側 と反対側である部品の裏面側から赤外光を照 射させ、部品の裏面側より該パネル認識マー クをIRカメラ307により撮像させる。
次に、検査機105の制御部440は、ずれ量算 部446により位置ずれ量を算出させる(ステッ プS12)。具体的には、可視カメラ306によるパ ル認識マークの撮像結果と、IRカメラ307によ る部品認識マークの撮像結果とから、検査位 置データ441aに示される位置の1つにおける部 の所定の実装位置からのずれ量(パネル認識 マーク及び部品認識マークの所定の位置関係 からのずれ量)を算出させる。
例えば、図7(a)に示されるような部品認識 マークが部品に形成され、図7(b)に示される うなパネル認識マークがパネルに形成され いる場合、IRカメラ307により図8に示される うな部品認識マーク601の画像が得られ、か 可視カメラ306により図9に示されるようなパ ル認識マーク600の画像が得られる。そして 両画像を重ね合わせ、図7(c)に示される位置 関係を基準として両マークのずれ量が算出さ れる。
次に、検査機105の制御部440は、通信I/F部4 44により、算出されたずれ量を検査位置デー 441aに示された実装位置に対応付けてライン コントローラ108に送信させる(ステップS13)。
次に、ラインコントローラ108の制御部410 、演算部415により、通信I/F部414を介して受 したずれ量に基づいて、記憶部431のマスタ ーブル411aを更新させる(ステップS14)。
次に、ラインコントローラ108の制御部410 、通信I/F部444により、更新されたマスタテ ブル411aをパネル実装機103aに送信させる(ス ップS15)。
次に、パネル実装機103aの制御部430は、通 信I/F部434を介して受信したマスタテーブル411 aに基づいて、記憶部431のフィードバックデ タ431aを更新する(ステップS16)。
最後に、パネル実装機103aの制御部430は、 NCデータを実行し、機構部435により部品をパ ルに実装させる(ステップS17)。実装に際し は更新されたフィードバックデータ431aを加 して実装位置が補正され、補正された実装 置に部品が実装される。
以上のように本実施の形態に係る検査機1 05によれば、図10に示されるように、ACF210の 電性粒子502を介さずに部品認識マーク501に 外光を照射し、部品認識マーク501を位置認 する。同様に、導電性粒子502を介さずにパ ル認識マーク500に可視光を照射し、パネル 識マーク500を位置認識する。従って、導電 粒子502の影響を受けることなくパネル認識 ーク500及び部品認識マーク501を位置認識す ことができるので、ACF210を介してパネルに 装された部品のずれ量を検出することがで る。
これに対し、図11に示されるように、可 カメラ306及び可視光照明304のみを、実装済 ネル300に部品が実装されている側と反対側 実装済パネル300の裏面側に設け、実装済パ ル300の検査を行う場合、図12に示されるよう にパネル認識マーク600については良好な画像 、つまりマークの輪郭が明瞭でずれ量を検出 可能な画像を得ることができる。しかし、部 品認識マークについては、可視光が導電性粒 子502を透過することができないあるいは透過 し難いため、良好な画像を得ることができな い。
また、図13に示されるように、IRカメラ307 及び赤外光照明305のみを設け、IRカメラ307を 品がパネルに実装される側と反対側の部品 裏面側に配置し、さらに赤外光照明305を実 済パネル300に部品が実装されている側と反 側の実装済パネル300の裏面側に配置し、実 済パネル300の検査を行う場合、赤外光が導 性粒子502を透過することができないあるい 透過し難いため、パネル認識マーク及び部 認識マークのいずれについても良好な画像 得ることができない。例えば、パネル認識 ーク及び部品認識マークのいずれについて 図14に示されるようなマークの輪郭が不明 でずれ量を検出することができない画像し 得られない。
また、図15に示されるように、IRカメラ307 及び赤外光照明305のみを、部品裏面側に設け 、実装済パネル300の検査を行う場合、図16に されるように部品認識マーク601については 好な画像を得ることができる。しかし、パ ル認識マークについては、赤外光が導電性 子502を透過することができないあるいは透 し難いため、良好な画像を得ることができ い。
また、図17に示されるように、IRカメラ307 及び赤外光照明305のみを、実装済パネル300裏 面側に設け、実装済パネル300の検査を行う場 合、図18に示されるようにパネル認識マーク6 00については良好な画像を得ることができる しかし、部品認識マークについては、赤外 が導電性粒子502を透過することができない るいは透過し難いため、良好な画像を得る とができない。
また、図19に示されるように、IRカメラ307 及び赤外光照明305のみを設け、赤外光照明305 を部品がパネルに実装される側と反対側の部 品の裏面側に配置し、IRカメラ307を実装済パ ル300に部品が実装されている側と反対側の 装済パネル300の裏面側に配置し、実装済パ ル300の検査を行う場合、赤外光が導電性粒 502を透過することができないあるいは透過 難いため、パネル認識マーク及び部品認識 ークのいずれについても良好な画像を得る とができない。例えば、パネル認識マーク び部品認識マークのいずれについても図20 示されるようなマークの輪郭が不明瞭でず 量を検出することができない画像しか得ら ない。
以上、本発明の検査装置及び検査方法に いて、実施の形態に基づいて説明したが、 発明は、この実施の形態に限定されるもの はない。本発明の要旨を逸脱しない範囲内 当業者が思いつく各種変形を施したものも 発明の範囲内に含まれる。
例えば、上記実施の形態において、ライ に検査機を設けるとした。しかし、パネル 装機に実装済パネルを検査する機能を持た てもよい。この場合、パネル実装機は、上 実施の形態の検査機と同様の位置関係で配 された可視光照明、赤外光照明、可視カメ 及びIRカメラを備える。
また、上記実施の形態において、部品認 マークは、部品がパネルに実装される側の 品の表面に形成されるとしたが部品がパネ に実装される側と反対側の部品の裏面に形 されてもよい。この場合、検査機において 赤外光照明を可視光照明に置き換え、IRカ ラを可視カメラに置き換えることができる
また、上記実施の形態において、部品認 マークを撮像するために検査機には赤外光 明及びIRカメラが設けられるとした。しか 、部品認識マークを撮像できる光つまり部 を透過し、かつACFに含まれる導電性粒子を 過しないあるいは透過し難い波長の光を発 る照明、及びその光を受光できるカメラで ればこれに限られない。
同様に、上記実施の形態において、パネ 認識マークを撮像するために検査機には可 光照明及び可視カメラが設けられるとした しかし、パネル認識マークを撮像できる光 まりパネルを透過し、かつACFに含まれる導 性粒子を透過しないあるいは透過し難い波 の光を発する照明、及びその光を受光でき カメラであればこれに限られない。
また、上記実施の形態において、パネル 面の電極部及び部品表面の電極部を接合す 部材としてACFを用いたが導電性粒子を含む 着部材であればこれに限られない。
また、上記実施の形態において、可視光 明、赤外光照明、可視カメラ及びIRカメラ 、同軸上に配置されるとした。しかし、可 光照明についてはパネル認識マークに可視 を照射でき、赤外光照明については部品認 マークに赤外光を照射でき、可視カメラに いてはパネル認識マークをその視野の範囲 に含むことができ、IRカメラについては部品 認識マークをその視野の範囲内に含むことが できればこれに限られない。
本発明は、検査装置及び検査方法に利用 き、特にパネルに部品を実装する部品実装 ステム等に利用することができる。
Next Patent: CHEMICAL DOSING DEVICE, RADIOGRAPHIC SYSTEM AND COMPUTER PROGRAM